1.本发明属于光学薄膜滤光片技术领域,具体涉及一种深紫外滤光片及其设计方法。
背景技术:
2.近年来,紫外线(波长200nm
‑
400nm)一直被用于各种环境中的消菌杀毒。在医院、诊所里,用紫外线泛光灯对空气和水平表面进行消毒,或对医疗器械的托盘进行消毒;在工厂、办公室和家庭中也使用紫外线泛光对空气和表面进行杀毒。但是目前紫外线消菌杀毒的时候不能有人在场的情况下安全地进行,这限制了紫外线消菌杀毒在病毒大流行等情况下的有效性。
3.波长220nm的紫外线无法穿透人体皮肤角质层,对人体无害,且具有与传统紫外线灯同等的杀菌效果。研究成果表明,220nm具有强力的杀菌力,而且可直接照射于人体皮肤。今后,有望以医疗现场的手指消毒为首,向学校、护理设施、食品工厂、洗手间及厨房等人会进入的场所广泛扩大用途,对这些场所进行杀菌和病毒灭活,今后在医疗及非医疗领域的杀菌和消毒应用潜力非常大。
4.因此,如果可以研制出一种用于对人体无害的220nm波长紫外线消毒杀菌仪器中的深紫外滤光片,将大大提高深紫外杀毒效率,很好地解决有人在场的消菌杀毒的安全问题,开拓科研领域,服务于医务工作和日常生活,其市场前景也将会很可观。
技术实现要素:
5.本发明在于提供一种深紫外滤光片及其设计方法,能够用于紫外线消毒杀菌仪器中紫外光源特定光谱的捕捉,利于解决有人在场的消菌杀毒的安全问题。
6.为解决上述技术问题,本发明提出了一种深紫外滤光片,该滤光片的初始结构为:sub/m a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h/air,其中sub表示基板,h和l分别表示光学厚度为λ/4的高低折射率材料膜层,a、b、x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7分别为h和l层的系数,m和n分别为周期膜层hl的周期数,m为应力调节膜层。
7.本发明还提出了一种深紫外滤光片的设计方法,该设计方法包括如下步骤:
8.确定所述滤光片的基本结构:滤光片膜组 基板,其中滤光片膜组包括一个膜层应力调节层,两个高低折射率材料组合的规整周期膜层,一个高低折射率材料组合的非规整周期膜层;
9.选择膜系结构所用基板材料sub,高折射率材料h和低折射材料l,应力调节层材料m;
10.深紫外滤光片初始结构按照下式进行设计:
11.sub/m a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h/air
12.其中a、b、x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7分别为h和l层的系数,具体数值与材料折射率相关,系数a和b范围在0.5
‑
2之间,系数x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7范围在0.3
‑
3之间,m和n分别为
高低折射率材料膜堆的周期数,数值在10
‑
18之间,m为应力调节层,其厚度为a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h膜堆厚度的1/3~1/2;
13.将所述的基板、应力调节层和滤光片膜堆组合在一起,确定滤光片的滤光效果,获得完整的深紫外滤光片。
14.进一步地,所述的基板包括arf 0f级熔石英、紫外级熔石英或caf2;所述的高折射膜层材料为al2o3或laf3,所述低折射率膜层所用材料为:mgf2或alf3;所述应力调节膜层的材料为sio2。
15.本发明制备的深紫外滤光片,能够用于紫外线消毒杀菌仪器中紫外光源特定光谱的捕捉,利于解决有人在场的消菌杀毒的安全问题。另外在理论上为镀膜提供理论指导,有利于产品批量生产。
附图说明
16.下面参照附图结合实例对本发明做进一步地说明。
17.图1为本发明深紫外滤光片的结构示意图。
18.图2为本发明深紫外滤光片的设计透过率曲线。
19.图3为本发明实施例1的深紫外滤光片的实测透过率曲线。
具体实施方式
20.为使本发明的目的、内容和优点更加清楚,下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
21.实施例1
22.一种深紫外滤光片的设计方法,包含以下步骤:
23.确定所述深紫外滤光片的基本结构如图1所示:基板上镀制膜层应力调节层,再在该层上镀制滤光片膜堆;
24.选择设计参考波长为237nm,选择基板为arf 0f级熔石英,高折射率膜层材料为al2o3,低折射率膜层所用材料为alf3,并使用sio2作为应力调节层;
25.选择sub/m a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h/air作为滤光片膜系的初始结构,并使用选择的基板、高折射率膜层材料、低折射率膜层材料,对膜系进行相应的仿真和优化,优化设计后的膜系结构如下:
