一种存储设备检测系统的制作方法

1.本发明涉及设备检测技术领域，尤其涉及一种存储设备检测系统。


背景技术：

2.存储设备是用于储存信息的设备，通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学等方式的媒体加以存储。
3.现代信息技术都是围绕着一个场效应晶体管而展开的，器件的制造工艺一般都包含几百步的工序，主要可以分为光刻、刻蚀、清洗、薄膜生长和离子注入等几大主要的工艺模块。同时由于器件尺寸的不断缩小，生产制造过程的任何微小的异常都可能使得芯片整个失效，所以在生产过程中往往会配置相当数量的检测设备来及时发现制造工艺中的问题。
4.现有技术中，在对存储设备进行检测时，需要人工进行逐个检测，无法在保证检测准确度的同时保证检测速度，因此降低了存储设备检测的效率。


技术实现要素：

5.为此，本发明提供一种存储设备检测系统，用以克服现有技术中无法在保证检测精度的同时保证检测速度导致的检测效率低的问题。
6.为实现上述目的，本发明提供一种存储设备检测系统，包括，
7.底座，其上方设置有传送带，所述底座的上表面对称设置有支柱，所述支柱的顶端与顶板连接，所述顶板的上表面设置有控制面板，所述控制面板包括显示屏和控制器，所述控制器用以控制检测过程，所述顶板上开设有检测孔，所述检测孔上表面的两侧均设置有检测器，所述检测器用以检测获取存储设备的图形信息，所述顶板上设置有下料管，所述下料管的顶端连接有下料斗，所述下料斗的底部设置有电子阀，所述电子阀用以控制存储设备进入所述下料管中；
8.第一凸轮，其通过旋转带动推块进行横向运动，所述第一凸轮与推块相接触，第二凸轮位于第二活动块的正下方，所述第二凸轮与所述第二活动块相接触；
9.下料板倾斜设置在横板的一侧，所述下料板的一端位于所述传送带的上方，所述横板上开设有矩形孔，所述矩形孔内活动设置有第一活动块，所述第二凸轮通过旋转带动所述第一活动块进行向上运动，所述横板远离所述第一活动块的一端内壁设置有重力传感器，所述重力传感器用以检测落在所述横板上的存储设备的重力；
10.在对存储设备进行检测时，所述控制器根据所述重力传感器检测到的存储设备的重力g控制所述推块的推进速度，同时，所述控制器根据存储设备的材料种类不同采取不同方式对所述推块的推进速度进行调整，所述控制器分别根据存储设备的体积c和所述第一活动块上表面的摩擦力f对推块的推进速度进行调节和修正，以得到推块精准的推进速度；
11.所述推块推进完成后，所述控制器控制所述检测器获取存储设备的图形信息，所述控制器根据获取的图形平均曲率n对存储设备的缺陷进行判定，并对无缺陷的存储设备
进行输出，存储设备存在缺陷时，所述控制器分别根据获取的图形局部特征和图形复杂度对存储设备进行缺陷位置判定。
12.进一步地，在对存储设备进行检测时，所述控制器控制所述第一凸轮进行旋转至完全露出所述下料管的下口，所述下料管的下口完全露出后，所述控制器控制所述电子阀打开，当任一存储设备从所述下料斗中漏下后关闭所述电子阀，所述控制器将检测得到的存储设备的重力g与预设存储设备重力g0进行比对，并根据比对结果控制所述推块进行推进，其中，
13.当g＜g0时，所述控制器控制所述推块以速度d1进行推进；
14.当g≥g0时，所述控制器控制所述推块以速度d2进行推进，设定d2＝d1
×
[1
‑
(g
‑
g0)/g0]；
[0015]
其中，d1为预设推块推进速度。
[0016]
进一步地，所述控制器在确定所述推块的推进速度后，所述控制器根据存储设备的材料种类对所述推块的推进速度di进行调整，设定i＝1,2，其中，
[0017]
当存储设备的材料种类为a1时，所述控制器根据所述存储设备的体积对推进速度di进行调整；
[0018]
当存储设备的材料种类为a2时，所述控制器根据所述第一活动块上表面的摩擦力对推进速度di进行调整；
[0019]
其中，a1为非金属材料，a2为金属材料。
[0020]
