本发明涉及一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，属于面板加工技术领域。
背景技术：
目前，在透明面板加工过程中，透明面板上的瑕疵，例如玻璃面板上的划痕、崩边等，可能非常细微。不论质检员是面向光源还是背向光源，都只能从某一观察角度才能发现这些瑕疵，并且能发现每个瑕疵的观察角度也可能不同，这意味着检测工位上的观察角度与光源摆放都无法事先确定。
现有的自动化检测工位采取在不同观测角度上布设多个拍摄机位，或者在不同位置、不同方向上布设多个光源的方法，以提高遇到合适观察角度的概率。然而，这样的布设形式复杂，且不能顾及每一个可能的拍摄或照明角度，所以仍可能因角度不合适而造成漏检，导致不良品增多。
因此有必要设计一种新的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，以克服上述问题。
技术实现要素：
本发明的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，既能减少自动化检测工位上的拍摄机位与照明光源，又能提高检测的效率与稳定性；也可应用于人工检测工位以提高检测的效率与稳定性。
本发明是这样实现的：
本发明提供一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，包括以下步骤：
步骤一：相机面向待检测面板，调整相机与待检测面板之间的距离，调节相机焦距、光圈，使其成像清晰；
步骤二：将对置式照明光源置于待检测面板的正面和反面，并重叠放置，且对置式照明光源位于相机视野外；
步骤三：点亮对置式照明光源，一部分光线遇到面板时改变方向沿面板向四周传输，其它光线在对置式光源之间多次反射并最终改变方向沿面板向四周传输，光线会经面板内部传导至面板的每一处表面，但光线不能直接从光源射入相机；
步骤四：面板上的瑕疵被面板内部的光场照射，产生的散射光进入相机，形成对比度较高的影像，用于瑕疵检测。
优选的，所述对置式照明光源包括两个独立光源，两个独立光源的结构相同，且沿待检测面板对称设置。
优选的，所述独立光源包括壳体、反光涂层、密封胶条和多个发光二极管；所述壳体包括一凹槽，所述反光涂层铺设于所述凹槽的内壁，所述发光二极管安装于所述凹槽内，所述密封胶条设置于所述凹槽的外周侧。
优选的，多个所述发光二极管呈矩阵排列。
优选的，所述密封胶条部分位于所述壳体内，部分凸出于所述壳体的表面。
优选的，所述密封胶条端部到所述凹槽底部的垂直距离大于所述发光二极管端部到所述凹槽底部的垂直距离。
本发明具有以下有益效果：
本发明提供的一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，采用新型的对置式照明方式，能使光线射入透明面板，然后从透明面板内部照亮面板上的瑕疵；既能减少自动化检测工位上的拍摄机位与照明光源，又能提高检测的效率与稳定性；也可应用于人工检测工位以提高检测的效率与稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的对置式照明光源进行透明面板瑕疵检测的示意图；
图2为本发明实施例提供的对置式照明光源的独立光源的剖视图；
图3为本发明实施例提供的对置式照明光源的独立光源的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在本具体实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
在本具体实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本具体实施例中的具体含义。
如图1至图3，本发明提供一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，包括以下步骤：
步骤一：相机100面向待检测面板200（该面板200为透明面板，如玻璃、树脂玻璃等其它透明的、半透明的介质，能使得光线从内部传出），调整相机100与待检测面板200之间的距离，调节相机100焦距、光圈，使其成像清晰。
步骤二：将对置式照明光源300置于待检测面板200的正面和反面，并重叠放置，且对置式照明光源300位于相机100视野外。即，将对置式照明光源300重叠设置，分别置于待检测面板200的正面和反面，使得光源发出的光线能在对置式照明光源300之间来回反射。在本较佳实施例中，所述对置式照明光源300包括两个独立光源，两个独立光源的结构相同，且沿待检测面板200对称设置。对置式照明光源300应设置于相机100视野外，防止对置式照明光源300的光线射入到相机100镜头，从而影响检测精度。