26.sub/90m 1.11(hl)
18
(hl)
15
0.94h0.92l1.07h1.01l1.37h0.99l0.93h/air
27.将滤光片膜系与基板叠加,综合评估滤光片所对应波长的透过率。
28.本发明的深紫外滤光片的设计曲线如图2所示,设计结果为:深紫外滤光片在220nm处,平均透过率大于75%,在235
‑
285nm处,平均透过率小于1%。
29.根据上述优化后的膜系镀制在arf 0f级熔石英基板上,采用电子束蒸发和电阻热蒸发镀膜工艺。
30.镀制结束后采用深紫外光谱仪进行检测,测试环境为高纯n2,透射曲线见图3。由图3可得到在220nm处,平均透射率大于75%,在235
‑
285nm处,平均透过率小于1%,即所镀制的深紫外滤光片与理论设计相符合。
31.实施例
[0032][0033]
以上所述为本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,可以做膜系调整,或者采用离子束溅射等其他镀膜工艺来实现,这调整和变形也应视为本发明的保护范围。
技术特征:
1.一种深紫外滤光片,其特征在于:该滤光片的初始结构为:sub/m a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h/air,其中sub表示基板,h和l分别表示光学厚度为λ/4的高低折射率材料膜层,a、b、x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7分别为h和l层的系数,m和n分别为周期膜层hl的周期数,m为应力调节膜层。2.根据权利要求1所述的深紫外滤光片,其特征在于:所述的基板包括arf 0f级熔石英、紫外级熔石英或caf2;所述的高折射膜层材料包括al2o3或laf3,所述低折射率膜层所用材料包括:mgf2或alf3;所述的应力调节膜层的材料为sio2。3.根据权利要求1所述的深紫外滤光片,其特征在于:周期数m和n范围在10
‑
18之间,系数a和b范围在0.5
‑
2之间,系数x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7范围在0.3
‑
3之间。4.根据权利要求1所述的深紫外滤光片,其特征在于:所述的应力调节膜层m的厚度为a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h膜堆厚度的1/3~1/2。5.一种权利要求1
‑
4任一所述的深紫外滤光片的设计方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:步骤1、选定滤光片初始结构:sub/m a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h/air,其中a、b、x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7分别为h和l层的系数的具体数值与材料折射率相关,系数a和b范围在0.5
‑
2之间,系数x1、x2、x3、x4、x5、x6和x7范围在0.3
‑
3之间,m和n分别为高低折射率材料膜堆的周期数,数值在10
‑
18之间,m为应力调节层,其厚度为a(hl)
m b(hl)
n x1hx2lx3hx4lx5hx6lx7h膜堆厚度的1/3~1/2;步骤2、选择基板sub的材料,应力调节膜层m的材料,以及高折射率材料h和低折射率材料l;步骤3、根据滤光片的技术指标要求设定优化目标参数,包括使用波长和透过率;步骤4、根据目标值进行滤光片的优化设计;步骤5、将优化好的滤光片堆叠在基板上,确定滤光片对应波长处的透过率,如果满足目标值,则完成设计,如果不满足目标值,则继续进行膜层的进一步优化直至满足目标值。6.根据权利要求5所述的深紫外滤光片的设计方法,其特征在于:波长220nm处的透过率大于75%,235
‑
285nm处的透过率平均值小于1%。7.根据权利要求5所述的深紫外滤光片的设计方法,其特征在于:所述的优化设计是在膜系设计软件tfcalc、macleod或optilayer中进行。
技术总结
本发明属于光学薄膜技术领域,具体涉及一种深紫外滤光片及设计方法,该深紫外滤光片结构为:Sub/Ma(HL)
技术研发人员:张伟丽 冯操 王建国 易葵 朱美萍 朱瑞 孙建 沈雪峰 邵建达
受保护的技术使用者:中国科学院上海光学精密机械研究所
技术研发日:2021.03.03
技术公布日:2021/6/29
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