进一步地，当材料种类为a1时，所述控制器将存储设备的体积c与预设体积c0进行比对，并根据比对结果选取对应速度调节系数对推进速度di进行调节，其中，
[0021]
当所述控制器选取第j速度调节系数aj对di进行调节时，设定j＝1,2，调节后的推进速度为di’，设定di’＝di
×
aj，其中，
[0022]
当c＜c0时，所述控制器选取第一速度调节系数a1对di进行调节，并控制所述推块以速度di’进行推进，a1为预设值，0.8＜a1＜1；
[0023]
当c≥c0时，所述控制器选取第二速度调节系数a2对di进行调节，并控制所述推块以速度di’进行推进，设定a2＝a1
×
[1
‑
(c
‑
c0)/c0]。
[0024]
进一步地，当材料种类为a2时，所述控制器将所述第一活动块上表面的摩擦力f与预设摩擦力f0进行比对，并根据比对结果选取对应速度修正系数对推进速度di进行修正，其中，
[0025]
当所述控制器选取第j速度修正系数bj对di进行修正时，设定j＝1,2，修正后的推进速度为di”，设定di”＝di
×
bj，其中，
[0026]
当f＜f0时，所述控制器选取第一速度修正系数b1对di进行修正，并控制所述推块以速度di”进行推进，b1为预设值，1＜b1＜1.2；
[0027]
当f≥f0时，所述控制器选取第二速度修正系数b2对di进行修正，并控制所述推块以速度di”进行推进，设定b2＝b1
×
[1 (f
‑
f0)/f0]。
[0028]
进一步地，所述推块推进完成后，所述控制器控制所述第一活动块上升至所述第一活动块上表面与所述顶板上表面平齐，所述第一活动块上升完成后，所述控制器控制所述检测器对存储设备进行检测，在进行检测时，所述检测器扫描获取存储设备的图形信息，所述控制器将获取的图形平均曲率n与各预设平均曲率进行比对，并根据比对结果对存储
设备进行判定，其中，
[0029]
当n＜n1时，所述控制器判定存储设备的平均曲率低，存在缺陷，并进行局部特征判定；
[0030]
当n1≤n≤n2时，所述控制器判定存储设备无缺陷，并控制所述第一活动块下降至矩形孔处，使存储设备通过所述下料板移动至所述传送带上，并通过所述传送带进行输出；
[0031]
当n＞n2时，所述控制器判定存储设备的平均曲率高，存在缺陷，并进行图形复杂度判定；
[0032]
其中，n1为第一预设平均曲率，n2为第二预设平均曲率，n1＜n2。
[0033]
进一步地，所述控制器在进行局部特征判定时，所述控制器将获取的图形的局部特征与预设局部特征进行比对，所述控制器将局部特征存在差异的位置作为存储设备的缺陷位置，所述控制器控制所述控制屏对缺陷位置进行显示。
[0034]
进一步地，所述控制器在进行图形复杂度判定时，所述控制器将获取的图形复杂度与预设图形复杂度进行比对，所述控制器将图形复杂度存在差异的图形位置作为存储设备的缺陷位置，所述控制器控制所述控制屏对缺陷位置进行显示。
[0035]
进一步地，所述顶板的下表面连接有固定块，所述固定块上活动连接有活动杆，所述活动杆的一端连接所述推块，所述活动杆上套设有弹簧，所述弹簧的一端与所述推块连接，所述弹簧的另一端与所述固定块连接。
[0036]
进一步地，所述底座的上表面设置有竖板，所述竖板上转动连接有第二转轴，所述第二转轴的一端连接有第二锥齿轮，所述第二锥齿轮位于第一锥齿轮下方的一侧，且所述第二锥齿轮与所述第一锥齿轮啮合，所述第二转轴的另一端与第二凸轮连接，所述底座上设置有电机，所述电机的输出轴与所述第二转轴传动连接。
[0037]
