本技术涉及计算机，具体而言，涉及一种电容测试装置、方法、电子设备和存储介质。
背景技术：
1、为了防止浪涌和突然关机对服务器造成损害，通常会在服务器核心部位设置超级电容予以保护。针对服务器部件保护要求的不同，往往会选择不同电压等级、不同放电电流的超级电容。超级电容在完成生产出厂前必须通过相关的测试，测试合格才能出货并应用于服务器等设备中。
2、超级电容一般会经过充电测试、恒流放电测试、平衡测试等，但针对不同产品型号的超级电容，所使用的测试方案也会有很大差异，通常需要针对不同测试方案选用不同的测试装置，这需要消耗大量的人力物力，且这些测试装置的利用率较低，使得超级电容的测试过程繁琐，测试效率低。
3、因此，如何提高超级电容的测试效率成为业界亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本技术提供一种电容测试装置、方法、电子设备和存储介质，用于解决如何提高超级电容的测试效率的技术问题。
2、本技术提供一种电容测试装置，包括：
3、电容接口模块，与多个待测试电容连接，用于获取各个待测试电容的元件参数；
4、控制模块，与所述电容接口模块连接，用于基于各个待测试电容的元件参数，确定各个待测试电容的充电电压等级；基于各个待测试电容的充电电压等级，确定电压控制信号和电容选择信号；
5、供电模块，与所述控制模块连接，用于基于所述电压控制信号，生成多个充电电压等级对应的充电电流；
6、充电适配模块，与所述控制模块、所述供电模块和所述电容接口模块连接，用于基于电容选择信号，将所述多个充电电压等级对应的充电电流传输至对应的待测试电容。
7、在一些实施例中，所述供电模块包括：
8、电压控制子模块，用于基于所述电压控制信号，确定各个充电电压等级对应的调节电阻值；
9、电压转换子模块，用于基于所述调节电阻值，对输入电压进行电压转换，生成各个充电电压等级对应的充电电流。
10、在一些实施例中，所述电压控制子模块包括第一电阻、第一电容、第二电阻和至少一个调节电阻支路；
11、所述第一电阻的第一端与所述电压转换子模块的基准电压输出端连接，第二端与接地端连接；
12、所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第一端连接，第二端与所述第一电阻的第二端连接；
13、所述第二电阻的第一端与所述电压转换子模块的充电电流输出端连接，第二端与所述第一电阻的第一端连接；
14、所述调节电阻支路的第一端与所述第一电阻的第一端连接，第二端与所述第一电阻的第二端连接；
15、其中，所述调节电阻支路的数量是基于所述充电电压等级的数量确定的。
16、在一些实施例中，所述调节电阻支路包括第三电阻、场效应管和第四电阻；
17、所述第三电阻的第一端与所述第一电阻的第一端连接，第二端与所述场效应管的漏极连接；
18、所述场效应管的源极与所述第一电阻的第二端连接，栅极与所述第四电阻的第一端连接；
19、所述第四电阻的第二端与所述控制模块的电压控制信号输出端连接。
20、在一些实施例中，所述供电模块还包括：
21、充电电压监测子模块，用于在将各个充电电压等级对应的充电电流传输至对应的待测试电容的情况下，获取所述对应的待测试电容的实时充电电压。
22、在一些实施例中，所述充电电压监测子模块包括第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻和运算放大器；
23、所述第五电阻的第一端与所述电压转换子模块的充电电流输出端连接，第二端与所述第六电阻的第一端连接；
24、所述第六电阻的第二端与接地端连接；
25、所述运算放大器的同相输入端与所述第五电阻的第二端连接，反相输入端与所述第八电阻的第一端连接，输出端与所述第七电阻的第一端和所述第八电阻的第二端连接；
26、所述第七电阻的第二端与所述控制模块的实时电压输入端连接。
27、在一些实施例中，所述供电模块还包括：
28、充电电流监测子模块，用于在将各个充电电压等级对应的充电电流传输至对应的待测试电容的情况下，获取所述对应的待测试电容的实时充电电流。
29、在一些实施例中，所述充电电流监测子模块包括第九电阻、电流监测单元、第十电阻、第十一电阻和第二电容；
30、所述第九电阻串联在所述电压转换子模块的充电电流输出支路中；
31、所述电流监测单元的第一输入端与所述第九电阻的第一端连接，第二输入端与所述第九电阻的第二端连接，输出端与所述第十电阻的第一端连接，电源输入端与工作电源和所述第二电容的第一端连接；
32、所述第十电阻的第二端与所述控制模块的实时电流输入端和所述第十一电阻的第一端连接；
33、所述第十一电阻的第二端与接地端连接；
34、所述第二电容的第二端与接地端连接。
35、在一些实施例中，所述电容接口模块包括多个电容连接端子排；
36、所述电容连接端子排的第一端连接待测试电容的正极，第二端连接所述待测试电容的负极，第三端连接所述待测试电容的总线时钟信号端，第四端连接所述待测试电容的总线数据信号端，第五端连接所述待测试电容的使能端，第六端连接所述待测试电容的阻值反馈端。
37、在一些实施例中，所述装置还包括：
38、放电适配模块，与所述控制模块和所述电容接口模块连接，用于基于放电选择信号，生成各个待测试电容对应的放电电路的导通信号；
39、其中，所述放电选择信号是所述控制模块基于各个待测试电容的放电测试项目确定的。
40、在一些实施例中，所述装置还包括：
41、放电模块，与所述放电适配模块连接，用于基于各个待测试电容对应的放电电路的导通信号，对各个待测试电容进行放电测试；
42、其中，所述放电模块包括多个并行设置的放电电路；各个放电电路的放电电流均不相同。
43、在一些实施例中，所述放电适配模块还包括：
44、放电电压监测子模块，用于在对各个待测试电容进行放电的情况下，获取各个待测试电容的实时放电电压；
45、放电电流监测子模块，用于在对各个待测试电容进行放电的情况下，获取各个待测试电容的实时放电电流。
46、在一些实施例中，所述装置还包括：
47、显示模块，与所述控制模块连接，用于显示各个待测试电容的测试状态。
48、在一些实施例中，所述装置还包括：
