本技术涉及芯片检测，尤其涉及一种用于芯片检测的芯片支撑装置。
背景技术：
1、集成电路英语，或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步。集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管，芯片检测时需要使用芯片支撑装置。
2、现有的芯片支撑装置通槽时将芯片放置于放置槽内，检测完成后再将芯片从放置槽内取出，而工作人员对芯片的放置和取出较为麻烦，操作不当时容易造成芯片出现损伤，因此提出了一种用于芯片检测的芯片支撑装置。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于芯片检测的芯片支撑装置，用于解决上述背景技术中提出的问题。
2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
3、一种用于芯片检测的芯片支撑装置，包括固定座，所述固定座顶部固定设置有保护壳，所述保护壳顶部固定设置有限位板，所述固定座的左侧固定设置有驱动电机，所述驱动电机的输出端贯穿保护壳延伸至保护壳的内部并固定设置有蜗杆，所述蜗杆表面啮合设置有蜗轮，所述蜗轮内部固定设置有螺纹套，所述螺纹套与固定座转动连接设置，所述螺纹套内部螺纹设置有螺纹杆，所述螺纹杆表面设置有固定组件，所述螺纹杆顶部通过固定组件设置有芯片放置板，所述螺纹杆表面设置有限位组件。
4、优选的，所述固定组件包括固定设置于螺纹杆表面的连接板，所述连接板内部搭接设置有固定柱，所述固定柱固定安装在芯片放置板的底部，所述固定柱表面螺纹设置有固定螺母。
5、优选的，所述限位组件包括设置于螺纹杆表面开设有限位槽，所述限位槽内部滑动设置有限位块，所述限位块的表面固定设置有固定环，所述固定环的表面固定设置有固定板，所述固定板固定安装在保护壳的内部。
6、优选的，所述固定座顶部贯穿设置有固定孔，且固定孔的数量为四个。
7、优选的，所述限位板顶部贯穿设置有用于放置于芯片的凹槽，且凹槽呈矩形结构。
8、优选的，所述限位槽和限位块的数量为两个，且两个限位槽和两个限位块呈对称式分布。
9、优选的，所述蜗杆位于保护壳的内部，所述蜗杆与保护壳转动连接设置。
10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该用于芯片检测的芯片支撑装置，驱动电机通过蜗杆和蜗轮带动螺纹套转动，在限位组件的作用下，使得螺纹杆通过固定组件推动芯片放置板从限位板内移出，将芯片放置于芯片放置板上，驱动电机通过蜗杆和蜗轮带动螺纹套反向转动，使得螺纹杆通过固定组件带动芯片放置板复位，使得芯片放置板带动芯片移动至限位板内部，即可在芯片检测时对芯片进行支撑放置；实现了便于在芯片检测时对芯片进行放置和取出的目标，避免了工作人员对芯片的放置和取出麻烦的情况，避免了操作不当时造成芯片出现损伤的情况，使得芯片检测的芯片支撑装置使用起来更加方便。
1.一种用于芯片检测的芯片支撑装置，包括固定座(1)，其特征在于，所述固定座(1)顶部固定设置有保护壳(2)，所述保护壳(2)顶部固定设置有限位板(3)，所述固定座(1)的左侧固定设置有驱动电机(4)，所述驱动电机(4)的输出端贯穿保护壳(2)延伸至保护壳(2)的内部并固定设置有蜗杆(5)，所述蜗杆(5)表面啮合设置有蜗轮(6)，所述蜗轮(6)内部固定设置有螺纹套(7)，所述螺纹套(7)与固定座(1)转动连接设置，所述螺纹套(7)内部螺纹设置有螺纹杆(8)，所述螺纹杆(8)表面设置有固定组件，所述螺纹杆(8)顶部通过固定组件设置有芯片放置板(9)，所述螺纹杆(8)表面设置有限位组件。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述固定组件包括固定设置于螺纹杆(8)表面的连接板(14)，所述连接板(14)内部搭接设置有固定柱(15)，所述固定柱(15)固定安装在芯片放置板(9)的底部，所述固定柱(15)表面螺纹设置有固定螺母(16)。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述限位组件包括设置于螺纹杆(8)表面开设有限位槽(10)，所述限位槽(10)内部滑动设置有限位块(11)，所述限位块(11)的表面固定设置有固定环(12)，所述固定环(12)的表面固定设置有固定板(13)，所述固定板(13)固定安装在保护壳(2)的内部。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述固定座(1)顶部贯穿设置有固定孔，且固定孔的数量为四个。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述限位板(3)顶部贯穿设置有用于放置于芯片的凹槽，且凹槽呈矩形结构。
6.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述限位槽(10)和限位块(11)的数量为两个，且两个限位槽(10)和两个限位块(11)呈对称式分布。
7.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于，所述蜗杆(5)位于保护壳(2)的内部，所述蜗杆(5)与保护壳(2)转动连接设置。
