1.本技术涉及显示技术领域,尤其涉及一种液晶显示面板、液晶显示装置及其检测方法。
背景技术:
2.在现有技术中,对液晶加外加电压的方式为:通过打点的方式,将金球点在阵列基板上,阵列基板通过金球与彩膜基板连通,电流通过金球导通到彩膜基板上。
3.然而,在实际的制程中,由于彩膜基板与阵列基板容易出现对位不良,或者,配向膜在未固化前容易扩散到金球点位置,导致金球导通性差,进而出现伽马异常、串扰等显示异常问题。为了解决上述问题,亟待一种容易检测导通效果的液晶显示面板。
技术实现要素:
4.本技术实施例提供了一种液晶显示面板、液晶显示装置及其检测方法,利用部分导电件外接检测垫,以便于检测阵列基板的公共电极线和彩膜基板的公共电极层导电是否正常。
5.为达到上述目的,本技术采用如下技术方案:第一方面,提供了一种液晶显示面板,包括对盒设置的彩膜基板和阵列基板,彩膜基板上设置有公共电极层,阵列基板上设置有公共电极线,液晶显示面板包括显示区和周边区,周边区包括多个连接区;在彩膜基板和阵列基板之间,且位于连接区中,设置有多个导电件;至少一个连接区包括导通子区和检测子区,位于导通子区的导电件分别与公共电极线和公共电极层相接触,用于导通公共电极线和公共电极层;位于检测子区的导电件分别与公共电极层和检测垫相接触,用于导通公共电极层和检测垫;其中,检测垫设置于阵列基板上。
6.本技术实施例提供一种液晶显示面板,通过在阵列基板和彩膜基板之间设置导电件,利用一部分导电件导通阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层,另一部分导电件导通彩膜基板上的公共电极层和检测垫,基于此,后续可通过侦测检测垫上是否有电压来确定阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层是否正常导通。
7.在第一方面的一种可能实现方式中,阵列基板上还铺设有绝缘层,绝缘层位于公共电极线和检测垫之间。
8.在第一方面的一种可能实现方式中,沿液晶显示面板的厚度方向,检测垫位于目标导电件远离彩膜基板的一侧,且与公共电极线同层,目标导电件用于指示位于检测子区的导电件。
9.在第一方面的一种可能实现方式中,检测垫的材料与公共电极线的材料相同。
10.在第一方面的一种可能实现方式中,彩膜基板的尺寸小于阵列基板的尺寸,部分检测垫位于彩膜基板与阵列基板非重叠且靠近电路板的区域中。
11.在第一方面的一种可能实现方式中,检测子区的形状为圆形、方形、三角形、多边
形中任意一种。
12.在第一方面的一种可能实现方式中,导通子区和检测子区相邻且形状互补。
13.在第一方面的一种可能实现方式中,导电件为金球或银球。
14.第二方面,提供一种液晶显示装置,包括第一方面及第一方面中的任意一种实现方式所述的液晶显示面板,液晶显示面板还包括设置于彩膜基板和阵列基板之间的液晶层。
15.第三方面,提供一种检测方法,将检测装置与如第一方面及第一方面中的任意一种实现方式所述的液晶显示面板中的检测垫相连接;当检测装置上检测出电压时,彩膜基板上的公共电极层和阵列基板上的公共电极线导通正常;当检测装置上没有检测出电压时,彩膜基板上的公共电极层和阵列基板上的公共电极线未导通。
16.第二方面和第三方面的有益效果,可参考上述第一方面中的内容,在此不再赘述。
附图说明
17.图1是本技术实施例一提供的一种液晶显示装置的截面示意图;图2是本技术实施例二提供的一种液晶显示面板的俯视示意图;图3是本技术实施例二提供的一种液晶显示面板的截面示意图;图4是本技术实施例二提供的另一种液晶显示面板的截面示意图;图5至图8是本技术实施例二提供的四种连接区的示意图;图9至图14是本技术实施例二提供的另六种连接区的示意图;图15是本技术实施例三提供的一种液晶显示面板检测方法的流程图。
18.附图标记:1
‑
框架;2
‑
盖板;3
‑
液晶显示模组;4
‑
背光模组;5
‑
电路板;6
‑
cof;10
‑
显示区;20
‑
周边区;21
‑
连接区;211
‑
导通子区;212
‑
检测子区;30
‑
液晶显示面板;31
‑
阵列基板;311
‑
第二衬底基板;312
‑
公共电极线;313
‑
像素电极层;32
‑
彩膜基板;321
