本申请涉及雷达对抗技术领域，尤其涉及一种对sar的干扰效能评估方法及装置。
背景技术：
合成孔径雷达（syntheticapertureradar，以下简称sar）搭载在卫星、飞机、无人机等空中、空间平台，可工作在l、c、x、ku、ka、毫米波等多个无线电频段，能够全天时、全天候进行远距离高分辨率对地成像侦察，获取地面目标的相关信息。针对sar的侦察威胁，发射电磁信号对其进行干扰是常用的应对方法。从干扰信号样式上可分为非相干干扰、部分相干干扰和相干干扰，干扰效果在图像上的特征主要有干扰图像覆盖范围、干扰图像亮度及二者的分布特征等。干扰效能是衡量干扰有效性和干扰设备性能的重要指标。准确而客观的评估结果，对于干扰技术的应用与实施、干扰设备的性能及效能评价都具有十分重要的意义。
在实现现有技术的过程中，发明人发现存在以下技术问题：
针对目前主流的图像遮盖干扰，典型的评估指标有图像动态、图像熵、欧氏距离、相关系数、等效视数、灰度共生矩阵、结构相似度等，各个评估指标均具有不同的适用性。单个评估指标对于干扰效果的表达有限，仅能够反映干扰前后sar图像在亮度、对比度和结构性等某个方面上差别。另一种途径将评估指标计算与主观评估相结合，引入区域匹配度、纹理结构特性、人眼视觉系统、神经网络结构等辅助参数。以上评估方法，主要反映干扰图像层面干扰效果的差别，没有引入干扰系统功率需求等核心参数。如何在有效干扰和低辐射功率间取得设计折中是系统设计难点，也是对比评价不同干扰技术、不同干扰信号样式、不同系统的主要考虑。
因此，需要提供一种用于评价有效干扰与辐射功率的对sar的干扰效能评估的技术方案。
技术实现要素：
本申请实施例提供一种对sar的干扰效能评估的技术方案，通过结合有效干扰与辐射功率综合评估干扰技术对sar干扰时的干扰效能。
本申请提供的一种对sar的干扰效能评估方法，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；
获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率；
根据所述干扰图像覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；
提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；
比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
进一步的，在本申请提供的一种优选实施方式中，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述等效全向辐射功率与所述干扰图像覆盖面积的比值，得到干扰效能参数。
进一步的，在本申请提供的一种优选实施方式中，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述干扰图像覆盖面积与所述等效全向辐射功率的比值，得到干扰效能参数。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估方法，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；
获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；
获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；
获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估方法，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；
获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；
获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；
获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
进一步的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
进一步的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估装置，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，用于控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；还用于获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率；还用于提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；
处理模块，用于根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；还用于比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估装置，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，用于控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估装置，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值
本申请提供的实施例，至少具有以下技术效果：
通过综合评估目标sar与干扰源的相关参数，可以基于有效干扰与辐射功率有效评估对sar的干扰效能。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1为本申请实施例提供的一种对sar的干扰效能评估方法的流程图；
图2为本申请实施例提供的另一种对sar的干扰效能评估方法的流程图；
图3为本申请实施例提供的第三种对sar的干扰效能评估方法的流程图；
图4为本申请实施例提供的一种对sar的干扰效能评估装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参照图1，为本申请实施例提供的一种对sar的干扰效能评估方法，具体包括以下步骤：
s100：设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数。
可以理解的是，sar（syntheticapertureradar），即合成孔径雷达，是一种主动式的对地观测系统。本申请实施例提供了对干扰技术进行干扰性能评估的方法。在具体的实施过程中，可以先设置评估干扰效能时目标sar工作的基准参数。这里的基准参数可以是给定干扰图像亮度对应的等效后向散射系数。干扰图像亮度是干扰效果的核心指标。在合成孔径雷达及散射计等遥感器中，所观测的散射波的方向是入射方向，这个方向上的散射就称作后向散射。需要指出的是，在进行干扰效能评估时，设定目标sar的基准参数是为了让评估值产生于同一评测条件。显而易见的是，在评估干扰效能时，设定基准参数能让评估工作更加简单有序。
