本发明构思涉及一种图像传感器，并且更具体地，涉及一种具有用于控制用于模数转换的计数器的测试操作的测试电路的图像传感器。
背景技术：
1、图像传感器可以包括用于将被检测为模拟信号的图像信号转换为数字信号的模数转换器(adc)。图像传感器的像素阵列可以包括以二维矩阵布置的多个像素，并且每个像素可以从光能输出图像信号。像素中的每一个可以集成与通过光电二极管入射的光的量相对应的光电荷，并且可以根据集成的光电荷输出模拟像素信号。像素信号可以由adc转换成数字信号。
2、adc可以包括比较器和计数器，比较器将与像素阵列的每列相对应的图像信号与斜坡信号进行比较，计数器通过根据比较器的比较结果执行计数操作来产生计数结果值或计数码。计数器的计数码可以响应于列解码器的列选择信号而作为数字信号的像素信号被输出，并且可以最终作为图像数据被输出到外部。为了实现清晰的图像数据，可能需要用于测试图像传感器中的计数器的计数操作是否正常执行的方法。
技术实现思路
1、本发明构思提供了一种图像传感器，当对该图像传感器执行测试时，该图像传感器能够检测计数器的计数操作中的错误。
2、本发明构思的技术问题不限于上述技术问题，并且本领域技术人员将从下面的描述清楚地理解未提及的其它技术问题。
3、根据本发明构思的一方面，提供了一种图像传感器，该图像传感器包括：像素阵列，其包括多个像素，其中，多个像素中的每一个被配置为响应于入射光而产生模拟信号；模数转换器，其包括计数器，其中，模数转换器被配置为将模拟信号转换为数字信号；以及测试电路，其被配置为根据水平时间段改变复位码，其中，复位码与根据计数时钟信号的在测试模式的复位时间段期间的第一计数值相对应，并且其中，测试电路被配置为基于根据水平时间段改变的复位码来测试计数器的计数操作。
4、根据本发明构思的另一方面，提供了一种用于使用模数转换器中的计数器将在多个像素中的每一个中产生的模拟信号转换为数字信号的图像传感器的测试方法，该测试方法包括：基于响应于测试模式信号接收的测试码产生计数时钟信号；针对每个水平时间段改变复位码以输出不同的值，其中，复位码包括在测试模式的复位时间段中根据计数时钟信号的第一计数值；根据复位码对计数时钟信号进行计数；将第二计数值与测试码进行比较，其中，通过从图像码减去复位码来获得第二计数值，并且其中，图像码是在测试模式的信号时间段期间的计数值；以及通过测试端子输出第二计数值与测试码之间的比较结果。
5、根据本发明构思的另一方面，提供了一种用于图像传感器的计数器的测试电路，该测试电路包括：测试模式产生器，其被配置为当处于测试模式时从外部电路接收测试码；时钟控制器，其被配置为产生计数时钟信号，产生与测试模式相对应的计数使能信号，并且基于计数器改变复位码，其中，复位码是通过在计数使能信号的时间段中的复位时间段期间对计数时钟信号进行计数而获得的值；以及比较逻辑，其被配置为输出根据计数时钟信号的输出计数值与基于复位码的测试码之间的比较结果。
1.一种图像传感器，包括：
2.根据权利要求1所述的图像传感器，其中，所述测试电路被配置为：
3.根据权利要求2所述的图像传感器，其中，所述测试电路被配置为：
4.根据权利要求3所述的图像传感器，其中，所述测试电路被配置为通过在每个水平时间段对所述复位时间段的所述计数使能信号执行所述相移来逐渐增加或逐渐减少所述复位时间段的所述计数使能信号的时间长度。
5.根据权利要求2所述的图像传感器，其中，所述测试电路还包括复位测试块，
6.根据权利要求5所述的图像传感器，其中，所述复位测试模式产生器被配置为当所述复位码和所述随机码彼此相同时产生复位时钟保持信号，并且
7.根据权利要求6所述的图像传感器，其中，所述复位测试块被配置为当所述复位码和所述随机码彼此相同时，将所述复位时钟保持信号发送到所述测试电路的时钟控制器，
8.根据权利要求1所述的图像传感器，其中，所述测试模式包括所述复位时间段和信号时间段，
9.根据权利要求8所述的图像传感器，
10.一种用于使用模数转换器中的计数器将在多个像素中的每一个中产生的模拟信号转换为数字信号的图像传感器的测试方法，所述测试方法包括：
11.根据权利要求10所述的测试方法，其中，产生所述计数时钟信号包括：
12.根据权利要求11所述的测试方法，其中，改变所述复位码包括：
13.根据权利要求12所述的测试方法，其中，改变所述复位时间段的所述计数使能信号包括：
14.根据权利要求11所述的测试方法，还包括：
15.根据权利要求14所述的测试方法，其中，改变所述复位码包括：
16.根据权利要求10所述的测试方法，其中，所述测试模式包括所述复位时间段和信号时间段，
17.根据权利要求16所述的测试方法，其中，所述水平时间段是用于在所述测试模式中针对所述模数转换器中包括的每个计数器的计数操作执行测试的时间段。
18.一种用于图像传感器的计数器的测试电路，所述测试电路包括：
19.根据权利要求18所述的测试电路，其中，所述时钟控制器被配置为：
20.根据权利要求18所述的测试电路，还包括复位测试块，
