本发明涉及主板测试领域，特别涉及一种ict测试设备。
背景技术：
现有的ict测试设备在换线时较为麻烦，需要将很多的排线从测试治具上一个一个的拔下，然后再将排线一个一个的插在更换后的测试治具上，需要较长的时间，更换效率低。
技术实现要素：
本发明解决的技术问题是提供一种能够快速更换测试治具、效率高、占地面积小的ict测试设备。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：ict测试设备，包括机架，所述机架上设置有第一测试机构和第二测试机构，所述第一测试机构和第二测试机构的一侧均设置有快换机构，所述第一测试机构包括第一测试治具上模和第一测试治具下模，所述第二测试机构包括第二测试治具上模和第二测试治具下模，所述机架上设置有第一传动机构、第二传动机构和第三传动机构，所述第一传动机构设置在第一测试治具上模和第一测试治具下模之间，所述第二传动机构设置在第一测试机构和第二测试机构之间，所述第三传动机构设置在第二测试治具上模和第二测试治具下模之间，所述第一测试机构和第二测试机构用于对主板的两个面进行测试，所述快换机构使得本测试设备能够快速更换测试治具，节约时间，提高更换治具的效率，所述第一测试治具上模和第一测试治具下模配合对主板进行性能测试，第一传动机构、第二传动机构和第三传动机构用于带动主板进行传动，所述主板为待测试的产品；
所述第一传动机构的下方设置有用于带动第一传动机构升降的第一升降机构，所述第二传动机构的下方设置有用于带动第二传动机构升降的第二升降机构，还包括用于控制ict测试设备的控制机构和设置在第一传动机构首端的扫码机构，所述第一测试机构、第二测试机构、快换机构、第一传动机构、第二传动机构、第三传动机构、第一升降机构、第二升降机构和扫码机构分别与控制机构电气连接，所述第一升降机构用于带动第一传动机构升降，从而将主板放置到第一测试治具下模上待测试，所述控制机构用于控制ict测试设备。
进一步的是：所述第一测试机构和第二测试机构结构相同。
进一步的是：所述第一测试治具上模和第一测试治具下模的一侧均设置有快换机构。
进一步的是：所述第一测试治具上模靠近快换机构的一侧设置有连接针，所述快换机构靠近第一测试治具上模的一侧上设置有第一连接孔，所述第一连接孔与连接针插拔连接，使得便于更换测试治具；
所述快换机构远离第一测试治具上模的一侧设置有用于与设备连接的第二连接孔。
进一步的是：所述第一测试治具上模和快换机构之间设置有真空吸附组件，所述真空吸附组件用于快速将第一测试治具上模和快换机构吸附到一起。
所述快换机构的两侧对称设置有用于推动快换机构的第一气缸，所述第一气缸与控制机构电气连接，所述第一气缸用于推动快换机构，使得第一测试治具下模和快换机构吸附到一起；
所述第一测试治具上模的边角处设置有定位孔，所述快换机构上与定位孔对应位置处设置有定位柱，所述定位柱与定位孔插拔连接，所述定位孔和定位柱配合对快换机构进行对位，防止快换机构在移动的过程中跑偏。
进一步的是：所述第一升降机构包括设置在机架上的第一连接板，所述第一传动机构设置在第一连接板上，所述第一连接板的下端对称设置有多个第一丝杆，各个所述第一丝杆连接有第一电机，所述第一连接板上设置有多个通孔，所述第一连接板的下端面上位于通孔处设置有旋转气缸，所述旋转气缸的驱动轴上设置有扣板，使得可以将主板扣住，其中一个所述通孔处设置有第三气缸，所述第三气缸的驱动轴上设置有拉板，所述第一电机与旋转气缸分别与控制机构电气连接，所述第一电机转动带动第一丝杆传动从而带动第一连接板上下移动进而带动主板向下移动到第一测试治具下模上。
进一步的是：所述机架上位于第一测试治具上模的上方设置有用于驱动第一测试治具上模上下移动的第二气缸，所述第二气缸与控制机构电气连接，所述第二气缸用于驱动第一测试治具上模上下移动，从而使得第一测试治具上模和第一测试治具下模接触或分离。
进一步的是：所述机架设置成两层，仪器仪表设置在上层，节省空间，降低成本。
本发明的有益效果是：本发明中的快换机构使得本测试设备能够快速更换测试治具，节约时间，提高更换治具的效率，所述机架设置成两层，仪器仪表设置在上层，节省空间，降低成本。
附图说明
图1为ict测试设备的主视图；
图2为ict测试设备的后视图；
图3为第一测试机构的结构示意图；
图4为第一升降机构的主视图；
