一种陶瓷晶片极化测试夹具的制作方法

专利2026-09-30  3


本技术涉及陶瓷晶片极化测试,特别涉及一种陶瓷晶片极化测试夹具。


背景技术:

1、圆形或环形陶瓷晶片极化测量,因产品外观多样化。极化和测量温度范围要求从环境温度到160度不等,极化电压范围ac500~1500v,普通极化夹具测试单一,多区域陶瓷晶片需单区重复极化和测量,无法满足技术和生产要求,为解决生产极化和测量工序瓶颈,并符合我司实际使用需求,着手研制一套多区域同步一次极化夹具,以满足生产性能测试。

2、随着公司生产经营扩大,销货量大幅提升,原有工艺已无法满足如今的生产经营能力。公司领导2023年初提出对陶瓷晶片极化测试架更新替换计划。在成本合理可控的范围内,自行设计一套极化测量夹具。希望能达到使用方便、操作易懂,为公司生产经营起到良好的保障作用。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种陶瓷晶片极化测试夹具,针对陶瓷晶片极化测试,依托机械结构设计、可调定制模具,并具有耐高压、耐高温特性,满足圆形或环形多区陶瓷晶片的高温极化和测量。

2、为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种陶瓷晶片极化测试夹具,包括:定位架、下压板和测试探针;所述定位架的上端弹性滑动连接有所述下压板,所述下压板的底部左右两侧可拆卸安装有两个所述测试探针;

3、其中所述测试探针包括:连接头和接触探针;所述连接头上周向设有多个正/负极区域,所述多个正/负极区域的输入端通过耐高温绝缘导线连接至正/负接线端,输出端插接导通有所述接触探针;

4、所述定位架的定位板上开设有两个定位槽,用于放置环形或圆形多极性区域的待测陶瓷晶片。

5、优选的,所述定位架包括:定位板、挡板、导向销和弹簧;所述定位板的顶部左右两侧可拆卸锁紧有所述挡板,所述挡板的顶部前后两端对称设有所述导向销,所述导向销上滑动套设有所述下压板,所述下压板和所述挡板之间抵接有所述弹簧,且所述弹簧套设于所述导向销上。

6、优选的,还包括按压锁紧件,所述按压锁紧件包括:固定块、竖杆和转动扳手;左右两侧所述挡板的外侧壁中部设有所述固定块,所述固定块上设有所述竖杆,所述竖杆的上端通过连接销螺纹连接有所述转动扳手,所述转动扳手的下压部为偏心轮结构,使其下压部始终与所述下压板的顶部保持抵接。

7、优选的,所述下压板的顶部还包括设置的正/负接线端。

8、优选的,所述连接头的顶部还包括设置的插接块,所述下压板的底部左右两侧对称开设有插接槽,通过所述插接块与所述插接槽相插接配合,实现对所述连接头与所述下压板的可拆卸安装。

9、优选的,所述定位槽为u型槽结构。

10、优选的,所述定位板和所述连接头的规格设有多套,用于配合不同外形大小的环形或圆形多极性区域的待测陶瓷晶片。

11、本实用新型与现有技术相比,具有如下有益效果:

12、本实用新型解决了原有极化工装操作时只可对单晶片单区极化,对于环形或圆形多极性区域的晶片,需重复多次高温极化,并且计划后性能参数一致性不高,一次成品率低的问题。且此次改进后的夹具可根据产品外形大小,更换定位板和连接头快速切换,连接头为配合测量陶瓷片大小定制配合使用,针对测试区域安装接触探针,各正负极区域通过耐高温绝缘导线连接至输入端口,满足圆形或环形多区陶瓷晶片的高温极化和测量。



技术特征:

1.一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,包括:定位架、下压板(2)和测试探针;所述定位架的上端弹性滑动连接有所述下压板(2),所述下压板(2)的底部左右两侧可拆卸安装有两个所述测试探针;

2.如权利要求1所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,所述定位架包括:定位板(11)、挡板(12)、导向销(13)和弹簧(14);所述定位板(11)的顶部左右两侧可拆卸锁紧有所述挡板(12),所述挡板(12)的顶部前后两端对称设有所述导向销(13),所述导向销(13)上滑动套设有所述下压板(2),所述下压板(2)和所述挡板(12)之间抵接有所述弹簧(14),且所述弹簧(14)套设于所述导向销(13)上。

3.如权利要求2所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,还包括按压锁紧件,所述按压锁紧件包括:固定块(41)、竖杆(42)和转动扳手(43);左右两侧所述挡板(12)的外侧壁中部设有所述固定块(41),所述固定块(41)上设有所述竖杆(42),所述竖杆(42)的上端通过连接销螺纹连接有所述转动扳手(43),所述转动扳手(43)的下压部为偏心轮结构,使其下压部始终与所述下压板(2)的顶部保持抵接。

4.如权利要求1所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,所述下压板(2)的顶部还包括设置的正/负接线端(5)。

5.如权利要求1所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,所述连接头(31)的顶部还包括设置的插接块(33),所述下压板(2)的底部左右两侧对称开设有插接槽,通过所述插接块(33)与所述插接槽相插接配合,实现对所述连接头(31)与所述下压板(2)的可拆卸安装。

6.如权利要求1所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,所述定位槽(15)为u型槽结构。

7.如权利要求1-6任一项所述的一种陶瓷晶片极化测试夹具,其特征在于,所述定位板(11)和所述连接头(31)的规格设有多套,用于配合不同外形大小的环形或圆形多极性区域的待测陶瓷晶片(6)。


技术总结
本技术涉及陶瓷晶片极化测试技术领域,特别涉及一种陶瓷晶片极化测试夹具。包括:定位架、下压板和测试探针;所述定位架的上端弹性滑动连接有所述下压板,所述下压板的底部左右两侧可拆卸安装有两个所述测试探针;其中所述测试探针包括:连接头和接触探针;所述连接头上周向设有多个正/负极区域,所述多个正/负极区域的输入端通过耐高温绝缘导线连接至正/负接线端,输出端插接导通有所述接触探针。针对测试区域安装接触探针,各正负极区域通过耐高温绝缘导线连接至输入端口,满足圆形或环形多区陶瓷晶片的高温极化和测量。

技术研发人员:杨一
受保护的技术使用者:海鹰企业集团有限责任公司
技术研发日:20231019
技术公布日:2024/6/26
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