步骤三：点亮对置式照明光源300，一部分光线遇到面板200时改变方向沿面板200向四周传输，其它光线在对置式光源之间多次反射并最终改变方向沿面板200向四周传输，光线会经面板200内部传导至面板200的每一处表面，但光线不能直接从光源射入相机100。具体的，对置式照明光源300发出的光线部分会之间进入面板200内部，然后沿面板200向四周发射，其他光线会在对置式光源之间发生多次反射和折射，最终仍旧是进入面板200内部并传导至面板200的所有表面。但是光线本身不会之间射入到相机100。
步骤四：待检测面板200上的瑕疵被面板200内部的光场照射，产生的散射光进入相机100，形成对比度较高的影像，用于瑕疵检测，检测较为方便、精准；面板200上的瑕疵很明显被显现出来，无需从特定角度观察即可判断瑕疵情况。
如图1至图3，优选的，所述独立光源包括壳体1、反光涂层2、密封胶条5和多个发光二极管3，还包括一电源线4，将发光二极管3与外部电源设备连接，从而能够提供电能。
如图1至图3，所述壳体1包括一凹槽（已图示，未标号），所述反光涂层2铺设于所述凹槽的内壁，所述发光二极管3安装于所述凹槽内，所述密封胶条5设置于所述凹槽的外周侧。所述凹槽的底部水平设置，反光涂层2设置于凹槽的底部和四周测，实现凹槽内壁全覆盖，用于提高反光效率。
如图1至图3，优选的，所述密封胶条5部分位于所述壳体1内，部分凸出于所述壳体1的表面；即所述密封胶条5固定于凹槽四周的壳体1内，同时还部分凸出于壳体1，高于凹槽所处的端面。所述密封胶条5端部到所述凹槽底部的垂直距离大于所述发光二极管3端部到所述凹槽底部的垂直距离，保证了使用的便捷性和密封的效果。在本较佳实施例中，多个所述发光二极管3呈矩阵排列。
如图1至图3，进行检测时，密封胶条5的端部紧贴在待测面板200上，密封胶条5为不透光的材料制成，发光二极管3的光线不会从密封胶条5透出。
如图1至图3，待检测面板200上侧放置的独立光源与下侧放置的独立光源呈对称设置；即上侧的独立光源的凹槽向下开口，下侧的独立光源的凹槽向上开口，从而使上侧的独立光源的发光二极管3与下侧的独立光源的发光二极管3将待检测面板200夹持在中间，两个独立光源形成的光线会射入面板200内部，面板200内部形成光场，故而使得面板200本身既是待检测对象，也是光的来源，面板200上的瑕疵就很明显的显现出来，无需从特定角度观察即可完成检测。
综上所述，本发明提供的一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，采用新型的对置式照明方式，能使光线射入透明面板，然后从透明面板内部照亮面板上的瑕疵；既能减少自动化检测工位上的拍摄机位与照明光源，又能提高检测的效率与稳定性；也可应用于人工检测工位以提高检测的效率与稳定性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
1.一种对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：相机面向待检测面板，调整相机与待检测面板之间的距离，调节相机焦距、光圈，使其成像清晰；
步骤二：将对置式照明光源置于待检测面板的正面和反面，并重叠放置，且对置式照明光源位于相机视野外；
步骤三：点亮对置式照明光源，一部分光线遇到面板时改变方向沿面板向四周传输，其它光线在对置式光源之间多次反射并最终改变方向沿面板向四周传输，光线会经面板内部传导至面板的每一处表面，但光线不能直接从光源射入相机；
步骤四：面板上的瑕疵被面板内部的光场照射，产生的散射光进入相机，形成对比度较高的影像，用于瑕疵检测。
2.如权利要求1所述的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于：所述对置式照明光源包括两个独立光源，两个独立光源的结构相同，且沿待检测面板对称设置。
3.如权利要求2所述的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于：所述独立光源包括壳体、反光涂层、密封胶条和多个发光二极管；所述壳体包括一凹槽，所述反光涂层铺设于所述凹槽的内壁，所述发光二极管安装于所述凹槽内，所述密封胶条设置于所述凹槽的外周侧。
4.如权利要求3所述的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于：多个所述发光二极管呈矩阵排列。
5.如权利要求3所述的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于：所述密封胶条部分位于所述壳体内，部分凸出于所述壳体的表面。
6.如权利要求5所述的对置式照明的透明面板瑕疵检测方法，其特征在于：所述密封胶条端部到所述凹槽底部的垂直距离大于所述发光二极管端部到所述凹槽底部的垂直距离。
技术总结