本技术涉及继电器寿命测试，具体的说，是一种继电器寿命测试电路。
背景技术：
1、目前继电器实际批量使用时由于环境应力、电应力、使用情况不同，可能出现部分失效、损坏的情况，器件选型前进行有效可靠的测试非常有必要。而现有技术中一些手动测试，费时费力，且无法达到寿命测试次数，也有一些自动测试继电器寿命的装置，但是现有的继电器电寿命试验装置仅关注继电器动作次数这一单一特性参数，无法同时对多个继电器进行不同温湿度环境、不同电力下的测试。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种继电器寿命测试电路，用于解决现有技术中现有的继电器电寿命试验装置仅关注继电器动作次数这一单一特性参数，无法同时对多个继电器进行不同温湿度环境、不同电力下的测试的问题。
2、本实用新型通过下述技术方案解决上述问题：
3、一种继电器寿命测试电路，包括处理器，所述处理器与至少一个测试模块电连接，每个所述测试模块包括待测继电器，所述待测继电器的线圈一端与所述处理器的一个i/o引脚连接，另一端连接第一工作电源；待测继电器的常开常闭触点串联在负载回路中，所述负载回路中的负载与电流互感器的一次侧串联，所述电流互感器的二次侧并联有第一电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端连接第一二极管的阳极和第二二极管的阴极，第一电阻的第二端连接第三二极管的阳极和第四二极管的阴极，第二二极管的阳极和第四二极管的阳极接地，第一二极管和第三二极管的阴极连接第二电阻和第三电阻的第一端，所述第三电阻的第二端接地，所述第二电阻的第二端连接所述处理器的一个i/o引脚，以及串联第四电阻后接地，所述待测继电器置于温湿度控制箱内。
4、通过温湿度控制箱设置待测继电器的环境温湿度，通过负载回路的交流输入，设置待测继电器的带载电流。处理器中的i/o引脚按照设定的频率、次数，交替输出高、低电平，控制待测继电器线圈的通/断电，实现负载回路的闭合/断开；负载回路中的电流互感器转换电流信号，并通过第一电阻将电流信号转换成交流电压信号，并经过第一二极管～第四二极管四个二极管组成的整流桥整流成直流电压信号，再经过第二电阻和第四电阻分压后反馈到处理器的一个i/o引脚，处理器根据该i/o引脚输入的电平信号，记录待测继电器的耐电流冲击次数。本实用新型通过处理器连接测试模块，能够同时进行多个待测继电器的寿命测试，且多个待测继电器的温湿度环境和交流输入能够分别控制。
5、进一步地，当所述测试模块的数量为两个或两个以上时，每个测试模块的待测继电器分别置于不同的温湿度控制箱。
6、进一步地，当所述测试模块的数量为两个或两个以上时，每个负载回路连接独立的交流电源。
7、进一步地，所述第一二极管和第三二极管的阴极还连接第五二极管的阳极和第六二极管的阴极，所述第五二极管的阴极连接第二工作电源，所述第六二极管的阳极接地。对经过整流桥的直流电压进行稳压。
8、进一步地，所述第三电阻还并联有第二电容，用于滤波。
9、进一步地，所述处理器还连接有指示灯模块，处理器根据i/o引脚接收到的电压，输出驱动指示灯模块，用来指示待测继电器的触点正常/失效。
10、本实用新型与现有技术相比，具有以下优点及有益效果：
11、本实用新型通过设置待测继电器的温湿度环境和耐电流，通过处理器自动控制继电器的通断电，通过检测负载电流、交流电压再转换成直流电压经分压反馈回处理器，实现不间断的测试待测继电器的耐电流冲击(次数)能力，判断待测继电器触点是否失效。能够同时测试多个待测继电器在不同温湿度环境、交流输入环境下的寿命。
1.一种继电器寿命测试电路，包括处理器，其特征在于，所述处理器与至少一个测试模块电连接，每个所述测试模块包括待测继电器，所述待测继电器的线圈一端与所述处理器的一个i/o引脚连接，另一端连接第一工作电源；待测继电器的常开常闭触点串联在负载回路中，所述负载回路中的负载与电流互感器的一次侧串联，所述电流互感器的二次侧并联有第一电阻和第一电容，所述第一电阻的第一端连接第一二极管的阳极和第二二极管的阴极，第一电阻的第二端连接第三二极管的阳极和第四二极管的阴极，第二二极管的阳极和第四二极管的阳极接地，第一二极管和第三二极管的阴极连接第二电阻和第三电阻的第一端，所述第三电阻的第二端接地，所述第二电阻的第二端连接所述处理器的一个i/o引脚，以及串联第四电阻后接地，所述待测继电器置于温湿度控制箱内。
2.根据权利要求1所述的一种继电器寿命测试电路，其特征在于，当所述测试模块的数量为两个或两个以上时，每个测试模块的待测继电器分别置于不同的温湿度控制箱；每个负载回路连接独立的交流电源。
3.根据权利要求2所述的一种继电器寿命测试电路，其特征在于，所述第一二极管和第三二极管的阴极还连接第五二极管的阳极和第六二极管的阴极，所述第五二极管的阴极连接第二工作电源，所述第六二极管的阳极接地。
4.根据权利要求3所述的一种继电器寿命测试电路，其特征在于，所述第三电阻还并联有第二电容。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的一种继电器寿命测试电路，其特征在于，所述处理器还连接有指示灯模块。
