本申请涉及电压检测，更具体地，涉及一种电压过零点的检测方法、装置、检测电路及存储介质。
背景技术：
1、交流电压(例如，市电电压)的过零点是指电压值为零的时刻。电器设备通过对过零点进行检测，并在过零点时断开内部电路和市电电压之间的回路，能够最大程度上抑制了电弧的产生，保证了电器设备的硬件安全。
2、在相关技术中，对市电电压的过零点检测往往需要在检测电路中添加单向光耦、开关晶体管等电子元器件。具体地，可以通过市电电压去驱动单向光耦，再根据单向光耦的导通情况驱动开关晶体管，从而产生一个方波信号，最后控制器根据检测电路产生的方波信号中高低电平的切换时刻确定市电电压的过零点。
3、因此，一旦控制器接收到的方波信号受到干扰，则会导致控制器无法准确检测出过零点。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种电压过零点的检测方法、装置、检测电路及存储介质。
2、第一方面，本申请一些实施例提供一种电压过零点的检测方法。该方法包括：获取电压采样值，电压采样值是对目标电压经过整流操作和采样操作后得到的电压值；获取第一指定阈值，第一指定阈值是基于上一个确定的过零点时刻对应的第二指定阈值确定的；基于电压采样值和第一指定阈值的比较结果，确定目标电压的过零点时刻。
3、第二方面，本申请一些实施例提供一种电压过零点的检测装置。该装置包括第一获取模块、第二获取模块和确定模块。其中，第一获取模块用于获取电压采样值，电压采样值是对目标电压经过整流操作和采样操作后得到的电压值；第二获取模块用于获取第一指定阈值，第一指定阈值是基于上一个确定的过零点时刻对应的第二指定阈值确定的；确定模块用于基于电压采样值和第一指定阈值的比较结果，确定目标电压的过零点时刻。
4、第三方面，本申请一些实施例还提供一种检测电路，该检测电路包括整流模块、采样模块和控制模块。其中，控制模块包括一个或多个处理器、存储器以及一个或多个应用程序。一个或多个应用程序被存储在存储器中并被配置为由一个或多个处理器执行，并被配置用于执行上述的方法。
5、第四方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令。其中，计算机程序指令可被处理器调用执行上述的方法。
6、第五方面，本申请实施例还提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品被执行时，实现上述的方法。
7、本申请提供了一种电压过零点的检测方法、装置、检测电路及存储介质。该方法通过获取目标电压经过整流操作和采样操作后得到的电压采样值，并基于该电压采样值和第一指定阈值的比较结果，确定目标电压的过零点时刻。例如，当电压采样值小于第一指定阈值的情况下，此时说明该电压采样值接近0v，控制模块则可以将电压采样值对应的采样时刻确定为过零点时刻。在本申请中，控制模块接收到的是经过采样操作后的电压采样值，也即，数字信号，可以避免方波信号(也即，模拟信号)出现的信号干扰问题，提高了过零点检测的准确性。此外，该方法中的第一指定阈值是基于上一个确定的过零点时刻对应的第二指定阈值确定的，也即，第一指定阈值可以基于历史检测数据进行动态调整，使得过零点的检测更加准确合理。
1.一种电压过零点的检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压采样值包括目标采样时刻的第一电压采样值，以及所述目标采样时刻的上一采样时刻的第二电压采样值；所述基于所述电压采样值和所述第一指定阈值的比较结果，确定所述目标电压的过零点时刻，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电压采样值还包括所述目标采样时刻的下一采样时刻的第三电压采样值；所述在所述第一电压采样值小于所述第一指定阈值，且所述第二电压采样值大于或等于所述第一指定阈值的情况下，基于所述目标采样时刻确定所述过零点时刻，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述第一电压采样值小于所述第一指定阈值，且所述第二电压采样值大于或等于所述第一指定阈值的情况下，基于所述目标采样时刻确定所述过零点时刻，包括：
5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述获取第一指定阈值，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述差值和所述第二指定阈值，确定所述第一指定阈值，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述差值和所述第二指定阈值，确定所述第一指定阈值，包括：
8.一种电压过零点的检测装置，其特征在于，包括：
9.一种检测电路，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令可被处理器调用执行如权利要求1-7任意一项所述的方法。