‑
第一衬底基板;322
‑
公共电极层;33
‑
液晶层;34
‑
上偏光层;35
‑
下偏光层;330
‑
彩色滤光层;331
‑
红色色阻层;332
‑
绿色色阻层;333
‑
蓝色色阻层;340
‑
导电件;350
‑
检测垫;360
‑
绝缘层。
具体实施方式
19.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。
20.除非另作定义,本技术使用的技术术语或者科学术语应当为本领域技术人员所理解的通常意义。本技术说明书以及权利要求书中使用的术语“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术实施例的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
[0021]“左”、“右”、“上”以及“下”等方位术语是相对于附图中的显示组件示意放置的方位来定义的,应当理解到,这些方向性术语是相对的概念,它们用于相对于的描述和澄清,其可以根据阵列基板或显示装置所放置的方位的变化而相应地发生变化。
[0022]
实施例一在本技术实施例中,以液晶显示装置为背光型液晶显示装置进行示例。图1示出了本技术实施例提供的一种背光型液晶显示装置的结构示意图。
[0023]
如图1所示,该液晶显示装置的主要结构包括框架1、盖板2、液晶显示模组3、背光模组4、电路板5以及包括摄像头等的其他电子配件。液晶显示模组3包括液晶显示面板30、设置在液晶显示面板30靠近盖板2一侧的上偏光层34以及设置在液晶显示面板30靠近背光模组一侧的下偏光层35。液晶显示面板30包括阵列基板31、对置基板、设置于阵列基板31和对置基板之间的液晶层33,阵列基板31和对置基板通过封框胶(sealant)对合在一起,从而将液晶层33限定在封框胶围成的区域内。其中,通常彩色滤光层330设置于对置基板上,并将此对置基板称为彩膜基板32。
[0024]
应理解,彩色滤光层330用于将阵列基板31出射的白光过滤成不同颜色的光。彩色滤光层330通常包括阵列排布的三基色色阻单元,例如,该三基色色阻单元包括红色色阻层331、绿色色阻层332和蓝色色阻层333。其中,红色色阻层331可以将阵列基板31出射的白光过滤成红光,绿色色阻层332可以将阵列基板31出射的白光过滤成绿光,蓝色色阻层333可以将阵列基板31出射的白光过滤成蓝光。当然,彩色滤光层330还可以包括其他颜色色阻单元,本技术实施例以三基色色阻单元为例进行说明。
[0025]
如图1所示,以框架1的纵截面呈u型为例,液晶显示模组3、背光模组4、电路板5以及包括摄像头等的其他电子配件设置于框架1内,背光模组4位于液晶显示模组3的下方,电路板5位于背光模组4和框架1之间,盖板2位于液晶显示模组3远离背光模组4的一侧。盖板2,例如可以是透明玻璃。
[0026]
应理解,图1中的液晶显示装置的显示原理为:背光模组4发出白光,经过下偏光层35形成特定偏振方向的白色偏振光,射入阵列基板31,经过液晶层33调整后,再通过彩膜基板32上的彩色滤光层330过滤形成红绿蓝三基色偏振光。当该三基色偏振光的偏振方向与上偏光层34的偏振方向垂直时,三基色偏振光不能穿过上偏光层34,此时无光线出射;当该三基色偏振光的偏振方向与上偏光层34的偏振方向平行时,该三基色偏振光可以通过上偏光层34,此时出射光的光强最强。应理解,由于液晶分子对偏振光有旋光特性,特定的液晶分子排布方向可以使得通过液晶层33的偏振光的偏振方向发生改变,那么当液晶分子的排布方向受像素电极和公共电极施加的电场的控制发生旋转时,三基色偏振光就会有规律的透过或者不透过上偏光层34,最终形成彩色图像。
[0027]
基于图1所示的液晶显示装置,在图1中,光路的传播顺序为:背光模组4射出,依次透过下偏光层35、阵列基板31、液晶层33、彩膜基板32、上偏光层34、射出盖板2。
[0028]
在上述液晶显示装置中,对于tn和va模式,公共电极层322(图1中未示出)设置在彩膜基板32上,像素电极层313(图1中未示出)设置在阵列基板31上。彩膜基板32中的公共电极层322上的公共电极信号需要从阵列基板31上转接。由此,在阵列基板31和彩膜基板32之间设置金球,以使得阵列基板31上的公共电极线312可以将从电路板5接收到的公共电极信号,通过金球传递给对侧的彩膜基板32上的公共电极层322。