与现有技术相比，本发明的有益效果在于，本发明所述检测系统设置有下料斗，下料斗可盛放若干存储设备，再通过电子阀控制每次下落存储设备的个数，可有效保证每次针对一个存储设备进行精确的检测，同时又避免逐个向系统中放入存储设备导致的检测速度缓慢，所述系统还设置有凸轮，通过凸轮转动可有效控制推块的移动和第一活动块的升降，在推块收缩时第一活动块上升，使存储设备的检测连贯起来，进而提高存储设备的检测效率，所述控制器根据所述重力传感器检测到的存储设备的重力g控制所述推块的推进速度，不同重力的物体受到推力时的惯性不同，通过检测存储设备的重力控制推块的推进速度，可有效保证存储设备的检测过程不被中断，从而进一步提高存储设备的检测效率，同时所述控制器根据存储设备的材料种类对所述推块的推进速度进行调整，非金属材料根据体积对推进速度进行调节，金属材料所述第一活动块上表面的摩擦力f对推进速度进行修正，通过对推进速度进行调节或修正可进一步保证推进速度的精确度，从而进一步提高存储设备的检测效率，所述推块推进完成后，所述控制器根据获取的图形平均曲率n对存储设备的缺陷进行判定，通过进行图形平均曲率n的比对，可有效保证检测的准确度，当不存在缺陷时，对存储设备进行输出，存在缺陷时再进一步根据图形局部特征或图形复杂度对存储设备进行缺陷位置进行判定，通过准确获取缺陷位置可有效保证检测的准确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
[0038]
尤其，所述控制器通过将检测得到的存储设备的重力g与预设存储设备重力g0进行比对控制所述推块进行推进，通过准确控制推进速度，进一步提高了存储设备的检测效
率。
[0039]
尤其，所述控制器根据存储设备的材料种类对所述推块的推进速度di进行调整，通过对不同材料的存储设备进行不同调整，可有效保证调整后推进速度的准确度，进一步提高了存储设备的检测效率。
[0040]
尤其，所述控制器通过将存储设备的体积c与预设体积c0进行比对选取对应速度调节系数对推进速度di进行调节，进一步保证了调节后推进速度的准确度，进一步提高了存储设备的检测效率。
[0041]
尤其，所述控制器通过将所述第一活动块上表面的摩擦力f与预设摩擦力f0进行比对选取对应速度修正系数对推进速度di进行修正，进一步保证了修正后推进速度的准确度，进一步提高了存储设备的检测效率。
[0042]
尤其，所述控制器通过将获取的图形平均曲率n与各预设平均曲率进行比对对存储设备进行判定，根据图形平均曲率n判定存储设备是否存在缺陷，可有效保证缺陷判断的精确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
[0043]
尤其，在进行局部特征判定时，所述控制器通过比对后将局部特征存在差异的位置作为存储设备的缺陷位置，可有效保证缺陷位置判定的准确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
[0044]
尤其，在进行图形复杂度判定时，所述控制器通过比对后将图形复杂度存在差异的位置作为存储设备的缺陷位置，可进一步保证缺陷位置判定的准确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
附图说明
[0045]
图1为本实施例存储设备检测系统的结构示意图；
[0046]
图2为本实施例的局部结构示意图；
[0047]
图3为本实施例的第一凸轮的俯视图。
具体实施方式
[0048]
为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。
[0049]
下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。
[0050]
需要说明的是，在本发明的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0051]
此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0052]
请参阅图1所示，其为本实施例存储设备检测系统的结构示意图，包括，
[0053]
