一种基于“板-垒结构”纳米填料复合的介电薄膜的制作方法

专利2022-05-10  2


一种基于“板

垒结构”纳米填料复合的介电薄膜
技术领域
1.本发明属于介电电容器技术领域,具体涉及一种基于二维过渡金属碳化物(ti3c2)衍生的还原氧化石墨烯

二氧化钛复合填料的合成方法以及聚偏氟乙烯基介电薄膜的制备工艺。


背景技术:

2.聚合物材料具有优异的延展性、耐化学腐蚀性、加工性和击穿自愈性,成为绝佳的电介质候选材料,其中聚偏氟乙烯(pvdf)及其衍生物具有铁电特性,被广泛应用于能量脉冲系统和柔性储能器件。即便如此,pvdf单质的介电常数低于10,应用范围受到限制,满足不了高容量的使用需求。引入高电导率的第二相材料,如石墨烯,能够从增加极化界面的角度提升介电聚合物的介电储能性质。然而石墨烯具有较大的表面能而极易在聚合物基体中团聚,严重影响复合材料的介电性能。此外,碳材料与聚合物的相容性一般,随着掺杂量的增加,团聚在聚合物基体中的石墨烯会构成导电网络,进而明显增加复合材料的介电损耗。以往的方法将二氧化钛、二氧化硅等低导电氧化物包覆在石墨烯表面构成三明治夹层结构,能够异质导电网络的形成。但传统的方法具有低可控性,极易使产物团聚在二维材料表面,反而会加剧石墨烯的聚结。我们则利用形状匹配的基本思想,采用一种二维过渡金属碳化物(ti3c2)为钛的生长平台,能够更均匀地在还原氧化石墨烯(rgo)上生长二氧化钛(tio2)颗粒。实验证明,二氧化钛的生长是可控的。最终,我们成功构建还原氧化石墨烯与二氧化钛立方体交叠的板

垒结构,这种纳米复合填料能够大大提升聚偏氟乙烯基介电薄膜的介电常数,并缓解导电网络的形成,抑制介电损耗。


技术实现要素:

3.本发明的主要目的在于采用新型氧化方法在还原氧化石墨烯表面生长尺寸可控的二氧化钛颗粒,并构建了一种rgo

tio2的板

垒结构。该结构能够促进二氧化钛的分散并成功抑制石墨烯的直接堆叠团聚。并且以该复合材料为增强相制备的聚偏氟乙烯基复合介电薄膜具有优异的介电性能,能够将介电损耗保持在较低水平。
4.本发明的具体制备方法如下:
5.(1)将氧化石墨烯(片径10

50微米)、少层mxene(片径<3微米)按照5:4的质量比混合,加入到40ml水中,在高功率超声波发生器中超声分散30分钟,得到均匀的反应前体分散液;
6.(2)向步骤(1)中添加一定量的氟硼酸钠,并再次超声分散30分钟,溶解氟硼酸钠并进一步混合均匀;
7.(3)将步骤(2)的混合溶液转移到100ml的聚四氟乙烯反应釜中,确认完全密封后,在均相反应器中以180℃的高温环境下反应。反应结束后,自然冷却至室温;
8.(4)将固体产物及时用去离子水洗涤、分散,溶解剩余的氟硼酸钠,收集过滤物,在冷冻干燥条件下完全烘干,便得到复合纳米填料堆砌状还原氧化石墨烯

二氧化钛(rgo

tio2);
9.(5)取适量的rgo

tio2粉末充分分散在dmf溶液中,加入预设比例的聚偏氟乙烯粉末,使聚偏氟乙烯和dmf的比例为400:3(mg:ml),持续搅拌6小时,并不定时晃动使其初步溶解;
10.(6)待聚偏氟乙烯溶解完全,将其转移至80℃水浴中继续搅拌溶解1小时,得到均匀的复合分散胶液;
11.(7)取平整干净的钢化玻璃,将步骤(6)中的胶液均匀滴在玻璃基板上,立即用可调式刮膜器将胶液摊平,并将玻璃基板转移至60℃真空干燥箱内干燥12小时;
12.(8)将干燥后的聚合物基膜取出,将干燥箱继续升温至200℃,再次将聚合物基膜放入静置10分钟,随即迅速取出,置入准备好的冰水中退火,得到致密化处理的还原氧化石墨烯