[0029]
为了节省成本,相关技术中的做法是通过打点的方式将金球点在阵列基板31上的与公共电极层322连接的对应位置处。但是,由于目前显示产品都在往窄边框的方向发展,金球点在阵列基板31上的区域就很小,而阵列基板31上配涂覆的配向膜在未固化前是流动
的,非常有可能扩散到金球点位置将其覆盖,固化后配向膜又是绝缘的,因此,金球就需要刺穿配向膜才能使阵列基板31的像素电极层313和彩膜基板32的公共电极层322导通,这样,就导致导通性很差或者无法导通,进而出现伽马异常、串扰等显示异常问题。
[0030]
有鉴于此,本技术实施例提供了一种液晶显示面板,通过在阵列基板和彩膜基板之间设置导电件,利用一部分导电件导通阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层,另一部分导电件导通彩膜基板上的公共电极层和检测垫,基于此,后续可通过侦测检测垫上是否有电压来确定阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层是否正常导通。
[0031]
实施例二下面结合附图对本技术实施例提供的液晶显示面板30进行详细介绍。图2示出了本技术实施例提供的一种液晶显示面板30的结构示意图。图3示出了图2中沿aa
´
方向的一种截面示意图。图4示出了图2中沿aa
´
方向的另一种截面示意图。
[0032]
如图2至图4所示,本技术实施例提供一种液晶显示面板30,包括:对盒设置的彩膜基板32和阵列基板31,彩膜基板32上设置有公共电极层322(图2中未示出),阵列基板31上设置有公共电极线312(图2中未示出)。
[0033]
如图2所示,液晶显示面板30还包括:显示区10和周边区20,周边区20包括多个连接区21。至少一个连接区21包括导通子区211和检测子区212,位于导通子区211的导电件340分别与公共电极线312和公共电极层322相接触,用于导通公共电极线312和公共电极层322。
[0034]
位于检测子区212的导电件340分别与公共电极层322和检测垫350相接触,用于导通公共电极层322和检测垫350。其中,检测垫350设置于阵列基板31上,且位于周边区20。
[0035]
应理解,显示区10用于进行图像显示,周边区20用于布线等其他功能,不用于图像显示。
[0036]
应理解,周边区20位于显示区10周围的至少一侧,或者,周边区20也可以环绕显示区10设置。例如,当显示区10的形状为矩形时,周边区20指的是环绕在显示区10四条边周围的区域。其中,环绕在显示区10四周的区域的宽度可以相同,也可以不相同,本技术实施例对此不进行任何限制。
[0037]
应理解,周边区20包括多个连接区21,连接区21的数量、分布、形状和尺寸均可以根据需要进行设置和修改,本技术实施例对此不进行任何限制。示例性的,在阵列基板31的周边区20中,多个连接区21间隔排布。
[0038]
此外,针对导通子区211和检测子区212的设置,可以为:每个连接区21均包括导通子区211和检测子区212,或者,部分连接区21包括导通子区211,部分连接区21包括检测子区212,其余连接区21中的每个连接区21均包括导通子区211和检测子区212。
[0039]
其中,导通子区211和检测子区212的数量、分别、形状和尺寸均可以根据需要进行设置和修改,本技术实施例对此不进行任何限制。
[0040]
应理解,在彩膜基板32和阵列基板31之间,且位于连接区21中,设置多个导电件340,也可以理解为,在导通子区211和检测子区212设置了多个导电件340,这样,部分导电件340位于导通子区211,部分导电件340位于检测子区212。
[0041]
应理解,结合图1至图4所示,液晶显示面板30包括对盒设置的彩膜基板32和阵列
