垂直NAND闪存装置的制作方法

专利2025-06-09  19


公开涉及垂直nand闪存装置。


背景技术:

1、随着相关领域的硬盘已经由固态驱动器(ssd)取代,作为非易失性存储器装置的nand闪存装置已经变得广泛商业化。最近,根据小型化和高集成度,在其中多个存储器单元在与基底垂直的方向上堆叠的垂直nand闪存装置已被开发。

2、在垂直nand闪存装置中,存储器单元之间的横向电荷扩散(lateral chargespreading)可由于堆叠级的数量的增大和存储器单元的高度的减小而发生,并且这样的横向电荷扩散可劣化存储器单元的电荷保持。


技术实现思路

1、提供了垂直nand闪存装置。

2、附加的方面将在下面的描述中部分地阐述,并且部分地根据该描述将是清楚的,或者可通过公开的呈现的实施例的实践而习得。

3、根据示例实施例,一种垂直nand闪存装置可包括:多个单元阵列。所述多个单元阵列中的每个可包括:沟道层;电荷捕获层,在沟道层上;以及多个栅电极,在电荷捕获层上。电荷捕获层可包括包含金属的氮氧化硅。金属可包括ga或in中的至少一者。

4、在一些实施例中,电荷捕获层中的金属的联系可以是约0.5at%至约20at%。电荷捕获层中的金属的含量可以是约8at%至约16at%。

5、在一些实施例中,金属和硅可被均匀地分布在电荷捕获层中,或者金属和硅可以以逐层结构被分布在电荷捕获层中。

6、在一些实施例中,所述垂直nand闪存装置还可包括基底。所述多个单元阵列中的每个可垂直地在基底上。

7、在一些实施例中,沟道层的内部可包括在与基底垂直的方向上延伸的沟道孔。

8、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,沟道孔可填充有填充绝缘层。

9、在一些实施例中,沟道层和电荷捕获层可各自具有圆柱形形状并且可围绕沟道孔。

10、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,隧穿势垒层可在沟道层与电荷捕获层之间。

11、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,所述多个栅电极可在与基底垂直的方向上彼此间隔开,并且所述多个栅电极中的每个可围绕电荷捕获层。

12、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,阻挡绝缘层可在电荷捕获层与所述多个栅电极中的每个之间。

13、在一些实施例中:一种电子装置可包括上述垂直nand闪存装置。

14、根据示例实施例,一种垂直nand闪存装置包括:多个单元阵列。所述多个单元阵列中的每个包括:沟道层;电荷捕获层,在沟道层上;以及多个栅电极,在电荷捕获层上。电荷捕获层可包括包含金属的氮化硅,以及设置在电荷捕获层上的多个栅电极,并且金属可包括ga或in中的至少一者。

15、在一些实施例中,电荷捕获层中的金属的含量可以是约0.5at%至约20at%。

16、在一些实施例中,金属和硅可被均匀地分布在电荷捕获层中,或者金属和硅可以以逐层结构被分布在电荷捕获层中。

17、在一些实施例中,垂直nand闪存装置还可包括基底。所述多个单元阵列中的每个可垂直地在基底上。

18、在一些实施例中,沟道层的内部可包括在与基底垂直的方向上延伸的沟道孔。沟道层和电荷捕获层可各自具有圆柱形形状并且可围绕沟道孔。

19、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,隧穿势垒层可在沟道层与电荷捕获层之间,并且阻挡绝缘层可在电荷捕获层与所述多个栅电极中的每个之间。

20、在一些实施例中,在所述多个单元阵列中的每个中,多个栅电极可在与基底垂直的方向上被设置为彼此间隔开,并且所述多个栅电极中的每个可围绕电荷捕获层。



技术特征:

1.一种垂直nand闪存装置,包括:

2.根据权利要求1所述的垂直nand闪存装置,其中,电荷捕获层中的金属的含量是0.5at%至20at%。

3.根据权利要求2所述的垂直nand闪存装置,其中,电荷捕获层中的金属的含量是8at%至16at%。

4.根据权利要求1所述的垂直nand闪存装置,其中,

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的垂直nand闪存装置,还包括:

6.根据权利要求5所述的垂直nand闪存装置,其中,

7.根据权利要求6所述的垂直nand闪存装置,其中,

8.根据权利要求6所述的垂直nand闪存装置,其中,

9.根据权利要求8所述的垂直nand闪存装置,其中,

10.根据权利要求9所述的垂直nand闪存装置,其中,

11.根据权利要求10所述的垂直nand闪存装置,其中,

12.一种电子装置,包括:

13.一种垂直nand闪存装置,包括:

14.根据权利要求13所述的垂直nand闪存装置,其中,电荷捕获层中的金属的含量是0.5at%至20at%。

15.根据权利要求13所述的垂直nand闪存装置,其中,

16.根据权利要求13至15中的任意一项所述的垂直nand闪存装置,还包括:

17.根据权利要求16所述的垂直nand闪存装置,其中,

18.根据权利要求17所述的垂直nand闪存装置,其中,

19.根据权利要求17所述的垂直nand闪存装置,其中,


技术总结
提供了垂直NAND闪存装置。所述垂直NAND闪存装置可包括:多个单元阵列。所述多个单元阵列中的每个可包括:沟道层;电荷捕获层,在沟道层上;以及多个栅电极,在电荷捕获层上。电荷捕获层可包括包含金属的氮氧化硅。金属可包括Ga和In中的至少一者。

技术研发人员:金庆勳,金宣浩,金世润,金贤庆,杨承烈,延国贤,李珉贤,崔硕训,许浩硕
受保护的技术使用者:三星电子株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/6/26
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