底座1，其上方设置有传送带2，所述底座1的上表面对称设置有支柱3，所述支柱3的顶端与顶板4连接，所述顶板4的上表面设置有控制面板5，所述控制面板5包括显示屏和控制器，所述控制器用以控制检测过程，所述顶板4上开设有检测孔6，所述检测孔6上表面的两侧均设置有检测器7，所述检测器7用以检测获取存储设备的图形信息，所述顶板4上设置有下料管8，所述下料管8的顶端连接有下料斗，所述下料斗的底部设置有电子阀28，所述电子阀28用以控制存储设备进入所述下料管8中，所述顶板4的下表面连接有固定块9，所述固定块9上活动连接有活动杆10，所述活动杆10的一端连接有推块11，所述活动杆10上套设有弹簧12，所述弹簧12的一端与所述推块11连接，所述弹簧12的另一端与所述固定块9连接；
[0054]
所述底座1的上表面连接有第一l型杆13，所述第一l型杆13上转动连接有第一转轴14，所述第一转轴14的顶端连接有第一凸轮16，所述第一凸轮16通过旋转带动推块11进行横向运动，并通过所述弹簧12的弹力对所述推块11进行收缩，所述第一转轴14的底端连接有第一锥齿轮15；
[0055]
所述底座1的上表面设置有竖板17，所述竖板17上转动连接有第二转轴18，所述第二转轴18的一端连接有第二锥齿轮19，所述第二锥齿轮19位于所述第一锥齿轮15下方的一侧，且所述第二锥齿轮19与所述第一锥齿轮15啮合，所述第二转轴18的另一端与第二凸轮27连接，所述底座1上设置有电机20，所述电机20的输出轴与所述第二转轴18传动连接；
[0056]
所述第一凸轮16与推块11相接触，所述第二凸轮27位于第二活动块26的正下方，所述第二凸轮27与所述第二活动块26相接触；
[0057]
请参阅图2所示，所述竖板17的顶端连接有横板21，所述横板21的一端连接有下料板22，所述下料板22倾斜设置在所述横板21的一侧，所述下料板22的一端位于所述传送带2的上方，所述横板21上开设有矩形孔，所述矩形孔内活动设置有第一活动块23，所述第一活动块23位于所述检测孔6的正下方，所述第二凸轮27通过旋转带动所述第一活动块23进行向上运动，且所述第一活动块23通过重力向下运动，所述横板21远离所述第一活动块23的一端内壁设置有重力传感器29，所述重力传感器29用以检测落在所述横板21上的存储设备的重力，所述横板21的下表面连接有第二l型杆24，所述第二l型杆24上活动设置有推杆25，所述推杆25的顶端与所述第一活动块23连接，所述推杆25的底端与所述第二活动块26连接。
[0058]
可以理解的是，本发明未对所述检测器的种类做具体限定，只需满足对存储设备进行图形扫描即可，所述检测器包括但不限于扫描仪。
[0059]
具体而言，在对存储设备进行检测时，所述控制器控制所述第一凸轮进行旋转至完全露出所述下料管的下口，所述下料管的下口完全露出后，所述控制器控制所述电子阀打开，当任一存储设备从所述下料斗中漏下后关闭所述电子阀，所述控制器根据所述重力传感器检测到的存储设备的重力g控制所述推块的推进速度，所述控制器将检测得到的存储设备的重力g与预设存储设备重力g0进行比对，并根据比对结果控制所述推块进行推进，其中，
[0060]
当g＜g0时，所述控制器控制所述推块以速度d1进行推进；
[0061]
当g≥g0时，所述控制器控制所述推块以速度d2进行推进，设定d2＝d1
×
[1
‑
(g
‑
g0)/g0]；
[0062]
其中，d1为预设推块推进速度。
[0063]
具体而言，本实施例所述控制器通过将检测得到的存储设备的重力g与预设存储设备重力g0进行比对控制所述推块进行推进，通过准确控制推进速度，进一步提高了存储设备的检测效率。
[0064]
具体而言，所述控制器在确定所述推块的推进速度后，所述控制器根据存储设备的材料种类对所述推块的推进速度di进行调整，设定i＝1,2，其中，
[0065]
当存储设备的材料种类为a1时，所述控制器根据所述存储设备的体积对推进速度di进行调整；
[0066]
当存储设备的材料种类为a2时，所述控制器根据所述第一活动块上表面的摩擦力对推进速度di进行调整；
[0067]
其中，a1为非金属材料，a2为金属材料。