基板31,其中,彩膜基板32上的公共电极层322通常整层铺设在第一衬底基板321靠近阵列基板31的一侧。此外,在第一衬底基板321和公共电极层322之间还通常铺设有彩色滤光层330。阵列基板31上设置的公共电极线312铺设在第二衬底基板311靠近彩膜基板32的一侧,且通常位于阵列基板31上的周边区20中,并且,公共电极线312的外接端口与电路板5相连接。电路板5用于给阵列基板31提供液晶显示面板30所需的各种信号,也包括彩膜基板32上所需的信号。
[0042]
在此基础上,彩膜基板32上设置的公共电极层322所需的公共电极信号可以由阵列基板31上的公共电极线312从电路板5获取,然后,由阵列基板31上的公共电极线312通过位于导通子区211的导电件340传输至彩膜基板32的公共电极层322,从而实现将公共电极信号从电路板、阵列基板31上的公共电极线312、位于导通子区211的导电件340到彩膜基板32上的公共电极层322上的传输。
[0043]
其中,导通子区211的导电件340可以通过转接孔连接阵列基板31上的公共电极线312。此处,导通子区211的多个导电件340可以通过各自对应的转接孔连接阵列基板31上的同一条公共电极线312。基于此,位于导通子区211的导电件340与彩膜基板32上的公共电极层322相接触,即可导通公共电极线312和公共电极层322,将公共电极线312上的公共电极信号传输至彩膜基板32的公共电极层322。
[0044]
应理解,当检测垫350设置在阵列基板31上,位于检测子区212的导电件340与彩膜基板32上的公共电极层322和检测垫350相接触,用于导通公共电极层322和检测垫350。由此,当利用检测装置(例如电压表或万用表)从检测垫350检测到电压时,说明彩膜基板32上的公共电极层322上有信号,从而说明公共电极信号可以从电路板、阵列基板31上的公共电极线312、位于导通子区211的导电件340传输到彩膜基板32上的公共电极层322上,进而说明位于导通子区211的导电件340导通正常,由此彩膜基板32上的公共电极层322才能有信号。此处,检测垫350与位于检测子区212的导电件340能相接触,说明检测垫350位于检测子区212,也即位于周边区20。
[0045]
当从检测垫350没有检测到电压时,说明公共电极层322上没有信号,从而说明公共电极信号不能从电路板、阵列基板31上的公共电极线312、位于导通子区211的导电件340传输到彩膜基板32上的公共电极层322上,基于电路板、阵列基板31上的公共电极线312连接正常,位于导通子区211的导电件340与彩膜基板32上的公共电极层322接触正常,则只能说明位于导通子区211的导电件340与阵列基板31上的公共电极线312连接不正常,由此,信号才无法传输。
[0046]
可选地,作为一种可能实现的方式,导电件340为金球或银球。
[0047]
本技术实施例提供一种液晶显示面板,通过在阵列基板和彩膜基板之间设置导电件,利用一部分导电件导通阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层,另一部分导电件导通彩膜基板上的公共电极层和检测垫,基于此,后续可通过侦测检测垫上是否有电压来确定阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层是否正常导通。
[0048]
可选地,作为一种可能实现的方式,阵列基板31上还铺设有绝缘层360,绝缘层360位于公共电极线312和检测垫350之间。绝缘层360用于隔绝公共电极线和检测垫350上的电压。
[0049]
应理解,检测垫350用于检测位于导通子区211的导电件340是否导通公共电极线
312和公共电极层322,因此,在阵列基板31上,检测垫350与公共电极线312是不能接触,这样,才能检测电路板5上的公共电极信号是否真的传输至彩膜基板32上的公共电极层322。
[0050]
基于此,当公共电极线312和检测垫350位于同一层时,可以在公共电极线312和检测垫350之间设置绝缘层360,该绝缘层360与公共电极线312和检测垫350同层设置。当公共电极线312和检测垫350不在同一层时,沿液晶显示面板30的厚度方向,可以在公共电极线312的周围,检测垫350靠近阵列基板31的一侧设置绝缘层360。
[0051]
针对绝缘层360的材料,可以根据需要进行设置,本技术实施例对此不进行任何限制。
[0052]
