本技术涉及芯片测试，特别是一种射频测试结构。
背景技术：
1、在芯片测试行业中，现有技术的测试机大多数自带有负载平台架构，通过灵活的功能板卡28配置和相关的线材或弹簧针实现各种类型芯片的测试。其中，测试机的负载平台架构会自带停靠定位机构用于连接测试负载板(load board)，达成后续测试的物理连接条件。现有的射频测试方法为射频线(如sma接口)直连接射频引出的转接口，插射频pin入槽通过螺纹旋转锁紧,到位与否无明显标识，定位不可靠，易因紧固件松动。可能导致测试开短路以及其他接触不良的情况。而且大量射频线导致较难安装，对操作人员有一定要求，占用面积大较难拆卸后期不方便管理。现有技术局限性大；线材数量多射频接口要对应，人员素质要求较高，拆装的难度较大；切换灵活性差；若频繁的切换测试产品(每个产品的负载板不同)，需要频繁的拆装线材和负载板接口；对于设备损耗大，对于人员耗时耗力。稳定性较低；射频线材连接负载板接口是通过螺纹扭紧的，无到位防呆；线材过多，可能导致射频接口扩展会重新拆装部分区域。
2、在背景技术部分中公开的所述信息仅仅用于增强对本实用新型背景的理解，因此可能包含不构成在本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、针对所述现有技术存在的不足或缺陷，提供了一种射频测试结构，优化射频配件结构降低拆装难度，射频线材接头改善增加防呆，引入射频子卡实现易扩展。
2、本实用新型的目的是通过以下技术方案予以实现。
3、一种射频测试结构包括，
4、射频子卡负载平台，其包括，
5、下层托盘，
6、上层托盘，其在垂直方向上可移动地设于所述下层托盘上，所述上层托盘和下层托盘形成贯穿的中空部，
7、滑块安装机构，其安装于所述上层托盘以锁定或解锁垂直方向上的上层托盘与下层托盘之间的相对位置，滑块安装机构包括，
8、滑块安装板，其竖直连接于上层托盘，
9、滑块盖板，其竖直连接于上层托盘且可拆卸盖合所述滑块安装板，滑块盖板与滑块安装板盖合且构成竖直安装腔和水平安装腔，滑块盖板具有竖直延伸的贯穿滑槽，
10、滑轮，其可移动地设于所述滑槽中，
11、第一滑块件，其经由第一弹簧上下可移动地设于所述竖直安装腔中，所述第一滑块件具有水平延伸的斜块，
12、第二滑块件，其经由第二弹簧左右可移动地设于所述水平安装腔中，所述第二滑块件具有抵接所述斜块的卡块和抵接所述滑轮的限位部，垂直方向移动的所述斜块致动所述卡块克服第二弹簧的作用力使得第二滑块件水平移动，以解除所述限位部对所述滑轮的限位，
13、底座，其安装于所述中空部，所述底座阵列多个贯穿的导电的第一通孔；
14、多个射频子卡，其可拆卸安装于所述底座中，所述射频子卡包括多个贯穿的第二通孔；
15、导电体，其设于所述第二通孔中且导电接触所述第一通孔。
16、所述的射频测试结构中，
17、还包括，
18、负载板，其包括可拆卸连接待测试芯片的上表面和设有通信接口的下表面；
19、射频测试平台架构，其支承所述负载板的顶表面设有凹进部，所述凹进部具有多个通槽。
20、所述的射频测试结构中，下层托盘可拆卸连接于所述通槽中。
21、所述的射频测试结构中，还包括接触器，其可插拔连接于所述第二通孔且导电接触所述导电体，所述接触器导电连接所述通信接口。
22、所述的射频测试结构中，所述通信接口为射频线接口或连接射频线接口的转接口。
23、所述的射频测试结构中，滑轮包括具有第一直径的第一圆柱部和连接所述第一圆柱部的第二圆柱部，所述第二圆柱部具有大于第一直径的第二直径，所述第一圆柱部可移动地设于所述滑槽中。
24、所述的射频测试结构中，所述第二圆柱传动连接所述负载板。
25、所述的射频测试结构中，还包括经由射频线材电连接所述第一通孔的板卡28。
26、所述的射频测试结构中，所述斜块为直角三角形结构。
27、所述的射频测试结构中，所述卡块为t形块，t形块包括抵接斜块的水平段和垂直连接所述水平段的竖直段，所述水平安装腔包括引导所述竖直段水平移动的导引槽。
28、与现有技术相比，本实用新型带来的有益效果为：
29、本实用新型的射频子卡负载平台和线材固定块上有接口对应标识，统一接口的位置。模块化实现后，切换产品不需要拆线材，直接跟换负载板即可。射频子卡负载平台通过固定距离的定位和停靠，提升接口连接耐用性和稳定性；做到定期维护检查负载板接口即可。射频接口扩展通过增减射频子卡完成；本实用新型提供多个射频子卡的安装平台，射频线材防呆，配合射频滑块安装机构，实现固定停靠和运动路径，且确保射频子卡能与测试负载板充分的接触且保护，实现连接测试负载板(load board)，达成后续测试的物理连接条件。
30、所述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够使得本实用新型的技术手段更加清楚明白，达到本领域技术人员可依照说明书的内容予以实施的程度，并且为了能够让本实用新型的所述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，下面以本实用新型的具体实施方式进行举例说明。
1.一种射频测试结构，其特征在于，其包括，
2.如权利要求1所述的射频测试结构，其特征在于，
3.如权利要求2所述的射频测试结构，其特征在于，下层托盘可拆卸连接于所述通槽中。
4.如权利要求2所述的射频测试结构，其特征在于，还包括接触器，其可插拔连接于所述第二通孔且导电接触所述导电体，所述接触器导电连接所述通信接口。
5.如权利要求2所述的射频测试结构，其特征在于，所述通信接口为射频线接口或连接射频线接口的转接口。
6.如权利要求2所述的射频测试结构，其特征在于，滑轮包括具有第一直径的第一圆柱部和连接所述第一圆柱部的第二圆柱部，所述第二圆柱部具有大于第一直径的第二直径，所述第一圆柱部可移动地设于所述滑槽中。
7.如权利要求6所述的射频测试结构，其特征在于，所述第二圆柱传动连接所述负载板。
8.如权利要求1所述的射频测试结构，其特征在于，还包括经由射频线材电连接所述第一通孔的板卡(28)。
9.如权利要求1所述的射频测试结构，其特征在于，所述斜块为直角三角形结构。
10.如权利要求1所述的射频测试结构，其特征在于，所述卡块为t形块，t形块包括抵接斜块的水平段和垂直连接所述水平段的竖直段，所述水平安装腔包括引导所述竖直段水平移动的导引槽。
