一种小功率管开关时间测试系统的制作方法

1.本发明涉及一种小功率管开关时间测试系统。


背景技术：

2.晶体管开关时间是晶体管开关特性的一个极其重要的参数，大多数中功率大功率晶体管开关时间测试系统的主要测试回路是用来实现晶体管从截止态到饱和态再到截止态的一个开关过程，其测试脉冲通常在500ns到3到5倍的开关总时间最大可到几十微秒，测试脉冲上下沿要求在开关时间的三分之一以下即可。对测量回路，元器件选择上有一定要求，晶体管的测试较易完成，国内外具有现成的测试机或测试系统。小功率晶体管的开关时间测试国内也经常采用前述测试机或测试系统完成。但是我国各种电路中在用的元器件在对标时往往与美国军用标准对应，这时我们就发现有一部分小功率开关晶体管的测试原理图和前述测量原理图有本质上的区别，使用现有的测试机得出的测试结果不准确。


技术实现要素：

3.为解决上述技术问题，本发明提供了一种小功率管开关时间测试系统。
4.本发明通过以下技术方案得以实现。
5.本发明提供的一种小功率管开关时间测试系统；包括测试模块，测试模块输入端输入高精度电源ve和高精度信号源，测试模块的输出端与高速示波器连接，所述高精度信号源为脉冲信号。
6.所述测试模块包括被测试晶体管，被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源ve连接。
7.所述被测试晶体管的的集电极通过电阻rc与高精度电源ve连接并作为b
‑
信号输出端口与高速示波器连接。
8.所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极和电阻re连接，二极管的正极接地，电阻re另一极接高精度电源ve。
9.被测试晶体管的基极还与高速示波器连接，高速示波器测试被测晶体管的输入信号。
10.被测试晶体管的基极分别与电阻rb、电阻r1、电容c1连接，电容c1的另一端与高精度信号源连接并通过电阻r1接地。
11.本发明的有益效果在于：通过设计晶体管的测量回路和通用的高精度电源、高精度信号源、高速示波器连接，准确的测试出晶体管的开关时间波形图。
附图说明
12.图1是本发明的测试系统结构示意图；
13.图2是本发明的测试装置电路原理示意图；
14.图3是本发明的开关时间定义波形示意图；
具体实施方式
15.下面进一步描述本发明的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
16.一种小功率管开关时间测试系统；包括测试模块，测试模块输入端输入高精度电源ve和高精度信号源，测试模块的输出端与高速示波器连接，所述高精度信号源为脉冲信号。
17.所述测试模块包括被测试晶体管，被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源ve连接。
18.所述被测试晶体管的的集电极通过电阻rc与高精度电源ve连接并作为b
‑
信号输出端口与高速示波器连接。
19.所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极和电阻re连接，二极管的正极接地，电阻re另一极接高精度电源ve。
20.被测试晶体管的基极还与高速示波器连接，高速示波器测试被测晶体管的输入信号。
21.被测试晶体管的基极分别与电阻rb、电阻r1、电容c1连接，电容c1的另一端与高精度信号源连接并通过电阻r1接地。
22.本申请利用一些通用的高精度信号源、高精度电源、高速示波器仪器，并设计小型晶体管的测量回路，选择调整一些特性优异的元器件，最终实现在非完全截止态到饱和态再到截止态下，在一定的直流工作状态下叠加动态开关时间测试，同时测试脉冲宽度在15ns左右，测试结果开关时间20ns左右。
23.如图3，所示显示了晶体管从截止太到饱和太再到截止太的时间过程。


技术特征：
1.一种小功率管开关时间测试系统，其特征在于：包括测试模块，测试模块输入端输入高精度电源ve和高精度信号源，测试模块的输出端与高速示波器连接，所述高精度信号源为脉冲信号。2.如权利要求1所述的小功率管开关时间测试系统，其特征在于：所述测试模块包括被测试晶体管，被测试晶体管的基极、发射极、集电极分别与高精度电源ve连接。3.如权利要求2所述的小功率管开关时间测试系统，其特征在于：所述被测试晶体管的的集电极通过电阻rc与高精度电源ve连接并作为b
‑
信号输出端口与高速示波器连接。4.如权利要求2所述的小功率管开关时间测试系统，其特征在于：所述被测试晶体管的发射极与二极管的负极和电阻re连接，二极管的正极接地，电阻re另一极接高精度电源ve。5.如权利要求2所述的小功率管开关时间测试系统，其特征在于：被测试晶体管的基极还与高速示波器连接，高速示波器测试被测晶体管的输入信号。6.如权利要求2所述的小功率管开关时间测试系统，其特征在于：被测试晶体管的基极分别与电阻rb、电阻r1、电容c1连接，电容c1的另一端与高精度信号源连接并通过电阻r1接地。

技术总结
本发明提供的一种小功率管开关时间测试系统；包括测试模块，测试模块输入端输入高精度电源和高精度信号源，测试模块的输出端与高速示波器连接，所述高精度信号源为脉冲信号。本发明通过设计晶体管的测量回路和通用的高精度电源、高精度信号源、高速示波器连接，准确的测试出晶体管的开关时间波形图。的测试出晶体管的开关时间波形图。的测试出晶体管的开关时间波形图。


技术研发人员：许秀群 许云奕 朱以东 肖燕
受保护的技术使用者：中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）
技术研发日：2021.06.03
技术公布日：2021/10/11