可选地,作为一种可能实现的方式,如图3所示,沿液晶显示面板30的厚度方向,检测垫350目标导电件远离彩膜基板32的一侧,且与公共电极线312同层。其中,目标导电件用于指示位于检测子区212的导电件340。
[0053]
应理解,检测垫350位于目标导电件远离彩膜基板32的一侧时,即指的是检测位于所述目标导电件靠近阵列基板31的一侧,由此,可以先在阵列基板31上设置检测垫350,然后在检测子区212中设置导电件340,制程简单。
[0054]
位于导通子区211的导电件340夹在公共电极层322和公共电极线312之间,也就是说,公共电极线312位于导通子区211的导电件340远离彩膜基板32的一侧,基于此,与公共电极线312同层的检测垫350,可以与公共电极线312同层制备,位于导通子区211的导电件340可以和位于检测子区212的导电件340同时制备,制程方便快捷。
[0055]
可选地,作为一种可能实现的方式,检测垫350的材料与公共电极线312的材料相同。
[0056]
可选地,作为一种可能实现的方式,彩膜基板32的尺寸小于阵列基板31的尺寸,部分检测垫350位于彩膜基板32与阵列基板31非重叠且靠近电路板的区域中。
[0057]
结合图2所示,彩膜基板32和阵列基板31通常中心对齐,这样,当彩膜基板32的尺寸小于阵列基板31的尺寸时,以阵列基板31和彩膜基板32为矩形为例,在四周的周边区20靠近电路板5的一侧中,通常阵列基板31与彩膜基板32未完全重叠。
[0058]
当检测垫350的部分位于该非重叠的区域中时,靠近彩膜基板32的一侧则没有遮挡,便于后续利用其它设备对检测垫350进行检测。其中,该非重叠的区域越宽,检测垫350露出的面积越大,后续进行检测的装置则可以与检测垫350位于非重叠的区域中所露出的面积进行充分接触,检测更准确。
[0059]
可选地,作为一种可能实现的方式,检测子区212的形状为圆形、方形、三角形、多边形中任意一种。
[0060]
图5至图8示出了本技术实施例提供的一种连接区21的示意图。
[0061]
如图5所示,检测子区212的形状为圆形时,相应的位于检测子区212的检测垫350为尺寸相同的圆形,以便于与检测子区212的导电件340充分接触,此外,为了便于后续进行检测,检测垫350还可以从检测子区212中延伸出一部分,该部分位于阵列基板31与彩膜基板32未重叠的区域。
[0062]
在此基础上,为了便于后续进行检测,延伸出的这一部分检测垫350可以增大面积,类如为方形。示例性的,如图5中的所示的区域b,由此,后续检测时,电压表可以与检测垫350充分接触。
[0063]
同理,如图6所示,检测子区212的形状可以为方形,相应的位于检测子区212的检测垫350为尺寸相同的方形。或者,如图7所示,检测子区212的形状可以为六边形,相应的位于检测子区212的检测垫350为尺寸相同的六边形。或者,如图8所示,检测子区212的形状可以为三角形,相应的位于检测子区212的检测垫350为尺寸相同的三角形。当然,检测子区212也可以为其他形状,上述仅为几种示例,本技术实施例对此不进行任何限制。
[0064]
可选地,导通子区211和检测子区212相邻且形状互补。
[0065]
图9至图14示出了本技术实施例提供的另六种连接区21的示意图。
[0066]
如图9所示,导通子区211为270
°
的扇形,检测子区212为方形,但是该方形的边长等于扇形的半径,由此,导通子区211中左下角缺失的90度扇形,由检测子区212进行补充。
[0067]
如图10所示,导通子区211为多边形,检测子区212为方形,导通子区211的两个边长与检测子区212的边长相同,由此,导通子区211与检测子区212相邻时,可以合成一个大方形。
[0068]
如图11所示,检测子区212为方形,导通子区211为与方形三边相邻的局部圆形。
[0069]
如图12所示,检测子区212为方形,导通子区211为与方形三边相邻的局部方形,导通子区211和检测子区212相邻时,可以合成一个大方形。
[0070]
如图13所示,检测子区212为方形,导通子区211为环绕方形的回形区域,导通子区211和检测子区212相邻时,可以合成一个完整的圆形。