s200：控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰。
可以理解的是，在对待评估干扰源进行干扰效能评估时，需要先开启干扰源使之进入干扰模式。同时，需要调整干扰源和目标sar，使目标sar的工作参数调整到基准参数。此时目标sar的工作模式可以理解为基准参数模式。显而易见的是，目标sar被干扰源干扰后进入基准参数模式时，相应的数据采集准备工作就已经完成了，接下来就可以采集相关用于效能评估的数据。
s300：获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积。
可以理解的是，干扰图像覆盖面积是进行干扰效果评估时的另一个核心指标。在具体的实施过程中，可以在目标sar上设置干扰图像覆盖面积采集器，通过采集器实时采集干扰图像覆盖面积数据。在提取采集器采集到的干扰图像覆盖面积数据时，可以采用无线数据传输方式提取采集数据。还可以在采集器被回收到地面时，通过有线方式读取采集器中存储的相应的采集数据。显而易见的是，目标sar上的干扰图像覆盖面积ac可以设置一个最小有效干扰值acmin，ac需要不小于acmin。当干扰图像覆盖面积ac小于最小有效干扰值acmin时，可以直接判定干扰效果不符合要求。需要指出的是，通过采集器采集到的数据中，只有目标sar工作在基准参数模式时对应的干扰图像覆盖面积才是这里需要获取的干扰图像覆盖面积。
s400：获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率。
可以理解的是，干扰源中的干扰机等效全向辐射功率是评价干扰机性能和隐蔽性的核心指标。在具体的实施过程中，可以通过数据采集器采集待评估干扰源对目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率。需要指出的是，待测干扰源的等效全向辐射功率eirpj可以设置一个规定的最大值eirpjmax。当eirpj>eirpjmax时，可以直接判定干扰效能不符合要求。显而易见的是，通过数据采集器采集的数据中，只有目标sar工作在基准参数模式时对应的待评估干扰源的等效全向辐射功率才是这里需要获取的等效全向辐射功率。
s500：根据所述干扰图像覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数。
可以理解的是，干扰图像覆盖面积的数据来源于目标sar，等效全向辐射功率的数据来源于干扰源。通过综合考虑干扰图像覆盖面积和等效全向辐射功率，同时运用相应的计算公式，可以得到关联目标sar和待测干扰源的干扰效能参数。
具体的，在本申请提供的一种优选实施方式中，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述等效全向辐射功率与所述干扰图像覆盖面积的比值，得到干扰效能参数。
可以理解的是，干扰效能参数能够有效关联目标sar和待测干扰源，是评价干扰源干扰效能的关键。在具体的实施过程中，可以假设获取到待测干扰源的等效全向辐射功率为eirpj，获取到目标sar上的干扰图像覆盖面积为ac，计算得到的干扰效能参数为r。根据公式r=eirpj/ac，可以计算得到干扰效能参数r。例如，获取到等效全向辐射功率eirpj为100w，目标sar的干扰图像覆盖面积ac为10000m2，则根据公式r=eirpj/ac可以得到r=0.01w/m2。显而易见的是，这里待测干扰源的等效全向辐射功率eirpj和目标sar上的干扰图像覆盖面积ac的值只是为了计算方便而假设的一种理论值。在实际的实施过程中，等效全向辐射功率eirpj和干扰图像覆盖面积ac的值会随着待测干扰源和目标sar的不同而有所区别。
具体的，在本申请提供的一种优选实施方式中，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述干扰图像覆盖面积与所述等效全向辐射功率的比值，得到干扰效能参数。
可以理解的是，根据实际的需要，干扰效能参数可以有多种计算方法。在具体的实施过程中，假设获取到待测干扰源的等效全向辐射功率为eirpj，获取到目标sar的干扰图像覆盖面积为ac，计算得到待测干扰源的干扰效能参数为r。根据公式r=ac/eirpj，可以计算得到干扰效能参数r。例如，获取到等效全向辐射功率为eirpj=100w，目标sar的干扰图像覆盖面积为ac=10000m2，则根据公式r=ac/eirpj可以得到r=100m2/w。显而易见的是，这里的等效全向辐射功率eirpj和干扰图像覆盖面积ac的值只是为了计算方便而假设的一种理论值。在实际的实施过程中，等效全向辐射功率eirpj和干扰图像覆盖面积ac的值会随着待测干扰源和目标sar的不同而有所区别。
s600：提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值。
可以理解的是，阈值又叫临界值，是指一个效应能够产生的最低值或最高值。干扰评估阈值可以用作比对干扰效能的参考值。在具体的实施过程中，在进行干扰评估阈值的提取时，需要控制目标sar工作在基准参数模式。显而易见的是，目标sar上的干扰图像覆盖面积ac可以设置一个最小有效干扰值acmin，待测干扰源的等效全向辐射功率eirpj可以设置一个规定的最大值eirpjmax。具体的，假设最小有效干扰值acmin为10000m2，规定的最大值eirpjmax为2000w。在用到计算公式r=eirpj/ac计算阈值时，可以得到干扰效能参数rea=0.2w/m2。在用到计算公式r=ac/eirpj计算阈值时，可以得到干扰效能参数rae=5m2/w。显而易见的是，计算出的干扰评估阈值可以为后续干扰效能的评估提供有效参考。
s700：比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
可以理解的是，通过综合评估目标sar和待测干扰源上的相关性能指标，可以直观揭示待测干扰源对sar的干扰效果和待测干扰源辐射功率需求的关系。在一种具体的实施过程中，假设根据公式r=eirpj/ac，得到干扰效能参数r=0.1w/m2，得到干扰评估阈值rea=0.2w/m2。比较r与rea，rea-r=0.1w/m2，得到干扰效果评估值为0.1w/m2。需要指出的是，此时r值越小，干扰效能越好。显而易见的是，干扰效能参数r=0.1w/m2时，对sar的干扰效能符合要求。在另一种具体的实施过程中，假设根据公式r=ac/eirpj，得到干扰效能参数r=10m2/w，得到干扰评估阈值rae=5m2/w。比较r与rae，r-rae=5m2/w，得到干扰效果评估值为5m2/w。需要指出的是，此时r值越大，干扰效能越好。显而易见的是，干扰效能参数r=10m2/w时，对sar的干扰效能符合要求。需要指出的是，干扰效果评估值可为系统设计提供直接参考，为评价干扰系统提供简洁明晰的对比结果。
请参照图2，为本申请提供的另一种对sar的干扰效能评估方法，包括：