图5为第一升降机构的俯视图；
图6为快换机构的结构示意图；
图中标记为：1、机架；2、第一测试机构；3、第二测试机构；4、快换机构；5、第一测试治具上模；6、第一测试治具下模；7、第一传动机构；8、第二传动机构；9、第三传动机构；10、第一升降机构；11、第二升降机构；12、第二气缸；41、第二连接孔；42、第一气缸；43、定位孔；44、定位柱；101、第一连接板；102、第一丝杆；103、第一电机；104、旋转气缸；105、扣板；106、第三气缸；107、拉板。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明进一步说明。
如图1所示的ict测试设备，包括机架1，所述机架1上设置有第一测试机构2和第二测试机构3，所述第一测试机构2和第二测试机构3的一侧均设置有快换机构4，所述第一测试机构2包括第一测试治具上模5和第一测试治具下模6，所述第二测试机构3包括第二测试治具上模和第二测试治具下模，所述机架1上设置有第一传动机构7、第二传动机构8和第三传动机构9，所述第一传动机构7设置在第一测试治具上模5和第一测试治具下模6之间，所述第二传动机构8设置在第一测试机构2和第二测试机构3之间，所述第三传动机构9设置在第二测试治具上模和第二测试治具下模之间，所述第一测试机构2和第二测试机构3用于对主板的两个面进行测试，所述快换机构4使得本测试设备能够快速更换测试治具，节约时间，提高更换治具的效率，所述第一测试治具上模5和第一测试治具下模6配合对主板进行性能测试，第一传动机构7、第二传动机构8和第三传动机构9用于带动主板进行传动，所述主板为待测试的产品；
所述第一传动机构7的下方设置有用于带动第一传动机构7升降的第一升降机构10，所述第二传动机构8的下方设置有用于带动第二传动机构8升降的第二升降机构11，还包括用于控制ict测试设备的控制机构和设置在第一传动机构7首端的扫码机构，所述第一测试机构2、第二测试机构3、快换机构4、第一传动机构7、第二传动机构8、第三传动机构9、第一升降机构10、第二升降机构11和扫码机构分别与控制机构电气连接，所述第一升降机构10用于带动第一传动机构7升降，从而将主板放置到第一测试治具下模6上待测试，所述控制机构用于控制ict测试设备，所述控制机构包括控制器。
在上述基础上，所述第一测试机构2和第二测试机构3结构相同。
在上述基础上，所述第一测试治具上模5和第一测试治具下模6的一侧均设置有快换机构4。
在上述基础上，所述第一测试治具上模5靠近快换机构4的一侧设置有连接针，所述快换机构4靠近第一测试治具上模5的一侧上设置有第一连接孔，所述第一连接孔与连接针插拔连接，使得便于更换测试治具；
所述快换机构4远离第一测试治具上模5的一侧设置有用于与设备连接的第二连接孔41。
在上述基础上，所述第一测试治具上模5和快换机构4之间设置有真空吸附组件，所述真空吸附组件用于快速将第一测试治具上模5和快换机构4吸附到一起。
所述快换机构4的两侧对称设置有用于推动快换机构4的第一气缸42，所述第一气缸42与控制机构电气连接，所述第一气缸42用于推动快换机构4，使得第一测试治具下模6和快换机构4吸附到一起；
所述第一测试治具上模5的边角处设置有定位孔43，所述快换机构4上与定位孔43对应位置处设置有定位柱44，所述定位柱44与定位孔43插拔连接，所述定位孔43和定位柱44配合对快换机构进行对位，防止快换机构在移动的过程中跑偏。
在上述基础上，所述第一升降机构10包括设置在机架1上的第一连接板101，所述第一传动机构7设置在第一连接板101上，所述第一连接板101的下端对称设置有多个第一丝杆102，各个所述第一丝杆102连接有第一电机103，所述第一连接板上设置有多个通孔，所述第一连接板的下端面上位于通孔处设置有旋转气缸104，所述旋转气缸104的驱动轴上设置有扣板105，使得可以将主板扣住，其中一个所述通孔处设置有第三气缸106，所述第三气缸106的驱动轴上设置有拉板107，所述第三气缸106用于驱动第三气缸106移动，从而将主板拉住，从而对主板进行定位，所述第一电机、旋转气缸104和第三气缸106分别与控制机构电气连接，所述第一电机103转动带动第一丝杆102传动从而带动第一连接板101上下移动进而带动主板向下移动到第一测试治具下模6上。