49、测试接口模块，与所述控制模块连接，用于在测试主机和所述控制模块之间实现数据交互。
50、本技术提供一种电容测试方法，应用于所述的电容测试装置中的控制模块，包括：
51、在检测到待测试电容接入电容接口模块的情况下，获取所述待测试电容的元件参数；
52、基于所述待测试电容的元件参数，确定所述待测试电容的产品型号；
53、基于所述待测试电容的产品型号，确定所述待测试电容的充电电压等级；
54、基于所述待测试电容的充电电压等级，确定所述电压控制信号和电容选择信号；
55、其中，所述电压控制信号用于控制所述电容测试装置中的供电模块生成所述充电电压等级对应的充电电流；所述电容选择信号用于控制所述电容测试装置中的充电适配模块将所述充电电压等级对应的充电电流传输至所述待测试电容。
56、在一些实施例中，所述方法还包括：
57、获取供电模块发送的所述待测试电容的实时充电电压；
58、在所述实时充电电压满足设定充电电压的情况下，确定所述待测试电容的充电累计时长；
59、基于所述充电累计时长，以及设定充电时长，确定所述待测试电容的充电测试结果；
60、其中，所述设定充电电压和所述设定充电时长是基于所述待测试电容的产品型号确定的。
61、在一些实施例中，所述方法还包括：
62、基于所述待测试电容的产品型号，确定所述待测试电容的放电测试项目；
63、基于所述待测试电容的放电测试项目，生成放电选择信号；
64、其中，所述放电选择信号用于控制所述电容测试装置中的放电适配模块在放电模块中选择导通对应的放电电路，对所述待测试电容进行放电测试。
65、在一些实施例中，所述方法还包括：
66、基于各个待测试电容的充电测试结果和放电测试结果，生成测试日志。
67、本技术提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现所述的电容测试方法。
68、本技术提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的电容测试方法。
69、本技术提供的电容测试装置、方法、电子设备和存储介质，包括电容接口模块、控制模块、供电模块和充电适配模块，电容接口模块获取各个待测试电容的元件参数；控制模块基于各个待测试电容的元件参数，确定各个待测试电容的产品型号；基于各个待测试电容的产品型号，确定各个待测试电容的充电电压等级；基于各个待测试电容的充电电压等级，确定电压控制信号和电容选择信号；供电模块基于电压控制信号，生成多个充电电压等级对应的充电电流；充电适配模块基于电容选择信号，将多个充电电压等级对应的充电电流传输至对应的待测试电容；由于实现了自动检测连接的待测试电容的元件参数，根据元件参数自动确定待测试电容的产品型号，根据产品型号自动生成具有对应充电电压等级的充电电流并传输至电容进行充电，能够自动适配不同型号的超级电容充电测试要求，实现了超级电容测试过程的自动化，提高了超级电容的测试效率。
1.一种电容测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于，所述电压控制子模块包括第一电阻、第一电容、第二电阻和至少一个调节电阻支路；
3.根据权利要求2所述的电容测试装置，其特征在于，所述调节电阻支路包括第三电阻、场效应管和第四电阻；
4.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于，所述供电模块还包括：
5.根据权利要求4所述的电容测试装置，其特征在于，所述充电电压监测子模块包括第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻和运算放大器；
6.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于，所述供电模块还包括：
7.根据权利要求6所述的电容测试装置，其特征在于，所述充电电流监测子模块包括第九电阻、电流监测单元、第十电阻、第十一电阻和第二电容；
8.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于，所述电容接口模块包括多个电容连接端子排；
9.根据权利要求1所述的电容测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
10.根据权利要求9所述的电容测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
11.根据权利要求9所述的电容测试装置，其特征在于，所述放电适配模块还包括：
12.根据权利要求9所述的电容测试装置，其特征在于，所述放电适配模块还包括：
13.根据权利要求1至12任一项所述的电容测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
14.根据权利要求1至12任一项所述的电容测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
15.一种电容测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至14任一项所述的电容测试装置中的控制模块，包括：
16.根据权利要求15所述的电容测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
17.根据权利要求16所述的电容测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
18.根据权利要求17所述的电容测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
19.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求15至18任一项所述的电容测试方法。
20.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求15至18任一项所述的电容测试方法。