[0068]
具体而言，当材料种类为a1时，所述控制器将存储设备的体积c与预设体积c0进行比对，并根据比对结果选取对应速度调节系数对推进速度di进行调节，其中，
[0069]
当所述控制器选取第j速度调节系数aj对di进行调节时，设定j＝1,2，调节后的推进速度为di’，设定di’＝di
×
aj，其中，
[0070]
当c＜c0时，所述控制器选取第一速度调节系数a1对di进行调节，并控制所述推块以速度di’进行推进，a1为预设值，0.8＜a1＜1；
[0071]
当c≥c0时，所述控制器选取第二速度调节系数a2对di进行调节，并控制所述推块以速度di’进行推进，设定a2＝a1
×
[1
‑
(c
‑
c0)/c0]。
[0072]
具体而言，本实施例所述控制器通过将存储设备的体积c与预设体积c0进行比对选取对应速度调节系数对推进速度di进行调节，进一步保证了调节后推进速度的准确度，进一步提高了存储设备的检测效率。
[0073]
具体而言，当材料种类为a2时，所述控制器将所述第一活动块上表面的摩擦力f与预设摩擦力f0进行比对，并根据比对结果选取对应速度修正系数对推进速度di进行修正，其中，
[0074]
当所述控制器选取第j速度修正系数bj对di进行修正时，设定j＝1,2，修正后的推进速度为di”，设定di”＝di
×
bj，其中，
[0075]
当f＜f0时，所述控制器选取第一速度修正系数b1对di进行修正，并控制所述推块以速度di”进行推进，b1为预设值，1＜b1＜1.2；
[0076]
当f≥f0时，所述控制器选取第二速度修正系数b2对di进行修正，并控制所述推块以速度di”进行推进，设定b2＝b1
×
[1 (f
‑
f0)/f0]。
[0077]
具体而言，所述推块推进完成后，所述控制器控制所述第一活动块上升至所述第一活动块上表面与所述顶板上表面平齐，所述第一活动块上升完成后，所述控制器控制所述检测器对存储设备进行检测，在进行检测时，所述检测器扫描获取存储设备的图形信息，所述图形信息包括图形复杂度、图形的平均曲率和图形的局部特征，所述控制器将获取的图形平均曲率n与各预设平均曲率进行比对，并根据比对结果对存储设备进行判定，其中，
[0078]
当n＜n1时，所述控制器判定存储设备的平均曲率低，存在缺陷，并进行局部特征判定；
[0079]
当n1≤n≤n2时，所述控制器判定存储设备无缺陷，并控制所述第一活动块下降至矩形孔处，使存储设备通过所述下料板移动至所述传送带上，并通过所述传送带进行输出；
[0080]
当n＞n2时，所述控制器判定存储设备的平均曲率高，存在缺陷，并进行图形复杂度判定；
[0081]
其中，n1为第一预设平均曲率，n2为第二预设平均曲率，n1＜n2。
[0082]
具体而言，本实施例所述控制器通过将获取的图形平均曲率n与各预设平均曲率进行比对对存储设备进行判定，根据图形平均曲率n判定存储设备是否存在缺陷，可有效保证缺陷判断的精确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
[0083]
具体而言，所述控制器在进行局部特征判定时，所述控制器将获取的图形的局部特征与预设局部特征进行比对，所述控制器将局部特征存在差异的位置作为存储设备的缺陷位置，所述控制器控制所述控制屏对缺陷位置进行显示。
[0084]
具体而言，所述控制器在进行图形复杂度判定时，所述控制器将获取的图形复杂度与预设图形复杂度进行比对，所述控制器将图形复杂度存在差异的图形位置作为存储设备的缺陷位置，所述控制器控制所述控制屏对缺陷位置进行显示。
[0085]
具体而言，本实施例在进行图形复杂度判定时，所述控制器通过比对后将图形复杂度存在差异的位置作为存储设备的缺陷位置，可进一步保证缺陷位置判定的准确度，从而进一步提高存储设备的检测效率。
[0086]
至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。