本发明属于半导体器件制造处理，具体涉及一种用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法。
背景技术：
1、半导体器件在现在社会中应用广泛，特别是功率半导体器件igbt，广泛用于汽车、能源、轨道交通中，使得功率半导体器件igbt的性能要求也越来越高，需求量也越来越高，高性能要求和高数量要求的半导体器件igbt生产，使得在功率半导体器件igbt在制造生产处理过程中的稳定性变得尤为重要。
2、而在现实情况中，实现同一功能的功率半导体器件igbt经常遇到多家厂商，甚至相同厂家生产制造的同型号功率半导体器件igbt性能稳定性残次不齐的问题。现已有大量关于半导体器件制造和处理稳定性的研究，如公告号为cn115708190a和cn1716520a的专利申请。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本发明提供了一种用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，解决了确保了功率半导体器件igbt性能稳定性，处理过程简单易操作。
2、本发明提供了一种用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，具体步骤为：
3、步骤1、抽样多个功率半导体器件igbt；获取每个功率半导体器件igbt的参数检测值；基于参数检测值获得功率半导体器件igbt的参数检测绝对距离数据集；并获取功率半导体器件igbt的参数约束范围；
4、步骤2、处理步骤1的功率半导体器件igbt的参数检测差值数据集和参数约束范围，获得距离百分比数据集；
5、步骤3、处理距离百分比数据集获取距离百分比数据集的均值；
6、步骤4、处理距离百分比数据集的均值获得距离百分比标准差；
7、步骤5、处理距离百分比数据集的均值和距离百分比标准差，获取功率半导体器件igbt的单性能参数稳定性状态；
8、步骤6、处理功率半导体器件igbt的性能参数稳定性状态确定功率半导体器件igbt的稳定性。
9、可选地，功率半导体器件igbt的参数检测绝对距离的表达式为：
10、；
11、其中，表示第 i个功率半导体器件igbt的参数检测绝对距离，为参数检测值与标称值或检测均值的差值绝对值；表示第 i个功率半导体器件igbt的参数检测值， i=1,2,…, n， n表示功率半导体器件igbt的总数；表示标称值；表示检测均值。
12、可选地，功率半导体器件igbt的参数约束范围，表达式为：
13、
14、其中， l表示功率半导体器件igbt的参数约束范围； pmax表示标称最大值； pmin表示标称最小值； xmax表示参数检测最大值； xmin表示参数检测最小值。
15、可选地，功率半导体器件igbt的参数检测差值占参数约束范围的百分数，表达式为：
16、
17、其中，表示第 i个功率半导体器件igbt的参数检测绝对距离占参数约束范围的百分数；
18、基于功率半导体器件igbt的参数检测差值占参数约束范围的百分数获得距离百分比数据集。
19、可选地，处理距离百分比数据集获取距离百分比数据集的均值的表达式为：
20、。
21、可选地，处理距离百分比数据集的均值和距离百分比标准差获取功率半导体器件igbt的单性能参数稳定性状态 ρ的表达式为：
22、；
23、其中，为距离百分比标准差。
24、可选地，还包括以下步骤：
25、获得功率半导体器件igbt的多个性能参数的稳定性状态；
26、基于性能参数权重获得多性能参数下的功率半导体器件igbt稳定性状态；
27、基于功率半导体器件igbt的多个能参数稳定性状态确定功率半导体器件igbt的稳定性。
28、与现有技术相比，本发明至少具有现如下有益效果：
29、（1）本发明的距离百分比数据集采用了性能参数检测值与标称值或均值的距离，使得获得功率半导体器件igbt稳定性状态时，不会出现无法获取状态值的情况，即均值为0，即便是极端情况下，出现了均值为0的情况，说明每个检测值相等且等于标称值或均值，仍然能够进行稳定性状态的获取和处理。增加了方法的准确性、稳定性和适用性。
30、（2）本发明的距离百分比数据集包含了检测均值、标称值、标称极值等相关信息，将用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的处理结果与其规格说明书中的规定指标值进行关联，能够将不同厂家、不同批次的同类型、同功能、同型号功率半导体器件igbt的性能稳定性的处理放到相对公平客观的同一评价标准下，给出更客观的评判结果。
31、（3）本发明的方法将距离百分比数据集的均值和距离百分比标准差关联，使得两种参数对处理功率半导体器件igbt性能稳定性时的影响同等化，避免了由于数量级差距导致用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性更依赖于距离百分比数据集的均值的情况。
32、（4）本发明的方法能够对多个不同生产厂商所生产的同种类、同功能、同型号的标称性能指标进行横向对比，从而为应用功率半导体器件igbt的企业提供快速的处理功率半导体器件igbt性能稳定性提供依据。
1.一种用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，具体步骤为：
2.根据权利要求1所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，功率半导体器件igbt的参数检测绝对距离的表达式为：
3.根据权利要求2所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，功率半导体器件igbt的参数约束范围，表达式为：
4.根据权利要求3所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，功率半导体器件igbt的参数检测差值占参数约束范围的百分数，表达式为：
5.根据权利要求4所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，处理距离百分比数据集，获取距离百分比数据集的均值的表达式为：
6.根据权利要求5所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，处理距离百分比数据集的均值和距离百分比标准差，获取功率半导体器件igbt的单性能参数稳定性状态ρ的表达式为：
7.根据权利要求1-6任一项所述的用于处理功率半导体器件igbt性能稳定性的方法，其特征在于，还包括以下步骤：
