一种多针PTC测试板及多针PTC测试耐压装置的制作方法

一种多针ptc测试板及多针ptc测试耐压装置
技术领域
1.本实用新型具体涉及一种多针ptc测试板及多针ptc测试耐压装置。


背景技术：

2.目前市场上ptc耐压测试，采用单触点(探针)表面测试，测试时，单探针接触ptc表面。由于ptc表面或者探针头存在脏污，使得探针与ptc的接触电阻增大。当施加高电压进行ptc的耐压测试时，探针与ptc的接触点的电流较大，如果存在接触电阻的话，ptc表面就容易电极烧毁形成黑点导致产品报废。在实际生产中，这种黑点的不良率在2％以上。


技术实现要素：

3.为了解决上述技术问题，本实用新型提出了一种多针ptc测试板及多针ptc测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的ptc表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上ptc耐压表面合格率。
4.为了达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：
5.一种多针ptc测试板，包括：测针板，所述测针板的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源，所述测针板的正面上设有若干组测针，每一组所述接入电源为至少两根并联电源，每一组所述测针为至少两个测针，每一组所述接入电源与其对应的每一组所述测针接触电连接。
6.本实用新型公开一种多针ptc测试板及多针ptc测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的ptc表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上ptc耐压表面合格率。
7.在上述技术方案的基础上，还可做如下改进：
8.本实用新型公开了一种多针ptc测试耐压装置，以上任一项所述的多针ptc测试板和多针ptc测试耐压组件，所述多针ptc测试板设置于所述多针ptc测试耐压组件上，用于对ptc片的耐压测试。
9.作为优选的方案，包括：上测针板和下测针板，ptc片设置于所述上测针板与所述下测针板之间，所述上测针板与所述下测针板相对应且相互配合。
10.作为优选的方案，所述上测针板上具有上测针板测针，所述下测针板上具有下测针板测针，所述上测针板测针能够与所述ptc片的正面接触，所述下测针板测针能够与所述ptc片的反面接触。
11.作为优选的方案，包括：框本体，所述框本体包括：框顶壁、框底壁和至少四根定位导柱，所述框顶壁通过所述定位导柱与所述框底壁连接构成框本体。
12.作为优选的方案，所述多针ptc测试耐压组件包括：上测针板置物台和下测针板置物台，所述上测针板设置于所述上测针板置物台上，所述下测针板设置于所述下测针板置物台上，所述上测针板置物台与所述下测针板置物台呈相对设置。
13.作为优选的方案，每一根所述定位导柱上设有上滑块和下滑块，所述上滑块与所
述上测针板置物台的侧外壁连接，所述下滑块与所述下测针板置物台的侧外壁连接。
14.作为优选的方案，所述下测针板置物台与所述下滑块之间至少设有两根限位条。
15.作为优选的方案，包括：驱动组件，所述驱动组件一端部穿设所述框顶壁并与所述上测针板置物台连接。
16.作为优选的方案，所述多针ptc测试耐压组件还包括：压缩弹性件，所述压缩弹性件设置于所述下滑块与所述框底壁之间的定位导柱上。
附图说明
17.图1为本实用新型实施例提供的一种多针ptc测试板的结构图；
18.图2为本实用新型实施例提供的一种多针ptc测试耐压装置的结构图。
19.其中：
20.1、测针板；2、并联的接入电源；3、测针；4、框顶壁，5、框底壁，6、定位导柱，7、上测针板置物台，8、下测针板置物台，9.上测针板，10.下测针板，11.上滑块，12.下滑块，13.限位条，14.驱动组件，15.压缩弹性件。
具体实施方式
21.下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施方式。
22.为了达到本实用新型的目的，如图1和2所示，一种多针ptc测试板，包括：测针板1，所述测针板1的反面可拆卸连接有若干组并联的接入电源2，所述测针板1的正面上设有若干组测针3，每一组所述接入电源为至少两根并联电源2，每一组所述测针3为至少两个测针3，每一组所述接入电源2与其对应的每一组所述测针3接触电连接。
23.本实用新型公开一种多针ptc测试板及多针ptc测试耐压装置，在耐压测试时，能够减少待测试的ptc表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上ptc耐压表面合格率。