s110：设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数。
需要指出的是，步骤s110与步骤s100相同，前面已经对步骤s100做了详细说明，此处不再赘述。
s210：控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰。
可以理解的是，这里的第一待评估干扰源、第二待评估干扰源是分别控制的，在对目标sar进行干扰时有时间上的先后顺序。控制第一待评估干扰源进行干扰时，需要调整第一待评估干扰源和目标sar，使目标sar进入基准参数工作模式。显而易见的是，目标sar被第一待评估干扰源干扰后进入基准参数模式时，对应第一待评估干扰源的数据采集准备工作就已经完成了，接下来就可以采集相关用于效能评估的数据。控制第二待评估干扰源进行干扰时，需要调整第二待评估干扰源和目标sar，使目标sar进入基准参数工作模式。显而易见的是，目标sar被第二待评估干扰源干扰后进入基准参数模式时，对应第二待评估干扰源的数据采集准备工作就已经完成了，接下来就可以采集相关用于效能评估的数据。
s310：获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率。
s410：获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率。
可以理解的是，步骤s310、s410分别与步骤s400类似，这里需要将步骤s310中的第一待评估干扰源、s410中的第二待评估干扰源按照步骤s400中的方法分别执行，此处不再赘述。
s510：获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积。
s610：获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积。
可以理解的是，步骤s510、s610与步骤s300类似，这里需要将步骤s510、s610分别按照步骤s300执行，此处不再赘述。
s710：根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
具体的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
可以理解的是，干扰效能参数能够有效关联目标sar和待测干扰源，是评价干扰源干扰效能的关键。在具体的实施过程中，可以假设获取到的第一等效全向辐射功率为eirpj1，获取到的第一干扰图像覆盖面积为ac1，计算得到对应的干扰效能参数为r1。可以假设获取到的第二等效全向辐射功率为eirpj2，获取到的第二干扰图像覆盖面积为ac2，计算得到对应的干扰效能参数为r2。根据公式r=eirpj/ac，可以分别计算得到干扰效能参数r1、r2。例如，获取到第一等效全向辐射功率为eirpj1=100w，目标sar的第一干扰图像覆盖面积为ac1=10000m2，则根据公式r=eirpj/ac可以得到r1=0.01w/m2。获取到第二等效全向辐射功率为eirpj2=200w，目标sar的第二干扰图像覆盖面积为ac2=10000m2，则根据公式r=eirpj/ac可以得到r2=0.02w/m2。比较r1与r2，r1-r2=-0.01w/m2，得到干扰效果评估值为-0.01w/m2。需要指出的是，此时r值越小，干扰效能越好。显而易见的是，干扰效能参数r1=0.01w/m2时，对sar有更好的干扰效能。
具体的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
可以理解的是，干扰效能参数能够有效关联目标sar和待测干扰源，是评价干扰源干扰效能的关键。在具体的实施过程中，可以假设获取到的第一等效全向辐射功率为eirpj1，获取到的第一干扰图像覆盖面积为ac1，计算得到对应的干扰效能参数为r1。可以假设获取到的第二等效全向辐射功率为eirpj2，获取到的第二干扰图像覆盖面积为ac2，计算得到对应的干扰效能参数为r2。根据公式r=ac/eirpj，可以分别计算得到干扰效能参数r1、r2。例如，获取到第一等效全向辐射功率为eirpj1=100w，目标sar的第一干扰图像覆盖面积为ac1=10000m2，则根据公式r=ac/eirpj可以得到r1=100m2/w。获取到第二等效全向辐射功率为eirpj2=200w，目标sar的第二干扰图像覆盖面积为ac2=10000m2，则根据公式r=ac/eirpj可以得到r2=50m2/w。比较r1与r2，r1-r2=50m2/w，得到干扰效果评估值为50m2/w。需要指出的是，根据公式r=ac/eirpj，此时r值越大，干扰效能越好。显而易见的是，干扰效能参数r1为100m2/w时，对sar有更好的干扰效能。
请参照图3，为本申请提供的第三种对sar的干扰效能评估方法，包括：
s120：设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
s220：控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
s320：获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；
s420：获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；
s520：获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；
s620：获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
s720：根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
需要指出的是，待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对目标sar进行干扰时，相应的干扰效能也会存在不同。待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对目标sar进行的干扰时的干扰方法可以看成是不同的干扰技术。
步骤s120、步骤s220、步骤s320、步骤s420、步骤s520、步骤s620、步骤s720分别与步骤s110、步骤s210、步骤s310、步骤s410、步骤s510、步骤s610、步骤s710相同，前面已经分别对步骤s110、步骤s210、步骤s310、步骤s410、步骤s510、步骤s610、步骤s710做了说明，此处不再赘述。
具体的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
具体的，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
请参照图4，为本申请提供的一种对sar的干扰效能评估装置100，包括：
