本发明涉及软件测试算法，尤其是用于多通道ad/da芯片测试的方法及系统。
背景技术：
1、多通道ad/da芯片测试技术是电子测量领域的一个重要研究方向，对于保证芯片性能和产品质量具有至关重要的意义。随着现代电子系统的集成度不断提高，芯片功能日益复杂，对测试技术提出了更高的要求。ad/da芯片作为模拟信号和数字信号之间的桥梁，其性能直接影响整个系统的工作表现。高效、精确的多通道ad/da芯片测试方法，不仅可以降低测试成本，缩短测试时间，还能及时发现芯片潜在的质量问题，对于提升电子产品的可靠性和竞争力具有重要意义。
2、当前针对多通道ad/da芯片测试已经开展了大量研究工作。传统的测试方法主要是基于示波器和信号发生器的手动测试，但效率低下，难以适应日益增长的测试需求。近年来，自动化测试系统得到广泛应用，通过计算机控制实现信号生成、采集和分析的自动化，大大提高了测试效率。此外，基于虚拟仪器技术的测试平台也受到关注，通过软硬件协同设计，实现测试功能的灵活配置。针对多通道ad/da芯片的测试，研究人员提出了一些新的方法，如基于fft的动态测试技术，可以在频域对芯片性能进行快速评估；而基于sigma-delta调制的测试方案，则通过对量化噪声的分析实现对芯片指标的高精度测量。
3、尽管已有的研究工作取得了一定进展，但在实际的多通道ad/da芯片测试中仍然存在不少挑战。首先，随着被测芯片通道数和复杂度的增加，测试系统中硬件设备的数量也随之增长，不同设备之间的连接和通信变得更加复杂，可能导致系统性能不稳定。其次，由于各个硬件模块的工作状态不尽相同，部分模块出现异常可能影响整个系统的测试结果。再者，被测芯片指标与所处温度等环境因素密切相关，如何在恶劣环境下保证测试的一致性和可重复性是一大难题。传统的测试方法往往采用固定的测试序列，忽视了测试顺序的优化，导致测试耗时过长。此外，测试系统中使用的连接线缆本身存在一定损耗，且损耗随温度变化而波动，若不进行及时补偿，将直接影响测试结果的准确性。硬件互连的稳定性也是一大隐患，在复杂的测试环境下，连接线容易出现松动、断裂等故障，严重影响测试数据的可靠性。
4、因此需要改进和创新。
技术实现思路
1、发明目的，提供一种用于多通道ad/da芯片测试的方法及系统，以期解决现有技术存在的上述问题之一。
2、技术方案，根据本申请的一个方面，提供一种用于多通道ad/da芯片测试的方法，该方法基于测试系统实现，测试系统包括通信连接的上位机、信号发生装置、待测装置和信号分析装置，包括如下步骤：
3、步骤s1、开启测试系统，进行系统自检，调用系统补偿模块进行系统参数补偿；
4、步骤s2、采集并评估环境参数，并基于环境参数调用自适应补偿模块和测试条件评估模块，获得环境补偿参数和测试条件评估结果；
5、步骤s3、响应输入的测试基础数据，并结合系统参数补偿、环境补偿参数和测试条件评估结果，调用预配置的动态调度算法模块，生成测试参数并发送到信号发生装置；
6、步骤s4、接收信号分析装置的测试数据，并采用预配置的自动化分析模块分析测试数据并输出测试结果；
7、步骤s5、获取测试过程参数和测试结果，对测试方案进行反馈和评分，并输入上位机。
8、根据本申请的另一个方面，还提供一种用于多通道ad/da芯片测试系统，包括与待测产品通信连接的上位机，所述上位机包括：
9、至少一个处理器；以及，
10、与至少一个所述处理器通信连接的存储器；其中，
11、所述存储器存储有可被所述处理器执行的指令，所述指令用于被所述处理器执行以实现权利要求上述任一项技术方案所述的用于多通道ad/da芯片测试方法。
12、有益效果，提高了测试效率和准确率，具体技术优势将在下文结合具体实施例进行说明。
1.用于多通道ad/da芯片测试的方法，基于测试系统实现，测试系统包括通信连接的上位机、信号发生装置、待测装置和信号分析装置，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s1具体为：
3.如权利要求1所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s2中，自适应补偿模块的构建过程具体为：
4.如权利要求1所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s3中动态调度算法模块的构建和使用过程具体为：
5.如权利要求1所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s4中采用预配置的自动化分析模块分析测试数据的过程具体为：
6.如权利要求2所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s14具体为：
7.如权利要求3所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s24中每隔预定时段，对系统损失模型的参数进行在线更新的过程具体为：
8.如权利要求5所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s41具体为：
9.如权利要求5所述的用于多通道ad/da芯片测试的方法，其特征在于，所述步骤s42具体为：
10.一种用于多通道ad/da芯片测试系统，包括与待测产品通信连接的上位机，其特征在于，所述上位机包括：