24.本实用新型公开了一种多针ptc测试耐压装置，以上任一项所述的多针ptc测试板和多针ptc测试耐压组件，所述多针ptc测试板设置于所述多针ptc测试耐压组件上，用于对ptc片的耐压测试。
25.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试，能够减少待测试的ptc表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上ptc耐压表面合格率。
26.在一些实施例中，所述测针板1包括：上测针板9和下测针板10，ptc片(未示出)设置于所述上测针板9与所述下测针板10之间，所述上测针板9与所述下测针板10相对应且相互配合用于对所述ptc片(未示出)进行耐压测试。
27.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，所述上测针板9测针能够与所述ptc片(未示出)的正面接触进行测试，所述下测针板10测针能够与所述ptc片(未示出)的反面接触进行测试，便于对ptc片(未示出)进行耐压测试。
28.在一些实施例中，所述上测针板9上具有上测针板测针3，所述下测针板10上具有下测针板测针3，所述上测针板测针3能够与所述ptc片(未示出)的正面接触进行测试，所述下测针板测针3能够与所述ptc片(未示出)的反面接触进行测试。
29.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，所述上测针板测针3能够与所述ptc片
(未示出)的正面接触进行耐压测试，所述下测针板测针3能够与所述ptc片(未示出)的反面接触进行耐压测试，便于对ptc片进行耐压测试。
30.在一些实施例中，包括：框本体，所述框本体包括：框顶壁4、框底壁5和至少四根定位导柱6，所述框顶壁4通过所述定位导柱6与所述框底壁5连接构成框本体。
31.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
32.在一些实施例中，所述多针ptc测试耐压组件包括：上测针板置物台7和下测针板置物台8，所述上测针板9设置于所述上测针板置物台7上，所述下测针板10设置于所述下测针板置物台8上，所述上测针板置物台7与所述下测针板置物台8呈相对设置。
33.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
34.在一些实施例中，每一根所述定位导柱6上设有上滑块11和下滑块12，所述上滑块11与所述上测针板置物台7的侧外壁连接，所述下滑块12与所述下测针板置物台8的侧外壁连接。
35.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
36.在一些实施例中，所述下测针板置物台8与所述下滑块12之间至少设有两根限位条13。
37.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
38.在一些实施例中，包括：驱动组件14，所述驱动组件14一端部穿设所述框顶壁4并与所述上测针板置物台7连接。
39.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
40.在一些实施例中，所述多针ptc测试耐压组件还包括：压缩弹性件15，所述压缩弹性件15设置于所述下滑块12与所述框底壁5之间的所述定位导柱6上。
41.采用上述实施例，其结构简单，操作方便，便于对ptc片进行耐压测试。
42.一种多针ptc测试耐压装置，所述驱动组件14优选气缸，气缸与上测针板置物台7连接，气缸电源被打开，气缸向着框底壁5运行，气缸驱动上测针板置物台7通过上滑块11向下滑动，直到上测针板置物台7滑动到限位条13的位置停止滑动，所述上测针板9设置于所述上测针板置物台7上，所述下测针板10设置于所述下测针板置物台8上，所述上测针板9和所述下测针板10之间设有ptc片，压缩弹性件15设置于下滑块12与框底壁5之间的定位导柱6上，下测针板10通过气缸14压力压制压缩弹性件15，使得压缩弹性件15具有气压，压缩弹性件15具有的气压作用于所述下测针板10，气缸具有的气压作用于所述上测针板9，使得所述上测针板9与所述下测针板10相对应且相互配合施加压力作用于ptc片的正反面，所述上测针板的测针与所述下测针板的测针分别ptc片正反面接触进行耐压测试；这样在耐压测试时，能够减少待测试的ptc表面触点发黑和烧电极等现象的出现，提高了10％以上ptc耐压表面合格率。
43.对于本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。