二氧化钛/聚偏氟乙烯复合薄膜(记为rgo

tio2/pvdf)。
附图说明
13.图1分别为(a)rgo

tio2的sem图像;(b)rgo

tio2的tem图像;(c)rgo

tio2的hrtem图像;(d)添加不同浓度还原剂的rgo

tio2的xrd曲线对比(短划线后面的数字代表氟硼酸钠的浓度)。
14.图2为go、rgo和rgo

tio2的raman表征曲线。
15.图3分别为(a)1wt%填充量的rgo

tio2/pvdf薄膜和(b)5wt%填充量的rgo

tio2/pvdf薄膜实物图。
16.图4分别为不同填充量的rgo

tio2/pvdf(pgt)介电薄膜的(a)介电常数频谱曲线,(b)电导率频谱曲线和(c)介电损耗频谱曲线。
具体实施方式
17.下面结合附图和实施例来详细描述本发明。
18.量取40ml的1mg/ml少层mxene水溶液,添加50mg的氧化石墨烯纳米片,在高功率超声波发生器中超声分散30分钟;然后称量440mg的氟硼酸钠加入到上述分散液中,再次超声分散30分钟得到均匀分散的前体反应液。将分散液转移至特氟龙反应釜中,在160℃下反应8h,反应结束后自然冷却至室温,将获得的rgo气凝胶置入烧杯中,添加适量去离子水,采用磁力搅拌1h,将其完全分散,后多次负压抽滤,洗涤残余的氟硼酸钠和杂质。将所获固体在冷冻干燥下保持36h,最终得到板

垒结构的rgo

tio2粉末。
19.介电薄膜制作方法:取等规格的烧杯,称取一系列质量的rgo

tio2粉末,分散在9ml的n,n

二甲基甲酰胺(dmf)中,并在高功率超声发生器中分散30分钟。称取1200mg的聚偏氟乙烯粉末,加入到上述分散液中,在常温下采用磁力搅拌12h,之后再在80℃下搅拌1h,消除气泡和未溶解颗粒。取一块平整干净的特制玻璃,采用可调式刮膜器,在玻璃上均匀涂一层约600μm厚的溶胶膜。随后将玻璃基板在60℃真空干燥箱内干燥12h。干燥结束后,将基板取出,将温度升至200℃,再将基板放入干燥箱。保持10分钟后,立即将基板取出,完全浸入准备好的冰水中退火处理,提升薄膜的机械性能。最后,将薄膜拭净并缓慢揭下。制备好的介电薄膜裁成合适大小,采用真空离子镀仪镀上直径1.2cm的银电极。
20.制备完成的碳基填充料微观形貌如图1(a

c)所示。可以明显看出,二氧化钛颗粒
呈现立方状或者近立方状,原因是二氧化钛的(0 0 1)晶面在氟离子的诱导下暴露出来,加速生长至立方体形貌。氧化物颗粒均匀分散在rgo片层之间和表面,尺径大约在600nm左右,形成一种板

垒结构,一定程度上阻止了rgo的大规模团聚行为。从高倍透射电子显微图像(图1c)可以观察到二氧化钛晶体的晶格间距在0.35nm,代表着锐钛矿相二氧化钛的(1 0 1)晶面。图1(d)的xrd图也能进一步验证经氟硼酸钠诱导的rgo

tio2出现纯化的锐钛矿晶格,这意味着氟硼酸钠的存在将抑制金红石相的二氧化钛生长,提供均匀稳定的立方相二氧化钛结构。对比xrd还可以看出在0.1m的氟硼酸钠浓度下生长的二氧化钛衍射峰最狭长,意味着结晶度最高,对二氧化钛的诱导有着最佳效果。石墨烯的表面有序度以及二氧化钛的结构信息也可以通过拉曼光谱进一步验证。如图2所示,位于149cm
‑1、198cm
‑1、398cm
‑1、511cm
‑1和634cm
‑1的衍射峰分别代表着tio2的eg、eg、b1g、a1g和eg的振动模式,是典型的锐钛矿相tio2的拉曼衍射峰型。图中代表着碳的d峰和g峰也清晰得显示出来,从d峰和g峰的强度比可以得知,在tio2和mxene中碳元素的诱导之下,还原氧化石墨烯表面有序度明显降低,表面形成一层高缺陷低电导的碳层,这有利于抑制导电网络的形成。
21.薄膜成品图如图3所示,大规模、高强度、低厚度的复合介电薄膜很容易成型,可以依据需要填充不同体积分数的填料。为探究不同填充状态下的介电薄膜的介电性能参数,分别测试了rgo

tio2/pvdf的介电常数、介电损耗和电导率的频谱变化曲线。如图4所示,经填充复合的介电薄膜性质得到明显改善。首先在低填充量下(1wt%

4wt%),介电常数得到不同程度的提升,而且介电损耗能够与纯聚偏氟乙烯一样维持在较低水平,甚至更低。在5.5wt%的填充量下,介电常数可以达到211(1khz),介电损耗值也控制在较低的0.104。当进一步填充时,复合介电薄膜的介电常数和介电损耗有了指数级的增长,标志着聚合物基质内形成导电网络。从电导率变化曲线(图4b)也可以获悉,复合薄膜的电导率在渗流阈值之前保持在低水平,而达渗流阈值之后,电导率迅速提升,直至形成导电网络。
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