[0071]
如图14所示,检测子区212为方形,导通子区211为环绕圆形的回形区域,导通子区211和检测子区212相邻时,可以合成一个完整的大方形。
[0072]
结合图9至图14所示,当导通子区211和检测子区212相邻且形状互补时,位于导通子区211的导电件340和检测子区212中的导电件340可以同时制备,占用的区域相对较小,可以一定程度上利于显示面板的窄边框设计。
[0073]
还应理解,为了避免公共电极线312和检测垫350接触,在导通子区211和检测子区212之间还可以绝缘层360,避免公共电极线312和检测垫350导通。
[0074]
本技术实施例还提供一种液晶显示装置,包括上述液晶显示面板30。
[0075]
本技术实施例提供的液晶显示装置,通过在液晶显示面板中的阵列基板和彩膜基板之间设置导电件,利用一部分导电件导通阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层,另一部分导电件导通彩膜基板上的公共电极层和检测垫,基于此,后续可通过侦测检测垫上是否有电压来确定阵列基板上的公共电极线和彩膜基板上的公共电极层是否正常导通。
[0076]
实施例三本技术实施例还提供一种检测方法,如图15所示,该检测方法包括以下s10至s30。
[0077]
s10、将检测装置与上述液晶显示面板30中的检测垫350相连接。其中,检测装置可以为电压表、万用表等可以检测电压的装置,本技术实施例对此不进行任何限制。
[0078]
s20、当检测装置上检测出电压时,彩膜基板32上的公共电极层322和阵列基板31上的公共电极线312导通正常。
[0079]
s30、当检测装置上没有检测出电压时,彩膜基板32上的公共电极层322和阵列基板31上的公共电极线312未导通。
[0080]
当检测装置上检测出电压时,若检测电压小于预设电压,则说明可能存在一些其
他问题,例如,pi液部分覆盖到了导通子区211,或者,说明彩膜基板32上的公共电极层322与阵列基板31上的公共电极线312未导通,但是彩膜基板32上的公共电极层322与位于检测子区212的导电件340之间存在一定电容等。
[0081]
应理解,本技术提供的液晶显示面板30在检测时,若能通过检测垫350检测到电压,说明通过彩膜基板32上的公共电极层322、位于检测子区212的导电件340、检测垫350的导通良好。
[0082]
基于此,若检测电压大于预设电压,则说明液晶显示面板30中,阵列基板31上的公共电极线312通过位于导通子区211的导电件340将公共电极信号传输给了彩膜基板32上的公共电极层322,导通良好,由此,才可以形成阵列基板31上的公共电极线312、位于导通子区211的导电件340、彩膜基板32上的公共电极层322、位于导通子区22的导电件340、检测垫350这一导通回路,能让后续检测出电压。
[0083]
若检测电压小于预设电压,则说明液晶显示面板30中,阵列基板31上的公共电极线312通过位于导通子区211的导电件340将公共电极信号传输给了彩膜基板32上的公共电极层322,但是导通不良,由此,虽然可以形成阵列基板31上的公共电极线312、位于导通子区211的导电件340、彩膜基板32上的公共电极层322、位于导通子区211的导电件340、检测垫350这一导通回路,但是,后续检测出的电压较小。
[0084]
还应理解,本技术的检测垫350仅与位于检测子区212的导电件340连接即可,是单独的导通路径,有没有都不影响阵列基板31和彩膜基板32的工作。
[0085]
本技术实施例提供的检测方法的有益效果,与上述液晶显示面板30的有益效果相同,在此不再赘述。
[0086]
以上所述,仅为本技术的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限榆次,任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此,本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
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