设置模块11，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块12，用于控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块13，用于获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；还用于获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率；还用于提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；
处理模块14，用于根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；还用于比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估装置，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，用于控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
本申请还提供一种对sar的干扰效能评估装置，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。
1.一种对sar的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；
获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率；
根据所述干扰图像覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；
提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；
比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述等效全向辐射功率与所述干扰图像覆盖面积的比值，得到干扰效能参数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数，具体包括：
计算所述干扰图像覆盖面积与所述等效全向辐射功率的比值，得到干扰效能参数。
4.一种对sar的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；
获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；
获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；
获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
5.一种对sar的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：
设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；
获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；
获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；
获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
6.根据权利要求4或5中任一项所述的方法，其特征在于，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
7.根据权利要求4或5中任一项所述的方法，其特征在于，根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值，具体包括：
计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；
计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；
比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。
8.一种对sar的干扰效能评估装置，其特征在于，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，用于控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述目标sar被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；还用于获取所述待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的等效全向辐射功率；还用于提取所述目标sar工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；
处理模块，用于根据所述干扰覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；还用于比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值。
9.一种对sar的干扰效能评估装置，其特征在于，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，用于控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述第一待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述第二待评估干扰源对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
10.一种对sar的干扰效能评估装置，其特征在于，包括：
设置模块，用于设定目标sar在用于评估干扰效能时的基准参数；
控制模块，控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标sar进行干扰；
信息获取模块，用于获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第一等效全向辐射功率；还用于获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标sar进行干扰时的第二等效全向辐射功率；还用于获取目标sar被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；还用于获取目标sar被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；
处理模块，用于根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值。
技术总结