一种边界扫描JTAG拓展卡的制作方法

专利2025-10-21  6


本技术涉及边界扫描测试相关,具体为一种边界扫描jtag拓展卡。


背景技术:

1、随着工程复杂度的增加,不同的被测板内部存在着许多支持jtag协议的芯片,通常cpu、cpld、fpga、bmc、arm及pch等芯片都支持jtag协议,称它们为边界扫描芯片,这些芯片集成在被测板上,需要对它们进行边界扫描测试,不同边界扫描芯片按照芯片类型会组成多条被测链,每一条被测链通过针点或连接器对接的方式引出一个jtag连接器,每个jtag连接器需要与控制器的tap对接,完成边界扫描测。而目前还没有专门针对边界扫描芯片的检测用的拓展卡,因此提供一种边界扫描jtag拓展卡成为行业内亟待解决问题。


技术实现思路

1、为解决现有技术存在目前还没有专门针对边界扫描芯片的检测用的拓展卡的缺陷,本实用新型提供一种边界扫描jtag拓展卡。

2、为了解决上述技术问题,本实用新型提供了如下的技术方案:

3、本实用新型一种边界扫描jtag拓展卡,包括总接口,一级模拟开关、两个二级模拟开关,且所述总接口上设有dac1和dac2两路信号通道,且总接口与一级模拟开关连接,且总接口上的dac1信号通道与一级模拟开关连接,且两个所述二级模拟开关均与一级模拟开关连接,且总接口上的dac2信号通道与一级模拟开关连接;且每个二级模拟开关上经独立的电平转换模块连接多个tap接口。

4、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述总接口上设有与边界扫描控制器连接的tck、tms、tdo、tdi信号接口。

5、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述一级模拟开关设有与tck_a、tms_a、tdi_a、tdo_a、tck_b、tms_b、tdi_b和tdo_b信号接口,且tck_a、tms_a、tdi_a、tdo_a信号接口与其中一个二级模拟开关连接,且tck_b、tms_b、tdi_b和tdo_b信号接口与最后一个二级模拟开关连接。

6、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述电平转换模块采用的是pi4gtl2014lex驱动芯片。

7、作为本实用新型的一种优选技术方案,每个所述二级模拟开关上均设有两组信号接口,且每组信号接口均经独立的电平转换模块连接一个tap接口。

8、本实用新型的有益效果是:

9、该种边界扫描jtag拓展卡中通过dac信号选通模拟开关依次切通各个tap口与被测板不同被测链的jtag连接器连接,完成被测板的边界扫描测试;可以灵活将控制器的一个接口切通到不同的tap口,并且不同的tap口的电平可以设置,满足被测板上不同被测链的电平要求。



技术特征:

1.一种边界扫描jtag拓展卡,其特征在于,包括总接口(1),一级模拟开关(2)、两个二级模拟开关(3),且所述总接口(1)上设有dac1和dac2两路信号通道,且总接口(1)与一级模拟开关(2)连接,且总接口(1)上的dac1信号通道与一级模拟开关(2)连接,且两个所述二级模拟开关(3)均与一级模拟开关(2)连接,且总接口(1)上的dac2信号通道与一级模拟开关(2)连接;且每个二级模拟开关(3)上经独立的电平转换模块(4)连接多个tap接口(5)。

2.根据权利要求1所述的一种边界扫描jtag拓展卡,其特征在于,所述总接口(1)上设有与边界扫描控制器连接的tck、tms、tdo、tdi信号接口。

3.根据权利要求1所述的一种边界扫描jtag拓展卡,其特征在于,所述一级模拟开关(2)设有与tck_a、tms_a、tdi_a、tdo_a、tck_b、tms_b、tdi_b和tdo_b信号接口,且tck_a、tms_a、tdi_a、tdo_a信号接口与其中一个二级模拟开关(3)连接,且tck_b、tms_b、tdi_b和tdo_b信号接口与最后一个二级模拟开关(3)连接。

4.根据权利要求1所述的一种边界扫描jtag拓展卡,其特征在于,所述电平转换模块(4)采用的是pi4gtl2014lex驱动芯片。

5.根据权利要求1所述的一种边界扫描jtag拓展卡,其特征在于,每个所述二级模拟开关(3)上均设有两组信号接口,且每组信号接口均经独立的电平转换模块(4)连接一个tap接口。


技术总结
本技术公开了一种边界扫描JTAG拓展卡,包括总接口,一级模拟开关、两个二级模拟开关,且所述总接口上设有DAC1和DAC2两路信号通道,且总接口与一级模拟开关连接,且总接口上的DAC1信号通道与一级模拟开关连接,且两个所述二级模拟开关均与一级模拟开关连接,且总接口上的DAC2信号通道与一级模拟开关连接;且每个二级模拟开关上经独立的电平转换模块连接多个TAP接口;本技术通过DAC信号选通模拟开关依次切通各个TAP口与被测板不同被测链的JTAG连接器连接,完成被测板的边界扫描测试;可以灵活将控制器的一个接口切通到不同的TAP口,并且不同的TAP口的电平可以设置,满足被测板上不同被测链的电平要求。

技术研发人员:梅燃燃,梅浩,袁承范,孙德滔,杨丹,杨进林,吴洪升,袁敏康,蔡西旭,罗海波
受保护的技术使用者:深圳市微特精密科技股份有限公司
技术研发日:20230926
技术公布日:2024/6/26
转载请注明原文地址:https://doc.8miu.com/read-1824239.html

最新回复(0)