一种电路板误测判定方法、装置、电子设备及存储介质与流程

专利2026-08-05  11


本发明涉及器件缺陷检测,尤其涉及一种电路板误测判定方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术:

1、随着制造业招工困难、成本高等因素,各制造工厂逐步导入智能自动化生产线,由机械手等智能设备取代原有人工作业,ict导入机械手上下料,但因单台ict治具探针多达2000多支,正常ndf(误测)率为25%,导入自动化之前出现的ndf由作业员隔离再送到维修判定,但导入机械手后ndf板需要由机械手取到不良品框,因一个不良品框只能收集10pcs板,收集满后设备即停止,需要人工将板取出才能继续生产,影响效率。

2、因此,急需一种能够实现自动比对、减少维修判定工时、提升效率的电路板误测判定方法。


技术实现思路

1、本发明各实施例提供一种电路板误测判定方法、装置、电子设备及存储介质,以解决相关技术需要人工作业,效率低,自动化程度低的问题。所述技术方案如下:

2、根据本发明的一个方面,一种电路板误测判定方法,所述方法包括:获取待测试电路板;通过sfis程序对所述待测试电路板分别进行两次ict测试和mda测试,得到第一次结果和第二次结果;若所述第一次结果和第二次结果不同,且第二次结果的日志在第一次结果中不存在,则直接判定所述待测试电路板为误测板,结束测试;若所述第一次结果和第二次结果相同,则判定所述待测试电路板为需问题板,对所述问题板进行维修。

3、在其中一个实施例中,对所述待测试电路板分别进行两次ict测试和mda测试,得到第一次结果和第二次结果通过以下步骤实现:对所述待测试电路板分别进行两次ict测试和mda测试,分别得到第一次ict测试结果、第一次mda测试结果、第二次ict测试结果和第二次mda测试结果。

4、在其中一个实施例中,所述对所述待测试电路板进行ict测试得到所述待测试电路板的开路、短路和零件不良的情况,将所述待测试电路板的开路、短路和零件不良的情况,以及对应的测试针号和零件位置记录在日志中。

5、在其中一个实施例中,当所述ict测试和mda测试失败时,生成一个日志数据,所述日志数据中包含机种名、序列号、时间和不良现象。

6、在其中一个实施例中,第一次测试失败和第二次测试失败时,所述sfis程序均会保存前500个字节的不良数据。

7、根据本发明的一个方面,一种电路板误测判定装置,所述装置包括:电路板获取模块,用于获取待测试电路板;电路板测试模块,用于通过sfis程序对所述待测试电路板分别进行两次ict测试和mda测试,得到第一次结果和第二次结果;误测判断模块,用于在所述第一次结果和第二次结果不同,且第二次结果的日志在第一次结果中不存在时,直接判定所述待测试电路板为误测板,结束测试;维修判断模块,用于在所述第一次结果和第二次结果相同时,判定所述待测试电路板为需问题板,对所述问题板进行维修。

8、根据本发明的一个方面,一种电子设备,包括至少一个处理器以及至少一个存储器,其中,所述存储器上存储有计算机可读指令;所述计算机可读指令被一个或多个所述处理器执行,使得电子设备实现如上所述的电路板误测判定方法。

9、根据本发明的一个方面,一种存储介质,其上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被一个或多个处理器执行,以实现如上所述的电路板误测判定方法。

10、本发明提供的技术方案带来的有益效果是:

11、在上述技术方案中,本发明通过首先获取待测试电路板,然后通过sfis程序对所述待测试电路板分别进行两次ict测试和mda测试,得到第一次结果和第二次结果,若所述第一次结果和第二次结果不同,且第二次结果的日志在第一次结果中不存在,则直接判定所述待测试电路板为误测板,结束测试,若所述第一次结果和第二次结果相同,则判定所述待测试电路板为需问题板,对所述问题板进行维修,将ict测试不良日志上传到sfis自动比对,不仅可以减少维修判定工时,还能避免因自动化生产线停线,提升效率,从而能够有效地解决相关技术中存在的需要人工作业,效率低,自动化程度低的问题。



技术特征:

1.一种电路板误测判定方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的一种电路板误测判定方法,其特征在于,所述对所述待测试电路板分别进行两次i ct测试和mda测试,得到第一次结果和第二次结果,包括:

3.如权利要求1所述的一种电路板误测判定方法,其特征在于,所述对所述待测试电路板进行i ct测试得到所述待测试电路板的开路、短路和零件不良的情况,将所述待测试电路板的开路、短路和零件不良的情况,以及对应的测试针号和零件位置记录在日志中。

4.如权利要求3所述的一种电路板误测判定方法,其特征在于,当所述i ct测试和mda测试失败时,生成一个日志数据,所述日志数据中包含机种名、序列号、时间和不良现象。

5.如权利要求1所述的一种电路板误测判定方法,其特征在于,第一次测试失败和第二次测试失败时,所述sf i s程序均会保存前500个字节的不良数据。

6.一种电路板误测判定装置,其特征在于,所述装置包括:

7.一种电子设备,其特征在于,包括:至少一个处理器以及至少一个存储器,其中,

8.一种存储介质,其上存储有计算机可读指令,其特征在于,所述计算机可读指令被一个或多个处理器执行,以实现如权利要求1至5中任一项所述的电路板误测判定方法。


技术总结
本发明实施例公开了一种电路板误测判定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及器件缺陷检测技术领域,其中,所述方法包括:获取待测试电路板;通过SFIS程序对所述待测试电路板分别进行两次ICT测试和MDA测试,得到第一次结果和第二次结果;若所述第一次结果和第二次结果不同,且第二次结果的日志在第一次结果中不存在,则直接判定所述待测试电路板为误测板,结束测试;若所述第一次结果和第二次结果相同,则判定所述待测试电路板为需问题板,对所述问题板进行维修。本发明解决了现有技术存在的导入机械手后NDF板需要由机械手收到不良品框,因一个不良品框只能收集10PCS板,收集满后设备即停止,需要人工将板取出才能继续生产,影响效率的问题。

技术研发人员:李银亮,张厅,王辉
受保护的技术使用者:兴英数位科技(深圳)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/6/26
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