一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置

专利2025-12-19  12


本技术涉及电化学测量,特别提供一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置。


背景技术:

1、电化学测量具有灵敏、高效等优点,但加工成电化学测量的工作电极一般需要封装、抛磨等加工处理。对于一些表面有涂层的电极而言,通常需要采用蜡封或速干胶密封,将非工作面(未涂装区域)隔离绝缘处理,防止在电化学测试过程中出现泄漏、导通,影响测量结果。封装处理较为繁琐,精度也很难保证,而且特别容易出现电化学测试过程中泄漏的问题。此外,现场操作过程中表面有涂层的电极,常常存在不方便封装的现象,现有技术在这种情况下无法应用于此类电化学测量中。


技术实现思路

1、本实用新型的目的是:提供一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置。

2、为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

3、一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,电化学测量装置包括工作池和盐桥,其中工作池侧壁上设置有凸嘴,凸嘴上开有凹槽,凹槽内置有密封胶圈,工作电极与密封胶圈接触,l型支架连接在工作池底部,固定螺栓旋入l型支架,抵住工作电极背面将工作电极与密封胶圈固定;盐桥插入工作池溶液内,盐桥尖端靠近且不接触工作电极,参比电极插入盐桥内饱和kcl溶液中;对电极安装于工作池溶液内且对电极正面与工作电极工作面相对。

4、进一步,所述密封胶圈为橡胶圈或聚四氟乙烯圈。

5、进一步,所述工作电极为有涂层的试片,所述参比电极为饱和甘汞电极,所述对电极为铂片。

6、进一步,盐桥内灌有饱和kcl溶液和琼脂混合形成的导电凝胶。

7、进一步,工作池中溶液为电解质溶液。

8、进一步,l型支架与工作池为同种材质,材质为玻璃。

9、进一步,盐桥与参比电极和对电极一起构成电化学测量的三电极体系,将三电极体系与电化学工作站连接后可进行电化学测试。

10、进一步,电解质溶液为3.5%nacl。

11、本实用新型的有益效果是:

12、1、本实用新型采用玻璃加工而成,所述测量装置测量的工作电极无需封装,采用螺栓及密封圈固定,直接安装即可测量。

13、2、本实用新型工作电极与溶液接触面积固定,不会影响测量精度,测量精度高。

14、3、本实用新型工作电极附近设计有盐桥,安装参比电极,与对电极一起,实现了电化学测量的三电极体系,其中盐桥与工作电极距离较近,满足了电位测量精度的要求。



技术特征:

1.一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:电化学测量装置包括工作池(6)和盐桥(4),其中工作池(6)侧壁上设置有凸嘴,凸嘴上开有凹槽,凹槽内置有密封胶圈(2),工作电极(1)与密封胶圈(2)接触,l型支架(8)连接在工作池(6)底部,固定螺栓(3)旋入l型支架(8),抵住工作电极(1)背面将工作电极(1)与密封胶圈(2)固定;盐桥(4)插入工作池(6)溶液内,盐桥(4)尖端靠近且不接触工作电极(1),参比电极(5)插入盐桥(4)内饱和kcl溶液中;对电极(7)安装于工作池(6)溶液内且对电极(7)正面与工作电极(1)工作面相对。

2.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:所述密封胶圈(2)为橡胶圈或聚四氟乙烯圈。

3.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:所述工作电极(1)为有涂层的试片,所述参比电极(5)为饱和甘汞电极,所述对电极(7)为铂片。

4.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:盐桥(4)内灌有饱和kcl溶液和琼脂混合形成的导电凝胶。

5.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:工作池(6)中溶液为电解质溶液。

6.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:l型支架(8)与工作池(6)为同种材质,材质为玻璃。

7.根据权利要求1所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:盐桥(4)与参比电极(5)和对电极(7)一起构成电化学测量的三电极体系,将三电极体系与电化学工作站连接后可进行电化学测试。

8.根据权利要求5所述应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,其特征在于:电解质溶液为3.5%nacl。


技术总结
本技术提供一种应用于表面有涂层电极的电化学测量装置,具体涉及电化学测量技术领域。电化学测量装置包括工作池和盐桥,其中工作池侧壁上设置有凸嘴,凸嘴上开有凹槽,凹槽内置有密封胶圈,工作电极与密封胶圈接触,L型支架连接在工作池底部,固定螺栓旋入L型支架,抵住工作电极背面将工作电极与密封胶圈固定;盐桥插入工作池溶液内,盐桥尖端靠近且不接触工作电极,参比电极插入盐桥内;对电极安装于工作池溶液内且对电极正面与工作电极工作面相对。本技术采用玻璃加工而成,所述测量装置测量的工作电极无需封装,采用螺栓及密封圈固定,直接安装即可测量,实现了电化学测量的三电极体系,测量精度高。

技术研发人员:赵林,伍立坪,穆鑫,王长罡,董俊华
受保护的技术使用者:中国科学院金属研究所
技术研发日:20231122
技术公布日:2024/6/26
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