本发明涉及线路板领域，尤其涉及一种pcba板发光led光强度测量设备。
背景技术：
目前，电子行业大量使用发光led用作状态指示及照明，当这些发光led集成在pcba产品中时往往不对单独对其进行测试，导致售出的电子产品由于发光led损坏或功能不正常影响用户使用体验。
但是，现有的pcba板发光led测试存在以下缺陷：
1、设计新颖，市面上对pcba上的发光led都是把pcba整体放入黑盒中再通过传感器测试，测试不便；且在工厂生产中，测试带发光led的pcba过程中，往往不会对发光led进行测试或只是对其进行故障测试不会对其进行功能测试，对发光led发光情况往往只是目测，看见有亮度就是好的，这样并不能真实有效的了解发光led的发光特性，与光的质量，测试效率低。
2、现有测试设备都是被动测试led的发光强度，只能测试当前亮度，不能实时改变led发光强度去测试不同的光强亮度。
3、市面上的有些设备只是单纯的测led光强度却不测与光强对应的消耗电流，从而不能系统全面的判断发光led是否合格，测试全面性不足。
技术实现要素：
为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种pcba板发光led光强度测量设备，其能解决测试不便、测试效率低的问题。
本发明的目的之一采用如下技术方案实现：
一种pcba板发光led光强度测量设备，包括底部座体、上部罩体、光强测量器、下压驱动件、下压板、暗箱式压板、固定架、用于与待测试pcba连接的探针组件，所述光强测量器的端部设置有测量光纤；所述暗箱式压板设置有若干个与pcba板上led位置相对应的暗箱槽，所述暗箱槽正对待测试pcba，所述暗箱槽与所述测量光纤连通；所述底部座体安装于所述上部罩体，所述固定架固定于所述底部座体，所述下压驱动件与所述下压板固定连接并带动所述下压板移动，所述下压板与所述暗箱式压板固定连接，所述探针组件与待测试pcba抵触连接，所述下压驱动件运作使所述暗箱槽覆盖于pcba板上led位置上。
进一步地，所述暗箱槽设置有下侧光传输罩，所述下侧光传输罩安装于所述暗箱槽内。
进一步地，所述光强测量器的外侧设置有上侧光传输罩，所述上侧光传输罩包覆于所述光强测量器，所述上侧光传输罩和所述下侧光传输罩采用测量光纤连接。
进一步地，所述探针组件设置有功能测试单元、断路检测单元，所述功能测试单元、断路检测单元分别与所述探针组件连接。
进一步地，所述探针组件包括探针固定板、设置于探针固定板下侧的探针连接头、固定于探针固定板上的若干个测试探针。
进一步地，所述上部罩体设置有侧部抓持槽。
进一步地，所述侧部抓持槽的数量为两个，两个所述侧部抓持槽分布于所述上部罩体的两侧。
进一步地，所述pcba板发光led光强度测量设备还包括若干片侧部散热片，所述侧部散热片设置于所述固定架的侧部。
进一步地，所述光强测量器为光测试传感器。
进一步地，所述pcba板发光led光强度测量设备还包括导向柱，所述导向柱滑动安装于所述下压板，所述导向柱固定于所述底部座体。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：
所述暗箱式压板设置有若干个与pcba板上led位置相对应的暗箱槽，所述暗箱槽正对待测试pcba，所述暗箱槽与所述测量光纤连通；所述底部座体安装于所述上部罩体，所述固定架固定于所述底部座体，所述下压驱动件与所述下压板固定连接并带动所述下压板移动，所述下压板与所述暗箱式压板固定连接，所述探针组件与待测试pcba抵触连接，所述下压驱动件运作使所述暗箱槽覆盖于pcba板上led位置上。采用所述暗箱式压板设置的暗箱槽进行pcba板上led的覆盖测试，无需将整个pcba板放置于暗箱中，解决了测试不便、测试效率低的问题。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1为本发明pcba板发光led光强度测量设备中一较佳实施例的立体图；
图2为图1所示pcba板发光led光强度测量设备的立体图；
图3为图1所示pcba板发光led光强度测量设备的另一立体图；
图4为图1所示pcba板发光led光强度测量设备的又一立体图。
图中：10、底部座体；20、上部罩体；21、侧部抓持槽；30、光强测量器；31、测量光纤；40、下压驱动件；50、下压板；60、暗箱式压板；61、暗箱槽；70、固定架；80、侧部散热片；90、探针组件；91、探针固定板；92、探针连接头；93、测试探针；200、待测试pcba。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参阅图1-4，一种pcba板发光led光强度测量设备，包括底部座体10、上部罩体20、光强测量器30、下压驱动件40、下压板50、暗箱式压板60、固定架70、用于与待测试pcba200连接的探针组件90，所述光强测量器30的端部设置有测量光纤31；所述暗箱式压板60设置有若干个与pcba板上led位置相对应的暗箱槽61，所述暗箱槽61正对待测试pcba200，所述暗箱槽61与所述测量光纤31连通；所述底部座体10安装于所述上部罩体20，所述固定架70固定于所述底部座体10，所述下压驱动件40与所述下压板50固定连接并带动所述下压板50移动，所述下压板50与所述暗箱式压板60固定连接，所述探针组件90与待测试pcba200抵触连接，所述下压驱动件40运作使所述暗箱槽61覆盖于pcba板上led位置上。采用所述暗箱式压板60设置的暗箱槽61进行pcba板上led的覆盖测试，无需将整个pcba板放置于暗箱中，解决了测试不便、测试效率低的问题。
优选的，所述暗箱槽61设置有下侧光传输罩，所述下侧光传输罩安装于所述暗箱槽61内。所述光强测量器30的外侧设置有上侧光传输罩，所述上侧光传输罩包覆于所述光强测量器30，所述上侧光传输罩和所述下侧光传输罩采用测量光纤31连接。采用两个传输罩进行封闭式测试，进一步提高了测试精度和准确度。
优选的，所述探针组件90设置有功能测试单元、断路检测单元，所述功能测试单元、断路检测单元分别与所述探针组件90连接。采用断路检测单元进行发光led的二极管特性正向电压，正向电流，反向电压，反向电流进行测试，采用功能测试单元进行发光led的光特性进行测试光强，光成分，色温进行测试，测试效率高，数据全面。
优选的，所述探针组件90包括探针固定板91、设置于探针固定板91下侧的探针连接头92、固定于探针固定板91上的若干个测试探针93。所述上部罩体20设置有侧部抓持槽21。所述侧部抓持槽21的数量为两个，两个所述侧部抓持槽21分布于所述上部罩体20的两侧。提高了安装的便利度。
优选的，所述pcba板发光led光强度测量设备还包括若干片侧部散热片80，所述侧部散热片80设置于所述固定架70的侧部。所述光强测量器30为光测试传感器。所述pcba板发光led光强度测量设备还包括导向柱，所述导向柱滑动安装于所述下压板50，所述导向柱固定于所述底部座体10。整个装置结构紧凑，结构新颖，设计巧妙，适用性强，便于推广。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。