在上述基础上，所述机架1上位于第一测试治具上模5的上方设置有用于驱动第一测试治具上模5上下移动的第二气缸12，所述第二气缸12与控制机构电气连接，所述第二气缸12用于驱动第一测试治具上模5上下移动，从而使得第一测试治具上模5和第一测试治具下模6接触或分离。
在上述基础上，所述机架1设置成两层，仪器仪表设置在上层，节省空间，降低成本。
在上述基础上，首先将主板放置到第一传动机构7处，所述扫码机构进行扫码，所述第一传动机构7带动主板进行传动，然后所述第一测试机构2对主板的一面进行性能测试，测试完成后所述第二传动机构带动主板进行传动，传动到第三传动机构9上，所述第二测试机构3对主板的另一面进行测试，如此反复工作。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
1.ict测试设备，包括机架(1)，其特征在于：所述机架(1)上设置有第一测试机构(2)和第二测试机构(3)，所述第一测试机构(2)和第二测试机构(3)的一侧均设置有快换机构(4)，所述第一测试机构(2)包括第一测试治具上模(5)和第一测试治具下模(6)，所述第二测试机构(3)包括第二测试治具上模和第二测试治具下模，所述机架(1)上设置有第一传动机构(7)、第二传动机构(8)和第三传动机构(9)，所述第一传动机构(7)设置在第一测试治具上模(5)和第一测试治具下模(6)之间，所述第二传动机构(8)设置在第一测试机构(2)和第二测试机构(3)之间，所述第三传动机构(9)设置在第二测试治具上模和第二测试治具下模之间；
所述第一传动机构(7)的下方设置有用于带动第一传动机构(7)升降的第一升降机构(10)，所述第二传动机构(8)的下方设置有用于带动第二传动机构(8)升降的第二升降机构(11)，还包括用于控制ict测试设备的控制机构和设置在第一传动机构(7)首端的扫码机构，所述第一测试机构(2)、第二测试机构(3)、快换机构(4)、第一传动机构(7)、第二传动机构(8)、第三传动机构(9)、第一升降机构(10)、第二升降机构(11)和扫码机构分别与控制机构电气连接。
2.如权利要求1所述的ict测试设备，其特征在于：所述第一测试机构(2)和第二测试机构(3)结构相同。
3.如权利要求1所述的ict测试设备，其特征在于：所述第一测试治具上模(5)和第一测试治具下模(6)的一侧均设置有快换机构(4)。
4.如权利要求1所述的ict测试设备，其特征在于：所述第一测试治具上模(5)靠近快换机构(4)的一侧设置有连接针，所述快换机构(4)靠近第一测试治具上模(5)的一侧上设置有第一连接孔，所述连接针与第一连接孔插拔连接；
所述快换机构(4)远离第一测试治具上模(5)的一侧设置有用于与设备连接的第二连接孔(41)。
5.如权利要求4所述的ict测试设备，其特征在于：所述第一测试治具上模(5)和快换机构(4)之间设置有真空吸附组件；
所述快换机构(4)的两侧对称设置有用于推动快换机构(4)的第一气缸(42)，所述第一气缸(42)与控制机构电气连接；
所述第一测试治具上模(5)的边角处设置有定位孔(43)，所述快换机构(4)上与定位孔(43)对应位置处设置有定位柱(44)，所述定位柱(44)与定位孔(43)插拔连接。
6.如权利要求4所述的ict测试设备，其特征在于：所述第一升降机构(10)包括设置在机架(1)上的第一连接板(101)，所述第一传动机构(7)设置在第一连接板(101)上，所述第一连接板(101)的下端对称设置有多个第一丝杆(102)，各个所述第一丝杆(102)连接有第一电机(103)，所述第一连接板上设置有多个通孔，所述第一连接板的下端面上位于通孔处设置有旋转气缸(104)，所述旋转气缸(104)的驱动轴上设置有扣板(105)，使得可以将主板扣住，其中一个所述通孔处设置有第三气缸(106)，所述第三气缸(106)的驱动轴上设置有拉板(107)，所述第一电机、旋转气缸(104)和第三气缸(106)分别与控制机构电气连接。
7.如权利要求4所述的ict测试设备，其特征在于：所述机架(1)上位于第一测试治具上模(5)的上方设置有用于驱动第一测试治具上模(5)上下移动的第二气缸(12)，所述第二气缸(12)与控制机构电气连接。
8.如权利要求1所述的ict测试设备，其特征在于：所述机架(1)设置成两层，仪器仪表设置在上层。
技术总结