本技术涉及测试座，具体领域为一种简易的缓压测试座。
背景技术：
1、在现有的芯片测试行业中，一般都是用芯片测试仪进行芯片各项功能的测试。在芯片的生产测试过程中，为了方便每个被测试芯片的每一个管脚与测试仪器实现简单、快捷、准确、高效的连接，通常需要用测试座作为连接媒介；这样的方式实现测试仪与被测芯片的连接，不仅提高生产效率，还提高测试精度。由于适应大批量生产的自动化芯片测试座成本较高，在检测规模较小、或减少企业投资时需要使用手动测试座。
2、中国专利文献cn202471762u公开一种手动芯片测试座，包括底座和上盖，上盖连接于底座上，底座上设有空腔，空腔底部设有与电路板相连的下针模，下针模上设有针孔用于安装弹簧探针，下针模上方设有上针模，上针模上设有针孔用于安装弹簧探针，上针模和下针模之间装有双头弹簧探针，通过下压上盖，使得放置于底座浮板上的待测芯片下降，压缩弹簧探针，使得待测芯片的引脚与底座针模的探针相接触，实现芯片引脚与电路板测试盘之间的良好的电性能导通，实现芯片的手动测试，但是该手动芯片测试座由于零件众多，制作该测试座相对复杂，会增加测试成本，为此，我们提出一种简易的缓压测试座。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种简易的缓压测试座，它可以实现待测芯片的稳定夹持、降低测试成本。
2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种简易的缓压测试座，包括上盖、底座、弹性探针，所述上盖与底座活动连接，所述底座上开设有测试槽，弹性探针贯穿底座且弹性探针上端部至少部分位于测试槽内，该测试座还包括缓压组件、右扣板和u形金属夹；所述缓压组件设于上盖下侧且位置与弹性探针对应；所述上盖右端部设有向上凸起的左扣板；所述左扣板与右扣板相配合且两者通过u形金属夹连接；所述底座右端部设有锁舌；所述右扣板与锁舌相适配。
3、优选的，所述上盖的左端部设有连接轴；所述底座的左端部设有两个凸台；所述连接轴架设在两个凸台之间，使得上盖能够相对底座能够上下翻转。
4、优选的，所述缓压组件包括压块、销轴、弹簧；所述上盖下端部开设有容置槽；销轴架设在容置槽内，且销轴贯穿压块，压块的尺寸与容置槽的尺寸相适配；压块通过销轴与上盖活动连接；所述弹簧的上端与容置槽的顶壁固接、弹簧的下端与压块的上端固接。
5、优选的，所述弹簧设有两个，两个弹簧分置于销轴的两侧。
6、优选的，所述上盖下端部开设有扣板槽；扣板槽位于容置槽的右侧。
7、优选的，所述扣板槽沿左扣板的长度方向开设。
8、优选的，所述弹性探针的数量为若干根，若干个弹性探针均匀分布在底座上。
9、优选的，所述底座左端部的下部开设有凹槽。
10、优选的，所述测试槽位于凸台与锁舌之间。
11、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过在上盖下侧设置压块、销轴、弹簧提供缓压，能够给待测芯片提供稳定的夹持、使得待测芯片不会因为受力不均而出现接触不良的现象、提高测试数据的准确性，通过上盖与底座铰接，在上盖与底座之间设置锁止组件，使得本测试座零件较少，制作本测试座相对较容易，能够降低测试成本。
1.一种简易的缓压测试座，包括上盖（1）、底座（2）、弹性探针（3），所述上盖（1）与底座（2）活动连接，所述底座（2）上开设有测试槽（21），弹性探针（3）贯穿底座（2）且弹性探针（3）上端部至少部分位于测试槽（21）内，其特征在于：该测试座还包括缓压组件、右扣板（5）和u形金属夹（8）；所述缓压组件设于上盖（1）下侧且位置与弹性探针（3）对应；所述上盖（1）右端部设有向上凸起的左扣板（12）；所述左扣板（12）与右扣板（5）相配合且两者通过u形金属夹（8）连接；所述底座（2）右端部设有锁舌；所述右扣板（5）与锁舌相适配。
2.根据权利要求1所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述上盖（1）的左端部设有连接轴（11）；所述底座（2）的左端部设有两个凸台（23）；所述连接轴（11）架设在两个凸台（23）之间，使得上盖（1）能够相对底座（2）能够上下翻转。
3.根据权利要求1所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述缓压组件包括压块（4）、销轴（6）、弹簧（7）；所述上盖（1）下端部开设有容置槽（13）；销轴（6）架设在容置槽（13）内，且销轴（6）贯穿压块（4），压块（4）的尺寸与容置槽（13）的尺寸相适配；压块（4）通过销轴（6）与上盖（1）活动连接；所述弹簧（7）的上端与容置槽（13）的顶壁固接、弹簧（7）的下端与压块（4）的上端固接。
4.根据权利要求3所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述弹簧（7）设有两个，两个弹簧（7）分置于销轴（6）的两侧。
5.根据权利要求3所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述上盖（1）下端部开设有扣板槽（14）；扣板槽（14）位于容置槽（13）的右侧。
6.根据权利要求5所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述扣板槽（14）沿左扣板（12）的长度方向开设。
7.根据权利要求1所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述弹性探针（3）的数量为若干根，若干个弹性探针（3）均匀分布在底座（2）上。
8.根据权利要求1所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述底座（2）左端部的下部开设有凹槽（24）。
9.根据权利要求2所述的一种简易的缓压测试座，其特征在于：所述测试槽（21）位于凸台（23）与锁舌之间。
