本技术涉及一种半导体设备测试用电气控制柜结构及电气控制柜，属于电气设备。
背景技术：
1、电气控制柜是按电气接线要求将开关设备、测量仪表、保护电器和辅助设备组装在封闭或半封闭金属柜中或屏幅上的设备，其布置应满足电力系统正常运行的要求，便于检修，不危及人身及周围设备的安全。正常运行时可借助手动或自动开关接通或分断电路。故障或不正常运行时借助保护电器切断电路或报警。借测量仪表可显示运行中的各种参数，还可对某些电气参数进行调整，对偏离正常工作状态进行提示或发出信号。常用于各发、配、变电所中。
2、现有的一种半导体测试用电气柜，输出大多采用螺钉连接的方式，具体需要打开电气柜柜门，通过导线连接到电气柜内部的端子排，通过拆卸端子排的螺钉，插入需要连接的导线后再通过匹配的工具锁紧对应的螺钉。但该连接方式在连接点位较多的情况下操作繁琐，从而容易误触到柜子内其他的电气元件，影响其他电子元件的连接和正常工作，此外螺丝拆卸时容易出现滑牙或遗失，掉落在柜体内，进而难以找寻，同时此种连接方式需要专业的技术人员，工作效率较低。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种半导体设备测试用电气控制柜结构及电气控制柜。
2、为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：
3、本实用新型提供一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其包括柜体和接头安装件，所述柜体设有容纳腔，所述柜体的侧壁设有连通外界和所述容纳腔的第一开口，所述接头安装件连接在所述第一开口处，且所述接头安装件至少封闭所述第一开口，所述接头安装件设有至少一个接头安装口，所述接头安装口与所述第一开口连通。
4、进一步的，所述接头安装件设有相对的第一端面和第二端面，所述第一端面设有第一连接部，所述柜体在所述第一开口处设有第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部连接，所述第一端面至少用于封闭所述第一开口，所述第二端面上形成有贯通所述第一端面和所述第二端面的所述接头安装口。
5、进一步的，所述第一连接部包括设置在所述第一端面两侧的连接凸起，所述第二连接部包括设置在所述第一开口相应位置两侧的连接凹槽，所述连接凸起与所述连接凹槽插接。
6、进一步的，所述第一端面四周设有弹性密封条，当所述第一连接部和所述第二连接部连接时，所述弹性密封条置于所述第一开口的外周边缘。
7、进一步的，所述柜体设有与所述容纳腔连通的第二开口，所述柜体一侧边铰接有第一柜门，所述第一柜门活动封闭或开启所述第二开口，所述第一柜门上设有观察窗。
8、本实用新型还提供一种电气控制柜，其包括电气元件模块、调压模块、接头模块、多个导线和任一项上述的一种半导体设备测试用电气控制柜结构，所述电气元件模块和所述调压模块均设置在所述容纳腔，所述接头模块设置在所述接头安装口，所述接头模块和所述调压模块分别通过所述导线与所述电气元件模块连接，所述调压模块至少用于将外部输入电压调节到预定的电压值再输入到所述电气元件模块。
9、进一步的，所述接头模块包括插接式连接器和防尘罩，所述插接式连接器设置在所述接头安装口上，所述防尘罩包裹所述插接式连接器。
10、进一步的，所述柜体包括相连接的侧边柜和主柜，所述主柜设有第一内腔，所述侧边柜设有第二内腔，所述第一内腔和所述第二内腔相连通并形成所述容纳腔的一部分，所述第一开口设置在所述主柜上且所述第一开口与所述第一内腔连通，所述电气元件模块设置在所述第一内腔，所述调压模块设置在所述第二内腔。
11、进一步的，所述侧边柜包括与所述第二内腔连通第三开口，所述侧边柜一侧活动连接有第二柜门，所述第二柜门移动封闭或开启所述第三开口。
12、进一步的，所述侧边柜的外表面设有多个均匀分布的通气孔，所述通气孔与所述第二内腔连通。
13、与现有技术相比，本实用新型的优点包括：
14、本实用新型通过在柜体的侧壁上连接接头安装件，接头安装件上设置接头安装口，在使用时，将电气元件放置在柜体内部的容纳腔内，电气元件引出的多个接头连接器安装在接头安装口上，在外接设备时，只需将外接设备连接在柜体外侧的接头连接器上，简化了操作步骤，提高了操作的安全性和稳定性，同时，操作简单方便，也大大提高了连接的工作效率。
1.一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其特征在于，包括：柜体和接头安装件，所述柜体设有容纳腔，所述柜体的侧壁设有连通外界和所述容纳腔的第一开口，所述接头安装件连接在所述第一开口处，且所述接头安装件至少封闭所述第一开口，所述接头安装件设有至少一个接头安装口，所述接头安装口与所述第一开口连通。
2.根据权利要求1所述一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其特征在于：所述接头安装件设有相对的第一端面和第二端面，所述第一端面设有第一连接部，所述柜体在所述第一开口处设有第二连接部，所述第一连接部和所述第二连接部连接，所述第一端面至少用于封闭所述第一开口，所述第二端面上形成有贯通所述第一端面和所述第二端面的所述接头安装口。
3.根据权利要求2所述一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其特征在于：所述第一连接部包括设置在所述第一端面两侧的连接凸起，所述第二连接部包括设置在所述第一开口相应位置两侧的连接凹槽，所述连接凸起与所述连接凹槽插接。
4.根据权利要求3所述一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其特征在于：所述第一端面四周设有弹性密封条，当所述第一连接部和所述第二连接部连接时，所述弹性密封条置于所述第一开口的外周边缘。
5.根据权利要求1所述一种半导体设备测试用电气控制柜结构，其特征在于：所述柜体设有与所述容纳腔连通的第二开口，所述柜体一侧边铰接有第一柜门，所述第一柜门活动封闭或开启所述第二开口，所述第一柜门上设有观察窗。
6.一种电气控制柜，其特征在于，包括：电气元件模块、调压模块、接头模块、多个导线和权利要求1-5中任一项所述的一种半导体设备测试用电气控制柜结构，所述电气元件模块和所述调压模块均设置在所述容纳腔，所述接头模块设置在所述接头安装口，所述接头模块和所述调压模块分别通过所述导线与所述电气元件模块连接，所述调压模块至少用于将外部输入电压调节到预定的电压值再输入到所述电气元件模块。
7.根据权利要求6所述一种电气控制柜，其特征在于：所述接头模块包括插接式连接器和防尘罩，所述插接式连接器设置在所述接头安装口上，所述防尘罩包裹所述插接式连接器。
8.根据权利要求6所述一种电气控制柜，其特征在于：所述柜体包括相连接的侧边柜和主柜，所述主柜设有第一内腔，所述侧边柜设有第二内腔，所述第一内腔和所述第二内腔相连通并形成所述容纳腔的一部分，所述第一开口设置在所述主柜上且所述第一开口与所述第一内腔连通，所述电气元件模块设置在所述第一内腔，所述调压模块设置在所述第二内腔。
9.根据权利要求8所述一种电气控制柜，其特征在于：所述侧边柜包括与所述第二内腔连通第三开口，所述侧边柜一侧活动连接有第二柜门，所述第二柜门移动封闭或开启所述第三开口。
10.根据权利要求8所述一种电气控制柜，其特征在于：所述侧边柜的外表面设有多个均匀分布的通气孔，所述通气孔与所述第二内腔连通。
