一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法与流程

专利2025-04-27  20


本发明涉及计量测试,更为具体来说,本发明涉及一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法。


背景技术:

1、开展高准确度、高灵敏度、宽质量数探测范围气体质谱仪研究,能够突破技术和产品的封锁,摆脱受制于人的现状,更好地满足对宽质量数探测范围气体质谱仪的迫切需求。对促进气体分压力质谱技术的发展,实现具有自主知识产权的气体质谱仪国产化具有革命性作用和划时代意义。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解,下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念,以此作为后面的详细说明的序言。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,该方法包括:

3、获取气体质谱仪校准的离子质量数m;

4、根据所述离子质量数m,确定所述气体质谱仪校准的最大离子流强度;

5、根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v;

6、根据所述交流电压v,反算所述气体质谱仪校准的校准后系数k1。

7、根据一种优选实施方式,所述获取气体质谱仪校准的离子质量数m,包括:

8、设置气体质谱仪校准的校准质量数范围和采样点数;

9、根据所述校准质量数范围和所述采样点数,获取所述气体质谱仪校准的离子质量数m。

10、根据一种优选实施方式,所述根据所述离子质量数m,确定所述气体质谱仪校准的最大离子流强度,包括:

11、根据所述离子质量数m,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度;

12、选取最大的所述有效离子流强度,确定为所述气体质谱仪校准的最大离子流强度。

13、根据一种优选实施方式,所述根据所述离子质量数m,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度,包括:

14、根据所述离子质量数m对其进行滤波,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度;

15、所述滤波的过程为对所述离子质量数m中的每1个采样点均采集10个所述离子流强度,去掉其中最大的所述离子流强度和最小的所述离子流强度,剩余所述离子流强度求平均值;所述平均值即为所述有效离子流强度。

16、根据一种优选实施方式,所述根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v,包括:

17、根据所述最大离子流强度,获取所述气体质谱仪校准的最大离子流强度对应离子质量数m1,所述离子质量数m包括所述最大离子流强度对应离子质量数m1;

18、根据所述最大离子流强度对应离子质量数m1,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v。

19、第二方面,本申请实施例提供了一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的装置,该装置包括:

20、数据获取模块,用于获取气体质谱仪校准的离子质量数m;

21、确定模块,用于根据所述离子质量数m,确定所述气体质谱仪校准的最大离子流强度;

22、计算模块,用于根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v;

23、反算模块,用于根据所述交流电压v,反算所述气体质谱仪校准的校准后系数k1。

24、根据一种优选实施方式,所述数据获取模块,具体用于:

25、设置气体质谱仪校准的校准质量数范围和采样点数;

26、根据所述校准质量数范围和所述采样点数,获取所述气体质谱仪校准的离子质量数m。

27、根据一种优选实施方式,所述确定模块,具体用于:

28、根据所述离子质量数m,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度;

29、选取最大的所述有效离子流强度,确定为所述气体质谱仪校准的最大离子流强度。

30、第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,计算机存储介质存储有多条指令,指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。

31、第四方面,本申请实施例提供一种终端,可包括:处理器和存储器;其中,存储器存储有计算机程序,计算机程序适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。

32、本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:

33、在本申请实施例中,所述利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,首先获取气体质谱仪校准的离子质量数m;然后根据所述离子质量数m,确定所述气体质谱仪校准的最大离子流强度;其次根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v;最后根据所述交流电压v,反算所述气体质谱仪校准的校准后系数k1。本申请通过对最大离子流强度对应离子质量数的交流电压计算系数的校准,达到了对四极型气体质谱仪校准的目的,实现了四极型质谱仪精准的检测分析。

34、在本申请实施例中,所述利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,首先设置气体质谱仪校准的校准质量数范围和采样点数;根据所述校准质量数范围和所述采样点数,获取所述气体质谱仪校准的离子质量数m。然后根据所述离子质量数m,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度;选取最大的所述有效离子流强度,确定为所述气体质谱仪校准的最大离子流强度。最后根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v;根据所述交流电压v,反算所述气体质谱仪校准的校准后系数k1。本申请通过扫描峰位值来对四极型气体质谱仪进行校准,可以有效的提高四极型气体质谱仪各质量段(即各校准质量数范围)的计算系数k值精度,使其能够准确的计算离子交流电压,从而精确的计算出该离子质量数对应的离子流强度,实现四极型质谱仪的准确测量。

35、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本发明。



技术特征:

1.一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,其特征在于,所述获取气体质谱仪校准的离子质量数m,包括:

3.根据权利要求1所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,其特征在于,所述根据所述离子质量数m,确定所述气体质谱仪校准的最大离子流强度,包括:

4.根据权利要求3所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,其特征在于,所述根据所述离子质量数m,得到所述气体质谱仪校准的有效离子流强度,包括:

5.根据权利要求1所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法,其特征在于,所述根据所述最大离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压v,包括:

6.一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的装置,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的装置,其特征在于,所述数据获取模块,具体用于:

8.根据权利要求6所述的利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的装置,其特征在于,所述确定模块,具体用于:

9.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1-5任意一项的方法步骤。

10.一种终端,其特征在于,包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1-5任意一项的方法步骤。


技术总结
本申请涉及一种利用扫描峰位值对四极型气体质谱仪进行校准的方法。其中,所述方法包括:获取气体质谱仪校准的离子质量数;根据所述离子质量数,确定所述气体质谱仪校准的离子流强度;根据所述离子流强度,计算所述气体质谱仪校准的交流电压;根据所述交流电压,反算所述气体质谱仪校准的校准后系数。本申请通过对离子流强度对应质量数的交流电压计算系数的校准,达到了对四极型气体质谱仪校准的目的,实现了四极型质谱仪精准的检测分析。

技术研发人员:石毅杰,金田,王国昱,夏加高,赵彦荣,王星辉,张晓金,许康亮,宋微微,权昕,高家祺,唐文华,王伟文,陈启明,赵会强,梁绪
受保护的技术使用者:兰州空间技术物理研究所
技术研发日:
技术公布日:2024/6/26
转载请注明原文地址:https://doc.8miu.com/index.php/read-1819231.html

最新回复(0)